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公开(公告)号：CN118235024A
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202280073785.8
申请日：2022-09-07
Applicant: 斯维尔系统
Inventor： B·G·I·谢努达 , T·M·泽纳 , B·莫塔达 , Y·M·萨布里 , B·萨达尼 , H·阿布纳加 , M·加德·西夫 , M·萨德克·拉德万 , M·H·阿尔-哈龙 , M·梅德哈特 , M·埃尔-阿拉巴维
IPC: G01J3/02 , G01J3/45 , G01N21/47 , G01N21/35 , G01N21/359
Abstract: 各方面涉及一种手持式光谱扫描仪，其包括被配置为接纳样品的光学窗口和其上具有光学窗口的壳体。壳体还包括在其中的光源和光谱传感器，光谱传感器包括光调制器和检测器。扫描仪壳体还包括处理器，其被配置为基于由光源产生的光与光学窗口上的样品的相互作用从光谱传感器接收样品的光谱。该处理器还被配置为基于样品光谱产生光谱数据以输入到人工智能引擎以基于光谱数据产生结果。此外，扫描仪壳体可以包括保持光源的凸缘和被配置为耗散所产生的内部热量的散热器。壳体还包括形成手柄的腔体，以便于手持式光谱扫描仪的操作。
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公开(公告)号：CN107250858B
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN201680011152.9
申请日：2016-02-19
Applicant: 斯维尔系统
Abstract: 一种微型光学台器件通过以下工艺来制造，所述工艺提供对所述微型光学台器件的一种或者多种特性和/或所述微型光学台器件中的光学表面的一种或者多种特性的控制。所述工艺包括：蚀刻衬底以形成临时性结构和包括光学元件的永久性结构。所述临时性结构的形状和在所述临时性结构与永久性结构之间的间隙有助于控制所述微型光学台和/或所述微型光学台中的光学表面的特性。所述工艺进一步包括从所述微型光学台器件的光路去除所述临时性结构。
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公开(公告)号：CN117916575A
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202280055088.X
申请日：2022-01-14
Applicant: 斯维尔系统
Abstract: 各方面涉及用于样品的大规模筛查的机制。一种基于包含待测分析物的样品的光谱分析的便携式实验室设备(300)可以促进大规模筛查。便携式实验室设备(300)包括样品头(312)和光学测量设备(304)，该样品头包括被配置为促进样品到样品头(312)的施加的结构，该光学测量设备包括一个或多个光源(306)和光谱仪(308)。从光源(306)入射到样品上的光(322)可以被引导(324)到光谱仪(308)以获取样品的光谱(326)。光学测量设备(304)还可以包括数据传输设备(310)，该数据传输设备被配置为将由光谱仪(308)获取的光谱(326)提供给光谱分析仪(320)以从光谱(326)产生结果(328)。
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公开(公告)号：CN111936831A
公开(公告)日：2020-11-13
申请号：CN201980023882.4
申请日：2019-03-29
Applicant: 斯维尔系统
Abstract: 本公开的各方面涉及一种自参考光谱仪，其用于提供对背景或参考光谱密度以及样品或其他光谱密度的同时测量。自参考光谱仪包括干涉仪，该干涉仪被光耦合以接收输入光束，并且沿第一光路引导输入光束以产生第一干涉光束，并且沿第二光路引导输入光束以产生第二干涉光束，其中每个干涉光束是在干涉仪的输出之前被产生的。光谱仪还包括检测器，其被光耦合以同时检测从第一干涉光束产生的第一干涉信号和从第二干涉光束产生的第二干涉信号，以及处理器，其被配置为处理第一干涉信号和第二干涉信号，并且在处理第一干涉信号时将第二干涉信号用作参考信号。
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公开(公告)号：CN109983313A
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201780037361.5
申请日：2017-06-15
Applicant: 斯维尔系统
