-
公开(公告)号:CN114342060A
公开(公告)日:2022-04-12
申请号:CN202080062434.8
申请日:2020-07-22
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/683 , H01L21/687 , H01J37/32 , H01L21/67
Abstract: 示例性支撑组件可包括限定基板支撑表面的静电吸盘主体。所述组件可包括与静电吸盘主体耦接的支撑杆。所述组件可包括嵌入在静电吸盘主体内的加热器。所述组件还可包括在加热器与基板支撑表面之间嵌入静电吸盘主体内的电极。基板支撑组件可由在大于500℃或约为500℃的温度下和在大于600V或约为600V的电压下通过静电吸盘主体的小于4mA或约为4mA的泄漏电流来表征。
-
公开(公告)号:CN114375486A
公开(公告)日:2022-04-19
申请号:CN202080064017.7
申请日:2020-08-12
Applicant: 应用材料公司
Inventor: S·S·阿迪帕利 , 陈玥 , 蒋志钧 , S·斯里瓦斯塔瓦 , N·S·乔拉普尔 , D·R·B·拉杰 , G·奇可卡诺夫 , Q·马 , A·凯什里 , 韩新海 , G·巴拉苏布拉马尼恩 , D·帕德希
Abstract: 示例性半导体处理腔室可包括喷头。腔室还可包括基板支撑件,基板支撑件的特征在于面向喷头的第一表面。第一表面可经配置以支撑半导体基板。基板支撑件可限定在第一表面内居中的凹穴。凹穴可由外部径向壁所限定,外部径向壁的特征在于,与凹穴内的第一表面相距的高度大于或约为半导体基板的厚度的150%。
-
-
公开(公告)号:CN119948612A
公开(公告)日:2025-05-06
申请号:CN202380069046.6
申请日:2023-08-02
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/67
Abstract: 示例性半导体处理系统可包括与数个处理腔室耦接的气体源。气体源可包括控制器。每个腔室可包括具有前级管线和泵的排气组件。系统可包括与每个泵耦接的至少一个减排系统。系统可包括在每个泵与减排系统之间延伸的多个排气管线。系统可包括与每个排气管线耦接的稀释气体源。系统可包括在稀释气体源与每个排气管线之间耦接的质量流量控制器。系统可包括同泵与减排系统之间的每个排气管线耦接的温度传感器。温度传感器可与气体源的控制器通信地耦接,所述控制器可基于来自温度传感器的测量来控制气体到腔室的流量。
-
公开(公告)号:CN114375486B
公开(公告)日:2024-08-06
申请号:CN202080064017.7
申请日:2020-08-12
Applicant: 应用材料公司
Inventor: S·S·阿迪帕利 , 陈玥 , 蒋志钧 , S·斯里瓦斯塔瓦 , N·S·乔拉普尔 , D·R·B·拉杰 , G·奇可卡诺夫 , Q·马 , A·凯什里 , 韩新海 , G·巴拉苏布拉马尼恩 , D·帕德希
Abstract: 示例性半导体处理腔室可包括喷头。腔室还可包括基板支撑件,基板支撑件的特征在于面向喷头的第一表面。第一表面可经配置以支撑半导体基板。基板支撑件可限定在第一表面内居中的凹穴。凹穴可由外部径向壁所限定,外部径向壁的特征在于,与凹穴内的第一表面相距的高度大于或约为半导体基板的厚度的150%。
-
公开(公告)号:CN119096006A
公开(公告)日:2024-12-06
申请号:CN202380036181.0
申请日:2023-03-07
Applicant: 应用材料公司
IPC: C23C16/455
Abstract: 示例性模块化气体区块可包括具有入口端和出口端的主体。主体可限定沿着主体的长度的第一气体路径的部分,并且可限定沿着主体的宽度的第二气体路径。第一气体路径可包括被限定在主体内的通道段。入口端可限定与第一气体路径耦合的气体入口。主体可限定与第一气体路径耦合的第一流体端口。第一流体端口中的流体端口可与气体入口耦合。第一流体端口可经由相应的通道段彼此耦合。上表面可限定横向流体端口,所述横向流体端口沿着宽度与第一流体端口间隔开,并且经由第二气体路径与第一流体端口耦合。
-
-
-
-
-