自参考光谱仪
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111936831A

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN201980023882.4

    申请日:2019-03-29

    Abstract: 本公开的各方面涉及一种自参考光谱仪,其用于提供对背景或参考光谱密度以及样品或其他光谱密度的同时测量。自参考光谱仪包括干涉仪,该干涉仪被光耦合以接收输入光束,并且沿第一光路引导输入光束以产生第一干涉光束,并且沿第二光路引导输入光束以产生第二干涉光束,其中每个干涉光束是在干涉仪的输出之前被产生的。光谱仪还包括检测器,其被光耦合以同时检测从第一干涉光束产生的第一干涉信号和从第二干涉光束产生的第二干涉信号,以及处理器,其被配置为处理第一干涉信号和第二干涉信号,并且在处理第一干涉信号时将第二干涉信号用作参考信号。

    增加光谱仪视野
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114341604A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202080061883.0

    申请日:2020-07-16

    Abstract: 各方面涉及用于增加光谱仪的视场的机构。光学设备可以被配置为同时将来自样品上的不同位置(斑点)的光耦合到光谱仪,以有效地增加光谱仪的视场。光学设备可以包括合束器和至少一个反射器,该至少一个反射器用以将光束从样品上的相应斑点反射到合束器。合束器可以合并从不同斑点接收的光束,以产生可以输入到光谱仪的合并光束。

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