用于热散逸检测的两级方法

    公开(公告)号:CN113173102A

    公开(公告)日:2021-07-27

    申请号:CN202110109965.4

    申请日:2021-01-27

    Abstract: 一种蓄电池系统包括具有蓄电池单元的可再充电能量存储系统(RESS),以及被配置成执行两级逻辑以检测热散逸状况的蓄电池控制器网络。所述网络包括RESS嵌入式电池监测单元(CMU),所述RESS嵌入式电池监测单元(CMU)电连接到相应电池群组,并且测量和无线地发送电池数据。蓄电池控制模块(BCM)与所述CMU通信。热散逸传感器安装在所述CMU和/或所述BCM上。连接到所述BCM的主控制器包括被配置成检测在所述RESS内发生的热散逸状况的热散逸检测算法。所述BCM使用来自所述CMU和热散逸传感器的数据来执行确定何时唤醒所述主控制器的第一逻辑级。所述主控制器响应于接收到唤醒信号而执行第二逻辑级以执行所述算法。

    热绝缘部件以及制造热绝缘部件的方法

    公开(公告)号:CN113087933A

    公开(公告)日:2021-07-09

    申请号:CN202011536481.X

    申请日:2020-12-23

    Abstract: 根据本公开的各种方面的热绝缘部件包括基质、交联前体以及交联引发剂。所述基质包括具有小于或等于约5 W/mK的热导率的热绝缘材料。所述交联前体嵌入所述基质中。所述交联前体包括丙烯酸酯官能团或甲基丙烯酸酯官能团中的至少一者。所述交联引发剂嵌入所述基质中。所述交联引发剂被配置成分解以引发所述交联前体的交联。在某些方面中,本公开还提供一种包括电子部件以及与所述电子部件热连通的热绝缘材料的电子组件。在某些方面中,本公开还提供制造所述热绝缘部件的方法。

    用于热散逸检测的两级方法

    公开(公告)号:CN113173102B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202110109965.4

    申请日:2021-01-27

    Abstract: 一种蓄电池系统包括具有蓄电池单元的可再充电能量存储系统(RESS),以及被配置成执行两级逻辑以检测热散逸状况的蓄电池控制器网络。所述网络包括RESS嵌入式电池监测单元(CMU),所述RESS嵌入式电池监测单元(CMU)电连接到相应电池群组,并且测量和无线地发送电池数据。蓄电池控制模块(BCM)与所述CMU通信。热散逸传感器安装在所述CMU和/或所述BCM上。连接到所述BCM的主控制器包括被配置成检测在所述RESS内发生的热散逸状况的热散逸检测算法。所述BCM使用来自所述CMU和热散逸传感器的数据来执行确定何时唤醒所述主控制器的第一逻辑级。所述主控制器响应于接收到唤醒信号而执行第二逻辑级以执行所述算法。

    具有低压控制架构和方法的高压系统

    公开(公告)号:CN110635528B

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN201910422912.0

    申请日:2019-05-21

    Abstract: 一种高压(HV)电气系统,其包括HV电气总线,执行电池管理系统(BMS)功能的低压(LV)控制器,以及连接到HV电气总线的可充电储能系统(RESS)。RESS具有连接到电压轨的接触器,电池组,产生表征组端电流的电压信号的电流传感器,连接到指定的电池单体的单体监测单元(CMU),用以测量相应的单体电压,以及处于CMU和LV控制器之间的电压隔离硬件。电压隔离硬件包括接触器,可能还包括变压器。RESS和LV控制器通过LV串行连接而相连,使得LV控制器执行指定的BMS功能,包括监测组端电流和控制接触器的打开/关闭状态。一种动力传动系统,其包括电气系统、电机和耦合负载。

    电能储存系统模块等级诊断

    公开(公告)号:CN114069064A

    公开(公告)日:2022-02-18

    申请号:CN202110376835.7

    申请日:2021-04-08

    Abstract: 本发明涉及电能储存系统模块等级诊断。带有布置在电池模块中的电池单元组的电池系统包括配置为监测每个模块的控制器网络。网络包括多个单元监测单元(CMU);每个CMU电连接到一个电池模块并且配置为针对相应电池单元组处理单元数据。网络还包括在每个CMU上的多个电压传感器,每个传感器配置为检测跨越一个相应的单元组的电压;以及多个微芯片,每个微芯片布置在与相应的电压传感器通信的一个CMU上。每个微芯片编程有算法,该算法配置为在预定时间范围内以预定时间间隔接收来自相应传感器的检测到的电压数据并储存该电压数据。算法额外地配置为使用储存的数据确定每个相关单元组的放电速率,并且使用确定的相应放电速率确定每个单元组的劣化。

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