公开(公告)号：CN105829866B

公开(公告)日：2019-07-02

申请号：CN201480070066.6

申请日：2014-11-14

申请人： 派克米瑞斯有限责任公司

发明人： D·奇姆达斯 ,  J·S·怀特 ,  S·威廉姆森 ,  I·杜宁

IPC分类号： G01N21/17

CPC分类号： G01N21/3586 ,  G01B11/06 ,  G01N21/21 ,  G01N21/3559 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/41 ,  G01N21/86 ,  G01N2021/8663 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0697 ,  G01N2201/08

摘要： 用于使用太赫兹辐射确定片状电介质样本的至少一种性质的系统包括被配置来输出太赫兹辐射脉冲的至少一个太赫兹发射机，被配置来接收太赫兹辐射脉冲的至少一部分的太赫兹接收机，其中太赫兹接收机被配置来基于由太赫兹接收机接收的太赫兹辐射输出测量的波形，和与太赫兹接收机通信的控制单元。其中控制单元被配置来选择测量的波形中关注的至少一个区域，将测量的波形中关注的至少一个区域与模型波形进行比较，改变模型波形的至少一个参数来最小化模型波形与测量的波形之间的差异。

公开(公告)号：CN109682310A

公开(公告)日：2019-04-26

申请号：CN201910168722.0

申请日：2019-03-06

申请人： 深圳佰视特光电科技有限公司

发明人： 陈业 ,  吴落得 ,  贺平 ,  李均华 ,  黄细刚

IPC分类号： G01B11/02 ,  G01B11/06 ,  G01B11/30

CPC分类号： G01B11/02 ,  G01B11/022 ,  G01B11/06 ,  G01B11/30

摘要： 本发明提供了厚度平面度段差检测装置、系统及方法，该装置包括：工作台；双层移动平台，双层移动平台包括第一级移动平台和第二级移动平台；检测组件，检测组件包括安装架、第一光谱共焦检测装置、第二光谱共焦检测装置，安装架安装在第二级移动平台上，第一光谱共焦检测装置和第二光谱共焦检测装置在安装架上呈上下对射安装，使被检测对象位于第一光谱共焦检测装置和第二光谱共焦检测装置之间的间隙内。与现有技术相比，不但精度高，而且便于引入存储、分析模块便于实现智能化检测，可实现对任何材质产品进行精准的点、线、面扫描，得到产品的厚度、平面度、段差。

公开(公告)号：CN109373917A

公开(公告)日：2019-02-22

申请号：CN201811514730.8

申请日：2018-12-12

申请人： 常州工学院

发明人： 陈功 ,  刘宣君 ,  陈森 ,  袁畅 ,  吴帅 ,  陈子文 ,  郁佳艳 ,  肖知颖 ,  袁鑫 ,  胡瑜 ,  徐雨果 ,  许清泉

IPC分类号： G01B11/06

CPC分类号： G01B11/06

摘要： 本发明公开了一种激光测厚对射光斑人工目视检测装置及方法，在C型扫描机构上下各安装1个激光传感器之外，还在上述位置旁边各安装1个CCD相机，利用相机可视范围广的特点，通过视觉获取和图像处理的方法，通过对光斑位置的计算，自动分析和判别上下激光传感器位置的准确性，从而调节下激光传感器所在的三维平台机构，实现上下激光光斑的对准。该方法减少人工视觉检测的误差和不科学性，具有精度高、测量快的特点。

公开(公告)号：CN105431387B

公开(公告)日：2019-01-15

申请号：CN201480036414.8

申请日：2014-06-25

申请人： VITRO可变资本股份有限公司

发明人： 焦榆 ,  J·W·麦克卡米 ,  D·哈内坎普

IPC分类号： C03B17/06 ,  C03C17/00 ,  C03B18/04

CPC分类号： C03B18/04 ,  C03B17/064 ,  C03B18/02 ,  C03C17/002 ,  C03C2218/152 ,  G01B9/02091 ,  G01B11/06 ,  G01B11/14 ,  Y02P40/57

摘要： 浮法玻璃系统(10)包括具有一池熔化金属(16)的浮槽(14)。化学气相沉积涂料器(32)在所述一池熔化金属(16)上方位于浮槽(14)中。涂料器(32)包括至少一个低相干干涉测量探头(38)，其位于涂料器(32)中或涂料器上且连接到低相干干涉测量系统(36)。另一低相干干涉测量探头(138)可以位于浮槽(14)的退出端外侧且连接到相同或另一低相干干涉测量系统(36)。

公开(公告)号：CN108846397A

公开(公告)日：2018-11-20

申请号：CN201810547531.0

申请日：2018-05-31

申请人： 浙江科技学院

发明人： 侯北平 ,  董霏 ,  吴颖东 ,  黄俊 ,  朱文 ,  介婧 ,  于爱华

IPC分类号： G06K9/32 ,  G06T7/00 ,  G06T7/11 ,  G06T7/136 ,  G06T7/194 ,  G01B11/06 ,  G01B11/28 ,  G01B11/275

CPC分类号： G06K9/3233 ,  G01B11/06 ,  G01B11/2755 ,  G01B11/28 ,  G06T7/0004 ,  G06T7/11 ,  G06T7/136 ,  G06T7/194 ,  G06T2207/10004 ,  G06T2207/20081

摘要： 本发明公开了一种基于图像处理的绝缘片半导电层自动检测方法，实现了对电缆绝缘片半导电层的自动检测。包括：采集电缆绝缘片试片图像；图像预处理；提取感兴趣区域；通过对感兴趣区域进行分割，筛选分割得到的连通域集合，生成半导电层轮廓；对生成的半导电层轮廓进行缺陷检测和补偿。本绝缘片半导电层自动检测方法，检测效率和精度高，充分考虑了刀痕、光照等因素，同时大大降低了检测人员的劳动强度。

