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公开(公告)号：CN102484175A
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201080039739.3
申请日：2010-07-30
Applicant: 应用材料公司
CPC classification number: H01L33/06 , H01L33/04 , H01L33/325
Abstract: 量子阱结构的一个实施方式包含有源区，所述有源区包括有源层，所述有源层包含量子阱和障壁层，其中有源层中的一些或全部为p型掺杂的。P型掺杂有源层中的一些或全部通过将P-N结的位置定位在元件的有源区中进而使主要辐射复合能够发生在有源区内，来改良III-V化合物半导体发光二极管的量子效率。在一个实施方式中，在具有含共晶源合金的氢化物气相外延(HVPE)沉积腔室的组合工具中制造量子阱结构。在一个实施方式中，通过组合工具在分离腔室中生长氮化铟镓(InGaN)层和镁掺杂的氮化镓(Mg-GaN)或镁掺杂的氮化铝镓(Mg-AlGaN)层，避免铟与镁交叉污染。也描述了通过使用III族金属共晶的氢化物气相外延进行对III族氮化物的掺杂。在一个实施方式中，提供用于p型或n型III族氮化物外延膜的HVPE沉积的源，所述源包括与III族物种的液相机械(共晶)混合物。在一个实施方式中，提供用于执行p型或n型III族氮化物外延膜的HVPE沉积的方法，所述方法包括使用与III族物种的液相机械(共晶)混合物。
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公开(公告)号：CN102414792A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201080019517.5
申请日：2010-04-09
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/20
CPC classification number: C30B29/403 , C23C16/34 , C23C16/4401 , C23C16/45565 , C23C16/46 , C30B25/02 , C30B29/406 , Y10T137/479 , Y10T137/4807 , Y10T137/4824 , Y10T137/7504 , Y10T137/8376
Abstract: 本发明揭露的实施例大致关于HVPE腔室。腔室可具有与该腔室耦接的两个分离的前驱物源以便沉积两个分离的层。举例而言，镓源与分离的铝源可耦接至处理腔室以便在相同处理腔室中分别地沉积氮化镓与氮化铝于基板上。可在较低温度下在与镓及铝分离的位置处将氮导入处理腔室。不同温度造成气体混合在一起、反应且沉积于基板上，且极少或没有沉积于腔室壁上。
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公开(公告)号：CN102414790A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201080019343.2
申请日：2010-04-09
Applicant: 应用材料公司
CPC classification number: C30B29/403 , C23C16/34 , C23C16/4401 , C23C16/45565 , C23C16/46 , C30B25/02 , C30B29/406 , Y10T137/479 , Y10T137/4807 , Y10T137/4824 , Y10T137/7504 , Y10T137/8376
Abstract: 本发明所公开的实施例一般涉及HVPE腔室。腔室可具有两个不同的前驱物源，两个不同的前驱物源与腔室耦接以便沉积两个不同层。举例而言，镓源与不同的铝源可耦接至处理腔室以便在相同处理腔室中分别地沉积氮化镓与氮化铝于基板上。可在较低温度下在与镓及铝不同的位置处将氮导入处理腔室。不同温度造成气体混合在一起、反应且沉积于基板上，且极少或没有沉积于腔室壁上。
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公开(公告)号：CN102576663A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201080041923.1
申请日：2010-07-16
Applicant: 应用材料公司
CPC classification number: H01L29/045 , H01L21/0237 , H01L21/0242 , H01L21/0243 , H01L21/02433 , H01L21/02439 , H01L21/02458 , H01L21/02488 , H01L21/0254 , H01L21/0262 , H01L21/02639 , H01L21/02647 , H01L29/04 , H01L33/007 , H01L33/12 , H01L33/16 , H01L33/22
Abstract: 一种沉积高品质低缺陷的单晶三族氮化物膜的方法。在此提供具有多个特征结构的图案化基材，该基材具有以间隔空间隔开的倾斜侧壁。三族氮化物膜是通过氢化物气相外延(HVPE)制程而沉积在图案化基材上。HVPE沉积制程形成三族氮化物膜，该三族氮化物膜在特征结构之间的间隔空间中具有第一晶体取向，而在倾斜侧壁上具有不同的第二晶体取向。间隔空间中的第一晶体取向接着蔓延盖过侧壁上的第二晶体取向，并且在制程中调转且终结形成于第一晶体取向中的贯穿式位错。
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公开(公告)号：CN102449743A
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN201080023547.3
申请日：2010-04-23
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/302 , H01L21/20 , H01L33/02 , H01S5/30
CPC classification number: H01L21/02658 , C23C16/0272 , C23C16/301 , C30B25/186 , C30B29/403 , H01L21/0242 , H01L21/02458 , H01L21/0254
Abstract: 本发明的实施例涉及制造诸如发光二极管(LEDs)或激光二极管(LDs)的器件的基材预处理设备与方法。本发明的一个实施例包括通过将含氧化铝基材的表面暴露于预处理气体混合物来预处理含氧化铝基材，其中预处理气体混合物包括氨(NH3)与卤素气体。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102414844B
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201080019514.1
