一种具有低电阻纵向布线的MEMS谐振芯片结构

    公开(公告)号:CN118929560A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202410812768.2

    申请日:2024-06-22

    Abstract: 本发明涉及一种具有低电阻纵向布线的MEMS谐振芯片结构,属于MEMS技术领域。它包括由下到上依次设置的衬底层、具有谐振结构的结构层和盖帽层,衬底层和结构层之间通过衬底氧化层形成绝缘键合;盖帽层与结构层通过盖帽键合介质层键合连接;衬底层的内侧设有面向谐振结构的衬底空腔;盖帽层表面设有钝化层,盖帽层的内侧设有面向谐振结构的盖帽浅腔,盖帽层中设有用于信号传导的纵向布线,纵向布线周面设有用于和周侧体硅隔离的纵向绝缘环,纵向布线的外端与外露于钝化层表面的焊盘电性连接、内端通过金硅共晶反应所形成的共晶金属连接在谐振结构上。本发明可有效减小MEMS谐振芯片信号传输的寄生电阻和RC延迟,提高器件性能和稳定性。

    一种集成式MEMS真空度芯片制备方法

    公开(公告)号:CN118702055A

    公开(公告)日:2024-09-27

    申请号:CN202410812767.8

    申请日:2024-06-22

    Abstract: 本发明涉及一种集成式MEMS真空度芯片制备方法,属于微机械电子领域。该方法通过将不同结构的晶圆使用MEMS的制备工艺将压阻结构、皮拉尼结构和硅谐振片敏感结构集成在一起,利用微尺度效应,实现不同敏感结构在不同真空度气压段工作测量,即可实现低、中、高真空段的多领域真空度测量,提升了真空度传感器的量程与精度,且该集成结构采用MEMS体硅工艺制作方法,可以实现批量一体化制造。

    一种压阻式三轴加速度计的制备方法

    公开(公告)号:CN119224371A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202411310146.6

    申请日:2024-09-19

    Abstract: 本发明涉及一种压阻式三轴加速度计制备方法,包括以下步骤,1.在双抛硅片(1)制作空腔(4)和Z轴方向止挡(5);3.将双抛硅片(2)与双抛硅片(1)键合在一起并制作XYZ轴敏感结构(7、8、9)、XYZ轴止挡(10、11);4.在双抛硅片(2)上制作压阻结构(12)和引线(13);5.在双抛硅片(3)制作空腔(14)和Z轴止挡(15)以及通孔(16),通孔填充poly硅(18);6.将双抛硅片(3、2、1)键合,形成本发明的一种压阻式三轴加速度计。本发明的优点,采用全硅结构避免了不同材料之间的应力失配,止挡结构提升了加速度计抗过载能力,不同方向的加速度敏感结构相互独立,避免了不同方向加速度检测存在的干扰。

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