公开(公告)号：CN108801162A

公开(公告)日：2018-11-13

申请号：CN201810684915.7

申请日：2018-06-28

申请人： 大连理工大学

发明人： 杜立群 ,  宋畅 ,  李晓军 ,  朱和卿 ,  赵雯

IPC分类号： G01B11/06

CPC分类号： G01B11/06

摘要： 本发明属于微制造技术领域，提供一种厚光刻胶膜厚度的非接触式光学测量方法，该方法通过在利用光学显微镜进行光刻胶厚度测量时引入胶膜的折射率，将偷眼观察到的虚像转化为实像，得到准确的胶膜厚度。其测量步骤包括“基底预处理‑胶膜制作‑胶厚测量‑曝光、显影”，解决现有技术中电解法、水晶阵子法、干涉法、光谱扫描法、X射线法和椭圆偏振法等测量方法的不足和应用的局限性，实现了几百微米厚光刻胶厚度的准确测量，具有应用范围广，简单，高效的特点，能够提高金属微结构电铸型膜制作的尺寸精度和制作效率。

公开(公告)号：CN108257886A

公开(公告)日：2018-07-06

申请号：CN201710588656.3

申请日：2017-07-18

申请人： 乐金显示有限公司

发明人： 梁晶馥

IPC分类号： H01L21/66 ,  H01L51/00

CPC分类号： G01N21/94 ,  G01B11/06 ,  G01N21/8422 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/95 ,  G01N21/958 ,  G01N2201/10 ,  G01R31/11 ,  G01R31/31728 ,  G09G3/006 ,  G09G3/3208 ,  G09G2330/12 ,  H01L51/0031 ,  H01L51/50 ,  H01L51/5253 ,  H01L51/56

摘要： 一种检查设备和使用其的检查方法，其中所述方法包括：将光通过棱镜照射至检查物体；使用拍摄单元扫描所述检查物体的检查区域；由所述拍摄单元接收从所述检查物体反射的反射光；使用所述拍摄单元将由所述拍摄单元接收的所述反射光转换成光强度；通过将对应于所述光强度的所述检查物体的厚度与所述检查物体的预定厚度进行比较来检测所述检查物体的缺陷。因此，在单元后处理或模块处理之前检查封装层，从而可以提高OLED装置的良品率和生产率。

公开(公告)号：CN108253898A

公开(公告)日：2018-07-06

申请号：CN201710953566.X

申请日：2017-10-13

申请人： 乐金显示有限公司

发明人： 黄锡周

IPC分类号： G01B11/06

CPC分类号： G01N21/958 ,  G01B11/06 ,  G01N21/21 ,  G01N21/8422 ,  G01N2021/1748 ,  G01N2021/8427 ,  G01N2201/0683 ,  G01N2201/101

摘要： 在此公开用于检测透明膜的方法。所述方法包括使用偏光器以光照射检测靶，接收由检测靶反射且接着由线扫描相机传递通过分析器的光并将所述光的波长的振幅和相位合成为光的强度，以及比较所述光的所述强度与用于预计设定的具有不同厚度的检测靶的光的强度以基于比较的结果探测检测靶的缺陷。可以确定是否有透明膜以及透明膜的厚度可以在大区域中测量。在形成透明膜之后实时地执行检测，使得若生成缺陷可以立即地反馈，由此减少缺陷。在此情况下，可以节约处理成本。

公开(公告)号：CN104279969B

公开(公告)日：2018-06-01

申请号：CN201410320417.6

申请日：2014-07-04

申请人： 韩国标准科学研究院

发明人： 金在完 ,  金钟安 ,  姜宙植 ,  陈宗汉

IPC分类号： G01B11/06

CPC分类号： G01B11/06 ,  G01B9/0201 ,  G01B9/02081 ,  G01B11/14 ,  G01N21/211 ,  G01N21/45 ,  G01N2021/213 ,  G01S17/36

摘要： 本发明提出了使用满足预定条件的两个波长来测量厚度的厚度测量装置和厚度测量方法。所述厚度测量方法包括以下步骤：将第一波长λ1的第一激光束照射至透明基板且测量透过所述透明基板的第一激光束的强度；将第二波长λ2的第二激光束照射至所述透明基板且测量透过所述透明基板的第二激光束的强度；并且使用透过所述透明基板的第一激光束和第二激光束来提取利萨如图形上的旋转角。将所述第一激光束的经过多次内反射的相邻光线之间的相位差以及所述第二激光束的经过多次内反射的相邻光线之间的相位差保持在π/2。所述厚度测量装置包括第一激光器、第二激光器、光耦合器、光检测器和处理单元。

公开(公告)号：CN107884044A

公开(公告)日：2018-04-06

申请号：CN201610874417.X

申请日：2016-09-30

申请人： 山东新北洋信息技术股份有限公司

发明人： 彭远斌 ,  杜玉振 ,  董述恂 ,  徐元泉 ,  袁勇 ,  王鑫平

IPC分类号： G01G19/00 ,  G01B11/00 ,  G01B11/03 ,  G01B11/06

CPC分类号： G01G19/005 ,  G01B11/00 ,  G01B11/03 ,  G01B11/06

摘要： 本发明提供了一种物品数据采集方法及装置，其中方法包括：判断是否有物品处于被测量状态；当有物品处于被测量状态时，获取所述物品的物品数据，所述物品数据包括重量数据和/或尺寸数据；将所述物品数据上传至数据处理设备。通过本发明中的物品数据采集方法及装置，能够解决相关技术的重量尺寸测量过程在测量物品的重量和尺寸时存在的效率较低的问题。