在导电表面上沉积阻挡层的方法

    公开(公告)号:CN111512430A

    公开(公告)日:2020-08-07

    申请号:CN201880082786.2

    申请日:2018-12-21

    Abstract: 描述了优先于介电表面而在导电表面上选择性沉积阻挡层的方法。在一些实施方式中,将羧酸暴露于基板以选择性地形成阻挡层。在一些实施方式中,将酰肼暴露于基板,以选择性形成阻挡层。在一些实施方式中,将烷基膦酸暴露于基板,以选择性地形成阻挡层。在一些实施方式中,原位形成烷基膦酸且将该烷基膦酸暴露至基板。在一些实施方式中,在形成阻挡层之后,在介电表面上选择性地沉积层。

    在导电表面上沉积阻挡层的方法

    公开(公告)号:CN111512430B

    公开(公告)日:2023-09-26

    申请号:CN201880082786.2

    申请日:2018-12-21

    Abstract: 描述了优先于介电表面而在导电表面上选择性沉积阻挡层的方法。在一些实施方式中,将羧酸暴露于基板以选择性地形成阻挡层。在一些实施方式中,将酰肼暴露于基板,以选择性形成阻挡层。在一些实施方式中,将烷基膦酸暴露于基板,以选择性地形成阻挡层。在一些实施方式中,原位形成烷基膦酸且将该烷基膦酸暴露至基板。在一些实施方式中,在形成阻挡层之后,在介电表面上选择性地沉积层。

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