成膜方法和成膜装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1347137A

    公开(公告)日:2002-05-01

    申请号:CN01140673.9

    申请日:2001-09-20

    Abstract: 本发明提供了成膜方法和成膜装置,液状膜形成部分由保护膜滴液喷嘴102和使该保护膜滴液喷嘴102沿y方向移动的喷嘴移动机构以及设置在直径200mm的被处理基板110上的使被处理基板110沿x方向移动的被处理基板移动台构成。液状膜干燥部分由吸嘴101和与吸嘴101相连的真空泵103构成。另外,被处理基板移动台也是构成液状膜干燥部分的一部分。利用上述成膜方法及装置,可以抑制涂膜的膜厚不均现象,缩短形成涂膜所需的时间。

    显影方法及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN1841213B

    公开(公告)日:2011-12-21

    申请号:CN200610076499.X

    申请日:2003-01-28

    Abstract: 一种进行曝光有所希望的图案的感光性抗蚀剂膜的显影的显影方法,包括:对曝光的上述感光性抗蚀剂膜进行第1显影处理;对进行了第1显影处理的感光性抗蚀剂膜,提供对该抗蚀剂膜表面具有氧化性的,或者是碱性的洗净液,进行第1洗净处理;对完成了第1洗净处理的上述感光性抗蚀剂膜进行第2显影处理;对进行了第2显影处理的上述感光性抗蚀剂膜进行第2洗净处理。

    液态膜干燥方法及液态膜干燥装置

    公开(公告)号:CN1201375C

    公开(公告)日:2005-05-11

    申请号:CN01140672.0

    申请日:2001-09-20

    Abstract: 公开了液态膜干燥方法及干燥装置。所述干燥方法包括以下工序:使具有贯通孔204的整流板200以不接触液态膜的距离靠近该被处理基板上方的工序,使整流板200旋转从而使被处理基板101的上方与整流板200的下表面之间产生气流的工序,使含有溶质的液态膜与气流接触、将液态膜中的溶剂除去,在被处理基板101上形成由前述溶质构成的固相膜的工序。使用该液态膜干燥方法,可获得良好的膜厚均匀性,同时对处理时间进行控制以提高生产率。

    基板处理方法和装置
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1266549C

    公开(公告)日:2006-07-26

    申请号:CN03102209.X

    申请日:2003-01-28

    CPC classification number: G03F7/3021 H01L21/31133 Y10S134/902

    Abstract: 一种基板处理方法包括:向基板上提供处理液;从被设置在喷嘴上的第1喷出区域对基板连续喷出第1洗净液的同时,使上述喷嘴和上述基板相对地在一方向上移动;其中,上述第1喷出区域的与上述一方向正交的方向的长度,在上述基板的最大直径或者最长边同等长度以上;上述喷嘴,从第1吹出区域对上述基板连续吹付第1气体,第1吹出区域的与上述一方向正交的方向的长度,在上述基板的最大直径或者最长边的同等长度以上。

    衬底处理方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1330394A

    公开(公告)日:2002-01-09

    申请号:CN01121836.3

    申请日:2001-06-27

    CPC classification number: H01L21/02052 G03F7/32 G03F7/40

    Abstract: 一种衬底处理方法,对用光刻胶12进行LSI图形曝光的被加工衬底11,用TMAH显影液进行显影后,清洗露出表面。作为第1清洗工序,通过边使衬底11以500rpm进行旋转,边用溶解有3ppm臭氧气体的臭氧水17进行15秒的清洗,使附着于衬底11的露出表面上的有机物分解,然后,作为第2清洗工序,通过边使衬底11以500rpm进行旋转,边用溶解有1.2ppm氢气的氢气水18进行15秒的清洗处理,把分解后的有机物除去到衬底之外。

    显影方法及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN1841213A

    公开(公告)日:2006-10-04

    申请号:CN200610076499.X

    申请日:2003-01-28

    Abstract: 一种进行曝光有所希望的图案的感光性抗蚀剂膜的显影的显影方法,包括:对曝光的上述感光性抗蚀剂膜进行第1显影处理;对进行了第1显影处理的感光性抗蚀剂膜,提供对该抗蚀剂膜表面具有氧化性的,或者是碱性的洗净液,进行第1洗净处理;对完成了第1洗净处理的上述感光性抗蚀剂膜进行第2显影处理;对进行了第2显影处理的上述感光性抗蚀剂膜进行第2洗净处理。

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