Abstract: 本公开的方面涉及集成光谱单元，其包括在第一基板内制造的微机电系统(MEMS)干涉仪以及在第二基板上集成的光重定向结构，其中第二基板被耦合到第一基板。光重定向结构包括至少一个镜，该至少一个镜用于接收在相对于第一基板的面外方向上传播的输入光束以及将输入光束重定向到朝向MEMS干涉仪的相对于第一基板的面内方向。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105103030A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201480013316.2
申请日：2014-01-28
Applicant: 斯维尔系统
CPC classification number: G01J3/06 , G01B9/02071 , G01J3/4535 , G01N2021/3595 , G02B26/06 , G02B26/0841
Abstract: 一种微机电系统(MEMS)干涉仪提供了可移动反射镜的反射镜定位的自校准。可移动反射镜被耦合至具有可变电容的MEMS致动器。MEMS干涉仪包括用于确定在可移动反射镜的两个或更多个已知位置处的MEMS致动器的电容的电容感测电路和用于使用在已知位置处的致动器电容来补偿电容感测电路中的任何漂移的校准模块。
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公开(公告)号：CN111936831B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN201980023882.4
申请日：2019-03-29
Applicant: 斯维尔系统
Abstract: 本公开的各方面涉及一种自参考光谱仪，其用于提供对背景或参考光谱密度以及样品或其他光谱密度的同时测量。自参考光谱仪包括干涉仪，该干涉仪被光耦合以接收输入光束，并且沿第一光路引导输入光束以产生第一干涉光束，并且沿第二光路引导输入光束以产生第二干涉光束，其中每个干涉光束是在干涉仪的输出之前被产生的。光谱仪还包括检测器，其被光耦合以同时检测从第一干涉光束产生的第一干涉信号和从第二干涉光束产生的第二干涉信号，以及处理器，其被配置为处理第一干涉信号和第二干涉信号，并且在处理第一干涉信号时将第二干涉信号用作参考信号。
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公开(公告)号：CN110140038A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201780081876.5
申请日：2017-11-21
Applicant: 斯维尔系统
IPC: G01M11/00 , G01R31/311 , G02B5/04
Abstract: 本公开的各方面涉及一种用于执行具有面内光轴的光学微机电系统(MEMS)结构的晶片测试的集成光学探针卡和系统。可以利用一个或多个微光学平台组件来执行光学MEMS结构的晶片上光学屏蔽，以在垂直于面内光轴的面外方向与平行于面内光轴的面内方向之间重定向光以便能够通过光的竖直注入来测试光学MEMS结构。
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公开(公告)号：CN105103030B
公开(公告)日：2018-07-06
申请号：CN201480013316.2
申请日：2014-01-28
Applicant: 斯维尔系统
CPC classification number: G01J3/06 , G01B9/02071 , G01J3/4535 , G01N2021/3595 , G02B26/06 , G02B26/0841
Abstract: 一种微机电系统(MEMS)干涉仪提供了可移动反射镜的反射镜定位的自校准。可移动反射镜被耦合至具有可变电容的MEMS致动器。MEMS干涉仪包括用于确定在可移动反射镜的两个或更多个已知位置处的MEMS致动器的电容的电容感测电路和用于使用在已知位置处的致动器电容来补偿电容感测电路中的任何漂移的校准模块。
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公开(公告)号：CN107250858A
公开(公告)日：2017-10-13
申请号：CN201680011152.9
申请日：2016-02-19
Applicant: 斯维尔系统
Abstract: 一种微型光学台器件通过以下工艺来制造，所述工艺提供对所述微型光学台器件的一种或者多种特性和/或所述微型光学台器件中的光学表面的一种或者多种特性的控制。所述工艺包括：蚀刻衬底以形成临时性结构和包括光学元件的永久性结构。所述临时性结构的形状和在所述临时性结构与永久性结构之间的间隙有助于控制所述微型光学台和/或所述微型光学台中的光学表面的特性。所述工艺进一步包括从所述微型光学台器件的光路去除所述临时性结构。
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