MoS2材料的制备方法及忆阻器
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118302035A

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN202410547113.7

    申请日:2024-05-06

    Abstract: 本发明公开了一种MoS2材料的制备方法及忆阻器,涉及半导体的技术领域,本发明旨在解决当前MoS2忆阻器能功耗高、电导态少的问题,本发明的制备方法包括以下步骤:S1、制备单层MoS2;S2、将载有MoS2的硅片置入真空退火炉中,从室温经过60‑120min升到400‑800℃,随后恒温保持0.5‑2h,随后自然冷却到室温取出。本发明的忆阻器包括了由上述制备方法所制备的MoS2材料。

    构筑低能耗忆阻器的方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119343048A

    公开(公告)日:2025-01-21

    申请号:CN202411233048.7

    申请日:2024-09-04

    Abstract: 本发明公开了一种构筑低能耗忆阻器的方法,涉及忆阻器构筑的技术领域,本发明旨在解决如何降低二维材料忆阻器的能耗的问题,本发明包括以下步骤:采用化学气相沉积法在带有300nmSiO2层的硅片上沉积单层MoS2;将沉积单层MoS2的硅片放入真空退火炉中做退火处理,得到二维MoS2材料;利用光刻工艺在新硅片上进行图案化,预制出底电极的位置,通过高真空热蒸镀的方法在预制底电极的位置蒸镀Au的底电极,并同时蒸镀Cr;在所述电极上蒸镀Sb2O3薄膜;将制得的二维MoS2材料通过湿法转移到制得的所述Sb2O3薄膜上,利用电子束曝光方法与刻蚀机刻蚀,将三角形的MoS2刻成条带状;利用热蒸镀方法蒸镀Au作为顶电极,将器件放入真空退火炉中进行退火,最终制成忆阻器。

    基于MXene墨水喷墨打印的突触晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN119451524A

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202411521799.9

    申请日:2024-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于MXene墨水喷墨打印的突触晶体管及其制备方法,涉及印刷仿生电子器件的技术领域,本发明旨在解决现有器件性能下降、高材料成本和高毒性的问题,本发明包括有以下步骤:选择衬底,并对所述衬底进行清洗;利用光刻工艺对所述衬底上的栅极、源极以及漏极进行图案化处理;在所述衬底上沉积出栅极、源极以及漏极;将MAX相材料通过湿化学刻蚀结合机械剥离得到少层MXene;通过液相级联离心法得到一定片径尺寸分布的MXene分散液;制备MXene墨水;对衬底的表面进行亲水处理,设置打印参数,将所述MXene墨水在沟道位置打印MXene薄膜;配制电解质溶液,在MXene沟道层、栅极和暴露的衬底上滴铸介质层,所述介质层覆盖沟道层并连接栅极,构筑MXene突触晶体管。

    共价官能化的MXene人工突触及其制备方法

    公开(公告)号:CN119451367A

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202411521532.X

    申请日:2024-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种共价官能化的MXene人工突触及其制备方法,涉及人工智能的技术领域,本发明旨在解决如何丰富类脑神经芯片的整体特性,推动人工智能技术的问题,本发明包括包括有以下步骤:选择衬底;利用光刻工艺在所述衬底上对栅极、源极以及漏极进行图案化处理,在利用电子束蒸发沉积金属层并剥离得到金属电极图案;利用光刻工艺在衬底上对沟道区域进行图案化处理;将MAX相材料通过原位酸刻蚀结合机械剥离得到少层T i3C2TX MXene;通过涂层工艺在所述衬底上形成均匀的T i3C2TX MXene薄膜,并通过剥离得到沟道区域图案;制备碘鎓盐溶液,制备好的器件浸入到碘鎓盐溶液中使其完成共价官能化;配制电解质溶液,在T i3C2TX MXene沟道层、栅极和暴露的所述衬底上滴铸电解质。

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