申请日：2010-04-27
Applicant: 应用材料公司
Inventor： S·尼杰哈瓦 , B·H·伯罗斯 , 石川哲也 , O·克利里欧科 , A·瓦苏德范 , 苏杰 , D·H·考齐 , 常安中 , Y·梅尔尼克 , H·S·拉迪雅 , S·T·恩古耶 , L·庞
CPC classification number: H01L21/67109 , C30B25/02 , C30B29/406 , H01L21/0242 , H01L21/02458 , H01L21/0254 , H01L21/0262 , H01L21/67115 , H01L21/67167 , H01L21/67207 , H01L33/007
Abstract: 本发明大体而言提供了用于形成LED结构的装置和方法。本发明的一个实施例提供了一种用于制造复合氮化物结构的方法，包括：在第一处理腔室中，通过氢化物气相外延(HVPE)处理或金属有机化学气相沉积(MOCVD)处理在基板上形成包含第一III族元素和氮的第一层；在第二处理腔室中，通过MOCVD处理在第一层上形成包含第二III族元素和氮的第二层；以及通过MOCVD处理在第二层上形成包含第三III族元素和氮的第三层。
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公开(公告)号：CN102576663B
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201080041923.1
申请日：2010-07-16
Applicant: 应用材料公司
CPC classification number: H01L29/045 , H01L21/0237 , H01L21/0242 , H01L21/0243 , H01L21/02433 , H01L21/02439 , H01L21/02458 , H01L21/02488 , H01L21/0254 , H01L21/0262 , H01L21/02639 , H01L21/02647 , H01L29/04 , H01L33/007 , H01L33/12 , H01L33/16 , H01L33/22
Abstract: 一种沉积高品质低缺陷的单晶三族氮化物膜的方法。在此提供具有多个特征结构的图案化基材，该基材具有以间隔空间隔开的倾斜侧壁。三族氮化物膜是通过氢化物气相外延(HVPE)制程而沉积在图案化基材上。HVPE沉积制程形成三族氮化物膜，该三族氮化物膜在特征结构之间的间隔空间中具有第一晶体取向，而在倾斜侧壁上具有不同的第二晶体取向。间隔空间中的第一晶体取向接着蔓延盖过侧壁上的第二晶体取向，并且在制程中调转且终结形成于第一晶体取向中的贯穿式位错。
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公开(公告)号：CN102414844A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201080019514.1
申请日：2010-04-27
Applicant: 应用材料公司
Inventor： S·尼杰哈瓦 , B·H·伯罗斯 , 石川哲也 , O·克利里欧科 , A·瓦苏德范 , 苏杰 , D·H·考齐 , 常安中 , Y·梅尔尼克 , H·S·拉迪雅 , S·T·恩古耶 , L·庞
IPC: H01L33/00
CPC classification number: H01L21/67109 , C30B25/02 , C30B29/406 , H01L21/0242 , H01L21/02458 , H01L21/0254 , H01L21/0262 , H01L21/67115 , H01L21/67167 , H01L21/67207 , H01L33/007
Abstract: 本发明大体而言提供了用于形成LED结构的装置和方法。本发明的一个实施例提供了一种用于制造复合氮化物结构的方法，包括：在第一处理腔室中，通过氢化物气相外延(HVPE)处理或金属有机化学气相沉积(MOCVD)处理在基板上形成包含第一III族元素和氮的第一层；在第二处理腔室中，通过MOCVD处理在第一层上形成包含第二III族元素和氮的第二层；以及通过MOCVD处理在第二层上形成包含第三III族元素和氮的第三层。
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公开(公告)号：CN104485277B
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201410593230.3
申请日：2010-04-09
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/20
CPC classification number: C30B29/403 , C23C16/34 , C23C16/4401 , C23C16/45565 , C23C16/46 , C30B25/02 , C30B29/406 , Y10T137/479 , Y10T137/4807 , Y10T137/4824 , Y10T137/7504 , Y10T137/8376
Abstract: 本文所公开的实施例一般涉及HVPE腔室。腔室可具有两个不同的前驱物源，两个不同的前驱物源与腔室耦接以便沉积两个不同层。举例而言，镓源与不同的铝源可耦接至处理腔室以便在相同处理腔室中分别地沉积氮化镓与氮化铝于基板上。可在较低温度下在与镓及铝不同的位置处将氮导入处理腔室。不同温度造成气体混合在一起、反应且沉积于基板上，且极少或没有沉积于腔室壁上。
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公开(公告)号：CN104485277A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410593230.3
申请日：2010-04-09
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/20
CPC classification number: C30B29/403 , C23C16/34 , C23C16/4401 , C23C16/45565 , C23C16/46 , C30B25/02 , C30B29/406 , Y10T137/479 , Y10T137/4807 , Y10T137/4824 , Y10T137/7504 , Y10T137/8376
Abstract: 本文所公开的实施例一般涉及HVPE腔室。腔室可具有两个不同的前驱物源，两个不同的前驱物源与腔室耦接以便沉积两个不同层。举例而言，镓源与不同的铝源可耦接至处理腔室以便在相同处理腔室中分别地沉积氮化镓与氮化铝于基板上。可在较低温度下在与镓及铝不同的位置处将氮导入处理腔室。不同温度造成气体混合在一起、反应且沉积于基板上，且极少或没有沉积于腔室壁上。
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