双浅沟道隔离的外延二极管阵列的制备方法

    公开(公告)号:CN102412179B

    公开(公告)日:2013-07-17

    申请号:CN201010289920.1

    申请日:2010-09-21

    CPC classification number: H01L21/76205 H01L21/76224 H01L27/0814

    Abstract: 本发明公开了一种双浅沟道隔离的外延二极管阵列的制备方法,该方法首先在衬底上形成重掺杂的第一导电类型区域和高掺杂的第二导电类型区域,生长外延层,然后通过深沟道刻蚀形成二极管阵列字线间的隔离和垂直于深沟道方向的浅沟道刻蚀形成位线间的隔离,最后在深沟道和浅沟道隔离围成的区域通过离子注入的方法形成独立的二极管阵列单元。本发明还提出了基于上述双浅沟道隔离的外延二极管阵列的相邻字线和位线间串扰电流的抑制方法。本发明可用于二极管驱动的高密度大容量存储器,如相变存储器、电阻存储器、磁性存储器和铁电存储器等;其方法与传统的CMOS工艺完全兼容,二极管阵列在外围电路形成之前完成,其热制程不会造成外围电路的漂移,解决了实现高密度、大容量、嵌入式相变存储器的技术难题。

    纳米复合相变材料、制备方法及其在相变存储器中的应用

    公开(公告)号:CN102169958B

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN201110110342.5

    申请日:2011-04-29

    Abstract: 本发明涉及一种纳米复合相变材料及其制备方法、以及在相变存储器中的应用。其中,所述纳米复合相变材料包含:摩尔百分比为70-99%的相变材料GeTe和摩尔百分比为1-30%的介质材料HfO2。相变材料GeTe与介质材料HfO2在纳米尺度内均匀复合,一方面抑制了相变材料的结晶,提升了材料的热稳定性,改善了材料的数据保持能力;另一方面因为介质材料的参与,使得有效编程体积减小,因而减小了相变单元结晶前后的体积变化和降低了RESET电流,这有助于存储器件的操作稳定性和实现低功耗。总之,这种新型纳米复合相变材料应用到存储器中,可使相变存储器件的RESET电压降低,编程体积减小,有利于实现高密度存储,提高相变存储器的编程过程中的加热效率,降低其功耗,提升数据保持能力等。

    一种相变存储器快速读取装置及方法

    公开(公告)号:CN102013271B

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN200910195367.2

    申请日:2009-09-08

    Abstract: 一种相变存储器快速读取装置,其包括待读相变存储单元、充电电路、过冲恢复率检测电路、灵敏放大器电路以及参考电平或参考存储单元。一方面,相变存储单元(在电路上可抽象为电阻)与位线的寄生电容构成RC回路;另一方面,选通MOS管在开关瞬间由饱和区进入线性区,从而会造成过冲现象。不同状态的相变电阻,其过冲之后的恢复速率是不一样的。本方法通过读取过冲以后位线电平的恢复速率,快速的读取相变存储单元的状态,从而加快存储器整体读取速率。另外,快速的读取有助于避免读取操作对相变单元的破坏,达到降低读干扰的目的。

    用于相变存储器的相变材料

    公开(公告)号:CN103050621A

    公开(公告)日:2013-04-17

    申请号:CN201110306813.X

    申请日:2011-10-11

    Abstract: 本发明提供一种用于相变存储器的相变材料,所述相变材料由Al,Sb,Te元素组成的通式为Al100-x-ySbxTey的材料,其中,40≤x<100,y<60。本发明提供的Al-Sb-Te系列相变材料作为相变存储器中的存储介质,可以在电信号作用下实现高低阻值之间的转换。基于Al-Sb-Te系列相变材料的相变存储器在电信号的操作下,低阻阻值大于基于Ge-Sb-Te传统相变材料的器件低阻值,满足了低功耗的需求。并且Al-Sb-Te基相变存储器在循环擦写107次之后仍维持了正常的高低阻差别,体现出器件的循环使用寿命长。本发明的富Sb的Al-Sb-Te材料在结晶状态下的没有产生不稳定的Te元素分相,保障了该材料反复相变之后的均匀性,有益于提高基于该材料的相变存储器的循环操作寿命。

