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公开(公告)号：CN117740144A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311552508.8
申请日：2023-11-21
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明涉及一种大口径激光光斑形貌的测量装置及方法，该装置包括：分光镜：设于待测激光器后，用于将待测激光器射出的大口径光束分成两路，分为第一光束和第二光束，分别用于能量监测和光斑形貌采集；能量监测模块：该模块包括依次设于分光镜之后的聚焦透镜、第一快门、第一衰减片和能量计，用于实时监测第一光束的能量波动；光斑形貌采集模块：该模块包括依次设于分光镜之后的第二衰减片、第二快门、CCD和二维电机，用于分区采集第二光束的CCD光斑图像，并基于第一光束的能量将所有分区采集的CCD光斑图像进行归一化后拼接，获得大口径激光光斑形貌。与现有技术相比，本发明具有测量口径大、拼接效果好等优点。
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公开(公告)号：CN117054053B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202311029401.5
申请日：2023-08-16
Applicant: 同济大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及反射望远镜焦面标定技术领域，且公开了一种用于反射望远镜焦面标定的装置及方法，用于反射望远镜焦面标定的装置包括辅助装调装置和望远镜组件，望远镜组件包括镜筒，镜筒设置在二维调节台上，镜筒内设置有望远镜主镜、主镜补偿器、望远镜次镜，镜筒的一侧设置有干涉仪，辅助装调装置安装在镜筒的另一侧。本发明采用上述用于反射望远镜焦面标定的装置及方法，通过利用超精密车削的辅助装调装置代替了探测器，能够实时根据干涉条纹确定焦面位置与姿态，适用于反射望远镜光学系统快速、精确装调，提高了装调效率，降低了研制周期与成本。
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公开(公告)号：CN117629586A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311554211.5
申请日：2023-11-21
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种大口径光斑形貌拼接的测量装置及方法，该装置包括：分光镜：设于待测激光器之后，用于将待测激光器射出的大口径光束分成两路，为第一光束和第二光束，分别用于光束稳定性测量和光斑形貌采集；光束稳定性监测模块：该模块包括依次设于分光镜之后的聚焦透镜、第一快门、第一衰减片和第一CCD，用于通过监测第一光束的稳定性情况，计算相对光束基准位置偏移量；光斑形貌采集模块：该模块包括依次设于分光镜之后的第二衰减片、第二快门、第二CCD和二维电机，用于基于偏移量逐个采集第二光束的ROI图像并进行拼接，得到全口径光斑形貌。与现有技术相比，本发明解决了脉冲激光光束抖动引起的拼接效果不佳问题。
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公开(公告)号：CN119124001B
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202411278096.8
申请日：2024-09-12
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明公开了一种基于自溯源光栅的外差式精密位移测量系统，属于精密位移测量技术领域。包括单频激光模块、移频模块、外差位移测量模块、自溯源光栅和信号处理模块。单频激光模块产生单频激光，经过移频模块，得到两个频率不同且偏振态互相正交的线偏振光，构成外差光源。外差激光经外差位移测量模块，入射至自溯源光栅上，衍射光沿原光路返回至外差位移测量模块，得到具有位移信息的测量信号与参考信号，最后通过信号处理模块解算出两路信号的相位差并做位移换算。实现一种具有高稳定性与分辨力，且位移量值独立溯源的超精密位移测量系统，兼具外差光栅干涉仪的抗环境干扰能力，有着测量高分辨力，测量结果独立且可靠溯源的优势。
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公开(公告)号：CN119126248B
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411284562.3
申请日：2024-09-13
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明公开了一种基于自溯源光栅的高精度MOEMS相对重力仪，属于检测仪表领域，包括MEMS谐振子、自溯源光栅干涉仪和数据处理模块，所述MEMS谐振子包括折叠梁、固定框架和质量块，所述折叠梁两端与所述固定框架内侧壁连接，所述质量块通过所述折叠梁支撑悬浮于所述固定框架中心，所述自溯源光栅干涉仪包括自溯源光栅和干涉测量读数头，所述自溯源光栅设置在所述质量块上。本发明采用上述的一种基于自溯源光栅的高精度MOEMS相对重力仪，具有极高测量度，并且位移测量可实时溯源，相比于传统MOMES相对重力仪能够提高其位移测量的准确度，减小重力加速度测量的非线性效应。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117723269B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202311558494.0
