-
-
公开(公告)号:CN1347137A
公开(公告)日:2002-05-01
申请号:CN01140673.9
申请日:2001-09-20
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L21/027 , H01L21/30 , G03F7/16
Abstract: 本发明提供了成膜方法和成膜装置,液状膜形成部分由保护膜滴液喷嘴102和使该保护膜滴液喷嘴102沿y方向移动的喷嘴移动机构以及设置在直径200mm的被处理基板110上的使被处理基板110沿x方向移动的被处理基板移动台构成。液状膜干燥部分由吸嘴101和与吸嘴101相连的真空泵103构成。另外,被处理基板移动台也是构成液状膜干燥部分的一部分。利用上述成膜方法及装置,可以抑制涂膜的膜厚不均现象,缩短形成涂膜所需的时间。
-
公开(公告)号:CN1841213B
公开(公告)日:2011-12-21
申请号:CN200610076499.X
申请日:2003-01-28
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G03F7/32 , G03F7/26 , G03F7/20 , H01L21/027
Abstract: 一种进行曝光有所希望的图案的感光性抗蚀剂膜的显影的显影方法,包括:对曝光的上述感光性抗蚀剂膜进行第1显影处理;对进行了第1显影处理的感光性抗蚀剂膜,提供对该抗蚀剂膜表面具有氧化性的,或者是碱性的洗净液,进行第1洗净处理;对完成了第1洗净处理的上述感光性抗蚀剂膜进行第2显影处理;对进行了第2显影处理的上述感光性抗蚀剂膜进行第2洗净处理。
-
公开(公告)号:CN1201375C
公开(公告)日:2005-05-11
申请号:CN01140672.0
申请日:2001-09-20
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L21/027 , H01L21/30 , G03F7/16
Abstract: 公开了液态膜干燥方法及干燥装置。所述干燥方法包括以下工序:使具有贯通孔204的整流板200以不接触液态膜的距离靠近该被处理基板上方的工序,使整流板200旋转从而使被处理基板101的上方与整流板200的下表面之间产生气流的工序,使含有溶质的液态膜与气流接触、将液态膜中的溶剂除去,在被处理基板101上形成由前述溶质构成的固相膜的工序。使用该液态膜干燥方法,可获得良好的膜厚均匀性,同时对处理时间进行控制以提高生产率。
-
公开(公告)号:CN1435863A
公开(公告)日:2003-08-13
申请号:CN03102108.5
申请日:2003-01-30
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L21/027 , B05C9/12 , G03F7/16
CPC classification number: H01L21/6715 , H01L21/02126 , H01L21/02164 , H01L21/022 , H01L21/02282 , H01L21/288 , H01L21/31633
Abstract: 在一边从设于喷嘴的排出口,对衬底连续地排出调整后的溶液使其在上述衬底上蔓延规定量,一边相对移动上述喷嘴和衬底,在上述衬底上留下供给的溶液,并在上述衬底上形成液膜的成膜方法中,设定上述喷嘴的排出口与上述衬底的距离h为2mm以上,而且对于上述溶液表面张力γ(N/m)、从上述排出口连续地排出的溶液排出速度q(m/sec)、和常数5×10-5(m·sec/N),为不足5×10-5qγ(mm)的范围内。
-
公开(公告)号:CN1266549C
公开(公告)日:2006-07-26
申请号:CN03102209.X
申请日:2003-01-28
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G03F7/30 , G03F7/26 , H01L21/027 , B05B1/00
CPC classification number: G03F7/3021 , H01L21/31133 , Y10S134/902
Abstract: 一种基板处理方法包括:向基板上提供处理液;从被设置在喷嘴上的第1喷出区域对基板连续喷出第1洗净液的同时,使上述喷嘴和上述基板相对地在一方向上移动;其中,上述第1喷出区域的与上述一方向正交的方向的长度,在上述基板的最大直径或者最长边同等长度以上;上述喷嘴,从第1吹出区域对上述基板连续吹付第1气体,第1吹出区域的与上述一方向正交的方向的长度,在上述基板的最大直径或者最长边的同等长度以上。
-
公开(公告)号:CN1435733A
公开(公告)日:2003-08-13
申请号:CN03102209.X
申请日:2003-01-28
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G03F7/30 , G03F7/26 , H01L21/027 , B05B1/00
CPC classification number: G03F7/3021 , H01L21/31133 , Y10S134/902
Abstract: 一种基板处理方法包括:向基板上提供处理液;从被设置在喷嘴上的第1喷出区域对基板连续喷出第1洗净液的同时,使上述喷嘴和上述基板相对地在一方向上移动;其中,上述第1喷出区域的与上述一方向正交的方向的长度,在上述基板的最大直径或者最长边同等长度以上;上述喷嘴,从第1吹出区域对上述基板连续吹付第1气体,第1吹出区域的与上述一方向正交的方向的长度,在上述基板的最大直径或者最长边的同等长度以上。
-
公开(公告)号:CN1330394A
公开(公告)日:2002-01-09
申请号:CN01121836.3
申请日:2001-06-27
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L21/30 , H01L21/304 , H01L21/027
CPC classification number: H01L21/02052 , G03F7/32 , G03F7/40
Abstract: 一种衬底处理方法,对用光刻胶12进行LSI图形曝光的被加工衬底11,用TMAH显影液进行显影后,清洗露出表面。作为第1清洗工序,通过边使衬底11以500rpm进行旋转,边用溶解有3ppm臭氧气体的臭氧水17进行15秒的清洗,使附着于衬底11的露出表面上的有机物分解,然后,作为第2清洗工序,通过边使衬底11以500rpm进行旋转,边用溶解有1.2ppm氢气的氢气水18进行15秒的清洗处理,把分解后的有机物除去到衬底之外。
-
公开(公告)号:CN1841213A
公开(公告)日:2006-10-04
申请号:CN200610076499.X
申请日:2003-01-28
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G03F7/32 , G03F7/26 , G03F7/20 , H01L21/027
Abstract: 一种进行曝光有所希望的图案的感光性抗蚀剂膜的显影的显影方法,包括:对曝光的上述感光性抗蚀剂膜进行第1显影处理;对进行了第1显影处理的感光性抗蚀剂膜,提供对该抗蚀剂膜表面具有氧化性的,或者是碱性的洗净液,进行第1洗净处理;对完成了第1洗净处理的上述感光性抗蚀剂膜进行第2显影处理;对进行了第2显影处理的上述感光性抗蚀剂膜进行第2洗净处理。
-
公开(公告)号:CN1261976C
公开(公告)日:2006-06-28
申请号:CN03102108.5
申请日:2003-01-30
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L21/027 , B05C9/12 , G03F7/16
CPC classification number: H01L21/6715 , H01L21/02126 , H01L21/02164 , H01L21/022 , H01L21/02282 , H01L21/288 , H01L21/31633
Abstract: 在一边从设于喷嘴的排出口,对衬底连续地排出调整后的溶液使其在上述衬底上蔓延规定量,一边相对移动上述喷嘴和衬底,在上述衬底上留下供给的溶液,并在上述衬底上形成液膜的成膜方法中,设定上述喷嘴的排出口与上述衬底的距离h为2mm以上,而且对于上述溶液表面张力γ(N/m)、从上述排出口连续地排出的溶液排出速度q(m/sec)、和常数5×10-5(m·sec/N),为不足5×10-5qγ(mm)的范围内。
-
-
-
-
-
-
-
-
-