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公开(公告)号：CN101015123A
公开(公告)日：2007-08-08
申请号：CN200580027484.8
申请日：2005-06-16
申请人： 独立行政法人科学技术振兴机构 , 国立大学法人九州工业大学
IPC分类号： H03K19/173 , G01R31/317 , H01L21/82
CPC分类号： H03K19/17748 , G01R31/31728 , G01R31/318516
摘要： 提供不需要ORGA的逻辑电路内部的写入状态检查专用电路的写入状态检查技术。将ORGA内的逻辑电路结构照射到检查对象光重构位元件上的光信号从ON转换到了OFF时，作为至少一个逻辑电平或输出阻抗构变化的逻辑结构上构成的光信号图案，将照射到检查对象光重构位元件上的光信号为ON或OFF的第一、第二光信号图案对逻辑电路依次照射而输入。与此同时，通过连接在各个逻辑输出端子上的、检测该输出端子的逻辑电平是H电平、L电平或高阻抗中的哪一种状态的输出状态检测电路，检测各个输出状态。通过将所检测出的状态与所输入的光信号图案的正常的输出状态进行比较，对各光重构位元件判断由光信号产生的信息写入状态是否合格。
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公开(公告)号：CN1193240A
公开(公告)日：1998-09-16
申请号：CN98104373.9
申请日：1998-02-05
申请人： 三星电子株式会社
发明人： 郑宗植
IPC分类号： H04N5/84
CPC分类号： G01R31/31728 , G01R31/31917 , G01R31/31921
摘要： 一种用于测试数字视盘(DVD)重放装置中的数字信号处理器的装置,包括:一计算机,它产生用于测试数字信号处理器的测试数据,并在其屏幕上显示测试结果;一寻迹缓冲器,用于存储该数字信号处理器处理的数据和数字信号处理器的测试结果;和一接口,用于把计算机输出的数据传送到数字信号处理器,并从寻迹缓冲器读取测试结果,以便将读取的测试结果传送到计算机,此外,测试装置还包括一开关,以允许接口和数字信号处理器读取存储在寻迹缓冲器中的测试结果。
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公开(公告)号：CN106470069A
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201610154657.2
申请日：2016-03-17
申请人： 瞻博网络公司
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/2889 , G01R31/31728 , H04B10/07 , H04B10/40 , H04B17/11 , H04B17/21
摘要： 在一些实施例中，一种装置包括具有更换治具的自动集成电路(IC)处置器。更换治具具有能够可移动地布置到自动测试设备(ATE)上的活塞。在这样的实施例中，ATE被配置为接纳具有光学接口的集成电路。活塞具有第一位置和第二位置。在这样的实施例中，当活塞处于第一位置中时，活塞与集成电路没有接触。当活塞处于第二位置中时，活塞包括操作地耦合到集成电路的光学接口的光学连接器。
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公开(公告)号：CN107113079A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201580058059.9
申请日：2015-11-05
申请人： 华为技术有限公司
发明人： 麦克里斯·司外兰斯
IPC分类号： H04J14/00
CPC分类号： H04Q11/0062 , G01R31/31728 , G02B6/4204 , H04B10/60 , H04B10/801 , H04Q11/0005 , H04Q2011/0016 , H04Q2011/0039 , H04Q2011/0083 , H04Q2213/308
摘要： 提供了用于集成光子开关的监测光电二极管多路复用器的系统和方法实施例。与其他方案相比，监测光电二极管多路复用器的实施例简化了控制电路，降低了功率消耗，并提高了可制造性。一实施例中，光子集成电路(PIC)，包括多个输入端子；多个输出端子；及多个监测元件，其中每个监测元件连接于一个所述输入端子和一个所述输出端子之间，其中每个监测元件包括光电二极管和整流二极管，其中光电二极管包括第一端子和第二端子，其中整流二极管包括第三端子和第四端子，其中第一端子连接至第三端子，并且其中第一和第三端子包括相同的极性。
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公开(公告)号：CN1252131A
公开(公告)日：2000-05-03
申请号：CN98803957.5
申请日：1998-02-05
申请人： 株式会社爱德万测试
发明人： 冈安俊幸
CPC分类号： G01R31/31728 , G01R31/311 , G01R31/31905
摘要： 一种IC试验装置,包括主框架和试验头,其中所述主框架容纳有:图形发生器、波形发生器和逻辑比较器等电子电路装置;所述试验头连接在自该主框架拉出的电缆的前端,在试验头侧配置光驱动型驱动器和光输出型电压传感器,在主框架侧设置将试验图形信号变换为光信号的光信号变换器和将光信号变换为电信号的光传感器,在主框架侧由光信号变换器将波形发生器输出的试验图形信号变换为光信号,使用光波导线路将该光信号向试验头传送,驱动设在试验头的光驱动型驱动器;将光信号变换为电信号提供给被试验IC。被试验IC输出的应答信号被提供给光输出型电压传感器,利用该光输出型电压传感器将被试验IC输出的电压信号作为光信号传送到主框架,利用光信号在主框架和试验头之间进行信号的授受,可以进行高速操作。