    一种基于新型存储器的固态硬盘内部缓存管理方法及系统

    公开(公告)号:CN103049397A

    公开(公告)日:2013-04-17

    申请号:CN201210559664.2

    申请日:2012-12-20

    Abstract: 本发明提供一种基于新型存储器的固态硬盘内部缓存管理方法及系统,所述管理系统包括SATA接口控制器、微处理器、DRAM内存、本地总线、闪存控制器、及NAND闪存,所述固态硬盘内部管理系统中还包括PCRAM缓存,所述PCRAM缓存包括数据块置换区及映射表存储区,其中,所述数据块置换区用于存放从所述DRAM内存置换到所述PCRAM缓存的数据块,所述映射表存储区用于保存数据页逻辑地址到物理地址之间的映射表,本发明通过基于PCRAM的SSD内部缓存管理方法,实现对固态硬盘的写的缓存以克服固态硬盘的读写不均衡特性、有效提高写性能、减少固态硬盘的随机写操作及擦出操作,以此来延长固态硬盘的寿命及提高固态硬盘的整体I/O性能。

    一种相变存储器的编程系统及方法

    公开(公告)号:CN102982841A

    公开(公告)日:2013-03-20

    申请号:CN201210549545.9

    申请日:2012-12-18

    Abstract: 本发明提供一种相变存储器的编程系统及方法,该编程系统至少包括:擦操作控制模块,用于产生擦操作驱动通道的控制信号;擦操作使能模块,与所述擦操作控制模块相连接,用于产生擦操作的使能信号;擦操作驱动模块,与所述擦操作使能模块相连接,用于产生擦操作脉冲,所述擦操作驱动模块在所述对应的擦操作控制模块产生的控制信号的控制下,根据擦操作使能信号是否有效依次产生擦操作脉冲。本发明提供的相变存储器的编程方法,将相变存储器的驱动通道分为若干组,在相变存储器进行编程操作时,相变存储器需要进行擦操作的位按照分组依次进行,这样可以在不降低写操作性能的基础上降低相变存储器芯片的擦操作瞬时峰值功耗。

    电阻转换存储器
    98.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101488514B

    公开(公告)日:2013-02-06

    申请号:CN200910046487.6

    申请日:2009-02-23

    Abstract: 本发明揭示一种电阻转换存储器,包括选通单元、数据存储单元;所述选通单元为PN二极管、或肖特基二极管、或双极型晶体管;所述电阻转换存储器采用的选通单元被至少两个深度不同的浅沟道相互隔离开。本发明提供几种电阻转换存储器的器件结构,包括了PN二极管、肖特基二极管和双极型晶体管的器件结构,这些结构的特点在于构造简单,因此其制造方法简便,且与半导体工艺完全兼容,有助于降低成本,使采用该技术的高密度电阻转换存储器更具竞争力。

    具有掉电数据保持功能的触发器

    公开(公告)号:CN102831931A

    公开(公告)日:2012-12-19

    申请号:CN201110164882.1

    申请日:2011-06-17

    Abstract: 本发明提供一种具有掉电数据保持功能的触发器,应用于集成电路系统中,其至少包括:具有数据输出端及数据恢复置位端的双置位端触发单元;用于根据电源电压发出掉电或上电置位信号的电源监测单元;用以生成set或reset信号的信号生成单元;以及相变存储单元,该相变存储单元在掉电时写入与所述set或reset信号相对应的数据至所述存储器中,在上电时,自所述存储器中读出存储的数据并输出给所述双置位端触发单元的数据恢复置位端,以使所述双置位端触发单元恢复掉电数据,藉此发明以实现数据保持所需的操作时间在纳秒量级以及可长时间保持的目的,进而降低高速掉电数据保护电路设计的成本。

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