申请日：2023-11-21
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明涉及一种用于Nd：YAG激光器的偏振测量系统及方法，所述测量系统包括激光光闸、零级1/4波片、零级1/2波片、第一偏振分束立方、第二偏振分束立方、第一高灵敏能量计和第二高灵敏能量计，使用所述偏振测量系统测量偏振度时，对于椭圆偏振光，先使用所述零级1/4波片进行相位调制，以获得线偏振光；对于线偏振光，直接使用所述零级1/2波片进行相位延迟，以获得所需偏振方向的输出；通过对两台高灵敏能量计的示数进行读取和修正，获得最终的偏振测量结果。与现有技术相比，本发明可以得到Nd：YAG倍频/基频激光的准确偏振度，易于安装、使用简便。
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公开(公告)号：CN117629587A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311554216.8
申请日：2023-11-21
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种测量双波长激光光束质量因子的装置及方法，所述装置包括待测倍频激光器、两个基准激光器、五个双波长反射镜、四个双波长分光镜、中性密度衰减片、部分反射镜组、电动滤光片转轮、两个快门、消色差透镜、光束质量分析仪和两个可变光阑。与现有技术相比，本发明可以同时测量双波长激光的光束质量因子，具有测量效率高、操作简便以及测量准确度高等优点。
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公开(公告)号：CN119126248A
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202411284562.3
申请日：2024-09-13
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明公开了一种基于自溯源光栅的高精度MOEMS相对重力仪，属于检测仪表领域，包括MEMS谐振子、自溯源光栅干涉仪和数据处理模块，所述MEMS谐振子包括折叠梁、固定框架和质量块，所述折叠梁两端与所述固定框架内侧壁连接，所述质量块通过所述折叠梁支撑悬浮于所述固定框架中心，所述自溯源光栅干涉仪包括自溯源光栅和干涉测量读数头，所述自溯源光栅设置在所述质量块上。本发明采用上述的一种基于自溯源光栅的高精度MOEMS相对重力仪，具有极高测量度，并且位移测量可实时溯源，相比于传统MOMES相对重力仪能够提高其位移测量的准确度，减小重力加速度测量的非线性效应。
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公开(公告)号：CN117629584B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202311552506.9
申请日：2023-11-21
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种用于Nd：YAG激光器的全口径偏振测量系统及方法，所述全口径偏振测量系统包括精密圆孔、反变迹滤光片、零级1/4波片、零级1/2波片、薄膜偏振片和两台高损伤阈值能量计；使用所述全口径偏振测量系统进行测量时，对于基频激光，先使用所述零级1/4波片进行相位调制获得线偏振光，对于倍频激光，直接使用所述零级1/2波片进行相位延迟以获得所需偏振方向的输出；在获得待测激光所需偏振方向的输出后，通过两台高损伤阈值能量计完成待测激光全口径偏振度测量，并评价其区域稳定性。与现有技术相比，本发明具有测量效率和测量精度高，可重复性好，结构简单等优点。
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公开(公告)号：CN117723268B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202311552509.2
申请日：2023-11-21
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明涉及一种基于光学斩波器的激光抖动校准测量装置及方法，装置包括He‑Ne激光器、光学斩波器、光束质量分析仪、光电二极管、示波器和数字信号延时发生器，He‑Ne激光器发射出连续激光形成光路，光路上依次设有光学斩波器和光束质量分析仪，示波器与光电二极管相连，光电二极管朝向光束质量分析仪，示波器和数字信号延时发生器连接；激光穿过光学斩波器形成脉冲激光，示波器与数字信号延时发生器协同实现信号触发同步，脉冲激光照射在光束质量分析仪上成像光斑，基于光斑数据计算，得到激光抖动性参数。与现有技术相比，本发明光斑信号触发同步，可获得不同脉宽频率的激光，可获得与连续激光一致的测量结果，实现系统抖动测量与校准。
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