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公开(公告)号：CN1963778A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：CN200510101238.4
申请日：2005-11-11
申请人： 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
IPC分类号： G06F11/267
CPC分类号： G01R31/31715 , G01R31/31728
摘要： 本发明提供一种主板串口测试系统及方法，该方法包括如下步骤：连接外接串口和光耦合芯片；初始化串口配置方式；在没有流控制的方式下和有流控制的方式下，分别发送数据及接收数据并判断该所发送的数据和所接收的数据是否相同；如果在有流控制的方式下所发送数据及所接收数据相同并且在没有流控制的方式下所发送数据及所接收数据也相同，则主板串口信号传输功能正常。利用本发明可以节省成本，且检测过程更加简便、准确、快速。
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公开(公告)号：CN1139251C
公开(公告)日：2004-02-18
申请号：CN98104373.9
申请日：1998-02-05
申请人： 三星电子株式会社
发明人： 郑宗植
IPC分类号： H04N5/84
CPC分类号： G01R31/31728 , G01R31/31917 , G01R31/31921
摘要： 一种用于测试数字视盘重放装置中的数字信号处理的装置，包括：一计算机，它产生用于测试数字信号处理器的测试数据，并在其屏幕上显示测试结果；一寻迹缓冲器，用于存储该数字信号处理器处理的数据和数字信号处理器的测试结果；和一接口，用于把计算机输出的数据传送到数字信号处理器，并从寻迹缓冲器读取测试结果，以便将读取的测试结果传送到计算机，此外，测试装置还包括一开关，用于根据时间分割将所说的寻迹缓冲器切换到通过一个寻迹缓冲器控制器的所说的接口和所说的数字信号处理器，以允许接口和数字信号处理器读取存储在寻迹缓冲器中的测试结果。
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公开(公告)号：CN1129798C
公开(公告)日：2003-12-03
申请号：CN98803957.5
申请日：1998-02-05
申请人： 株式会社爱德万测试
发明人： 冈安俊幸
IPC分类号： G01R31/28 , G01R15/24 , G01R19/155
CPC分类号： G01R31/31728 , G01R31/311 , G01R31/31905
摘要： 一种IC试验装置，包括主框架和试验头，其中所述主框架容纳有：图形发生器、波形发生器和逻辑比较器等电子电路装置；所述试验头连接在自该主框架拉出的电缆的前端，在试验头侧配置光驱动型驱动器和光输出型电压传感器，在主框架侧设置将试验图形信号变换为光信号的光信号变换器和将光信号变换为电信号的光传感器，在主框架侧由光信号变换器将波形发生器输出的试验图形信号变换为光信号，使用光波导线路将该光信号向试验头传送，驱动设在试验头的光驱动型驱动器，将光信号变换为电信号提供给被试验IC。被试验IC输出的应答信号被提供给光输出型电压传感器，利用该光输出型电压传感器将被试验IC输出的电压信号作为光信号传送到主框架，利用光信号在主框架和试验头之间进行信号的授受，可以进行高速操作。
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公开(公告)号：CN108257886A
公开(公告)日：2018-07-06
申请号：CN201710588656.3
申请日：2017-07-18
申请人： 乐金显示有限公司
发明人： 梁晶馥
CPC分类号： G01N21/94 , G01B11/06 , G01N21/8422 , G01N21/8806 , G01N21/95 , G01N21/958 , G01N2201/10 , G01R31/11 , G01R31/31728 , G09G3/006 , G09G3/3208 , G09G2330/12 , H01L51/0031 , H01L51/50 , H01L51/5253 , H01L51/56
摘要： 一种检查设备和使用其的检查方法，其中所述方法包括：将光通过棱镜照射至检查物体；使用拍摄单元扫描所述检查物体的检查区域；由所述拍摄单元接收从所述检查物体反射的反射光；使用所述拍摄单元将由所述拍摄单元接收的所述反射光转换成光强度；通过将对应于所述光强度的所述检查物体的厚度与所述检查物体的预定厚度进行比较来检测所述检查物体的缺陷。因此，在单元后处理或模块处理之前检查封装层，从而可以提高OLED装置的良品率和生产率。
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公开(公告)号：CN101015123B
公开(公告)日：2010-08-25
申请号：CN200580027484.8
申请日：2005-06-16
申请人： 独立行政法人科学技术振兴机构 , 国立大学法人九州工业大学
IPC分类号： H03K19/173 , G01R31/317 , H01L21/82
CPC分类号： H03K19/17748 , G01R31/31728 , G01R31/318516
摘要： 提供不需要ORGA的逻辑电路内部的写入状态检查专用电路的写入状态检查技术。将ORGA内的逻辑电路结构照射到检查对象光重构位元件上的光信号从ON转换到了OFF时，作为至少一个逻辑电平或输出阻抗构变化的逻辑结构上构成的光信号图案，将照射到检查对象光重构位元件上的光信号为ON或OFF的第一、第二光信号图案对逻辑电路依次照射而输入。与此同时，通过连接在各个逻辑输出端子上的、检测该输出端子的逻辑电平是H电平、L电平或高阻抗中的哪一种状态的输出状态检测电路，检测各个输出状态。通过将所检测出的状态与所输入的光信号图案的正常的输出状态进行比较，对各光重构位元件判断由光信号产生的信息写入状态是否合格。
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