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公开(公告)号:CN105070662A
公开(公告)日:2015-11-18
申请号:CN201510545841.5
申请日:2015-08-31
Applicant: 株洲南车时代电气股份有限公司
IPC: H01L21/336 , H01L29/78 , H01L29/43 , H01L29/423
CPC classification number: H01L29/66477 , H01L29/42372 , H01L29/43 , H01L29/78
Abstract: 本申请公开了一种碳化硅MOSFET的制造方法,包括:在碳化硅外延片上制作场氧窗口,在所述场氧窗口内形成二氧化硅绝缘膜;在所述二氧化硅绝缘膜上沉积一层多晶碳化硅;刻蚀所述多晶碳化硅,留下的多晶碳化硅作为栅电极;刻蚀所述二氧化硅绝缘膜;对所述多晶碳化硅进行掺杂并退火。由于上述方法中,利用掺杂多晶碳化硅制作碳化硅MOSFET的栅电极,因此能够提高对器件阈值电压的调节能力,并能降低栅信号延迟时间。
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公开(公告)号:CN203094825U
公开(公告)日:2013-07-31
申请号:CN201320046368.2
申请日:2013-01-29
Applicant: 株洲南车时代电气股份有限公司
IPC: B65D85/86
Abstract: 本实用新型公开了一种半导体元件包装结构,包括:连接成一体的盖板和底板,以及设置于盖板和底板之间的固定板。固定板设置在底板上。在固定板上设置有一个以上的定位孔,用于固定半导体元件的瓷环。在定位孔的一侧开有电极卡槽,在电极卡槽的一侧设置有导线沟槽,导线沟槽用于收纳半导体元件的导线。本实用新型解决了现有包装结构在半导体元件包装储运过程中,效率低下和安全包装、运输的问题,有效地保护了门阴极避免碰撞,保证元件无需缠绕,避免了打结,同时器件固定牢固无转动,提高了劳动效率。
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