光学微纳谐振腔结构及其制作方法

    公开(公告)号:CN106145021B

    公开(公告)日:2017-12-29

    申请号:CN201510137590.7

    申请日:2015-03-26

    Abstract: 本发明提供一种光学微纳谐振腔结构及其制作方法,所述光学微纳谐振腔结构包括两个对工作电磁波具有全反射功能的单排粒子链,所述单排粒子链由多个间隔排列的粒子组成,所述两个单排粒子链之间的间隔距离使得所述光学微纳谐振腔结构的共振波长为工作电磁波的波长。本发明利用了单排粒子链对于特定偏振光的全反射特性,通过优化单排粒子链的结构以及两个单排粒子链之间的距离,获得了一种新型的高品质因子光学微纳谐振腔。本发明利用两个单排粒子链的全反射所设计的谐振腔,具有低损耗、高品质因子和小尺寸的特点,在集成光学领域具有很好的应用前景。

    一种利用离子注入实现目标薄膜纵向均匀掺杂的方法

    公开(公告)号:CN109727850A

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201811564257.4

    申请日:2018-12-20

    Abstract: 本发明提供一种利用离子注入实现目标薄膜纵向均匀掺杂的方法,包括于目标薄膜的厚度方向上选取N个不同的注入深度峰值点;确定待注入离子并提供M组预设注入条件以模拟待注入离子注入目标薄膜时的离子注入过程,得到注入能量-注入深度分布函数组,从而得到N个与注入深度峰值点一一对应的注入能量值;设定目标薄膜纵向掺杂的总目标浓度,并基于总目标浓度得到N个与注入能量值一一对应的注入剂量值,且N个注入剂量值之和的方差最小化;基于注入能量值及注入剂量值形成N组注入条件以控制待注入离子注入至目标薄膜,实现通过N次离子注入在纵向上叠加实现目标薄膜的纵向均匀掺杂。通过本发明解决了现有离子注入方法无法实现纵向均匀掺杂的问题。

    利用薄膜转移技术制备薄膜体声波器件的方法

    公开(公告)号:CN106209003B

    公开(公告)日:2019-03-22

    申请号:CN201610527875.6

    申请日:2016-07-06

    Abstract: 本发明提供一种利用薄膜转移技术制备薄膜体声波器件的方法,包括:1)提供氧化物单晶衬底;2)自注入面向所述氧化物单晶衬底内进行离子注入,而后在注入面形成下电极;或在注入面形成下电极,而后自注入面向氧化物单晶衬底内进行离子注入;3)提供支撑衬底,将步骤2)得到的结构与支撑衬底键合;4)沿缺陷层剥离部分氧化物单晶衬底,得到氧化物单晶薄膜,氧化物单晶薄膜及下电极转移至支撑衬底上;5)腐蚀支撑衬底以形成空腔;6)在氧化物单晶薄膜表面形成上电极。本发明提供一种新的方法制备金属电极‑单晶氧化物‑金属电极的薄膜体声波滤波器核心结构,有效解决金属电极间无法制备单晶氧化物的问题。

    利用离子注入剥离技术制备单晶氧化物阻变存储器的方法

    公开(公告)号:CN105895801B

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201610527906.8

    申请日:2016-07-06

    Abstract: 本发明提供一种利用离子注入剥离技术制备单晶氧化物阻变存储器的方法,包括以下步骤:1)提供氧化物单晶衬底;2)自注入面向所述氧化物单晶衬底内进行离子注入,而后在注入面形成下电极;或在注入面形成下电极,而后自注入面向氧化物单晶衬底内进行离子注入;3)提供支撑衬底,将步骤2)得到的结构与支撑衬底键合;4)沿缺陷层剥离部分氧化物单晶衬底,以得到氧化物单晶薄膜,并使得到的氧化物单晶薄膜及下电极转移至支撑衬底上;5)在氧化物单晶薄膜表面形成上电极。本发明有效地降低了剥离及转移薄膜所需的离子总注入剂量,进而缩短了制备周期,节约了生产成本;同时,使用该方法还可以解决部分材料使用单一离子注入无法实现剥离的问题。

    一种InP薄膜复合衬底的制备方法

    公开(公告)号:CN105374664A

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201510695855.5

    申请日:2015-10-23

    CPC classification number: H01L21/02392

    Abstract: 本发明提供一种InP薄膜复合衬底的制备方法,包括步骤:提供InP衬底,所述InP衬底具有注入面,从所述注入面进行离子注入,在所述InP衬底的预设深度处形成缺陷层;然后提供支撑衬底,将经过离子注入的衬底的注入面与机械强度较高、密度较小的支撑衬底键合形成复合结构;最后将InP沿缺陷层分离,形成高机械强度衬底上的InP薄膜复合衬底。本发明通过离子注入与键合,可以形成具有高机械强度的InP薄膜复合衬底,薄膜中的位错密度明显低于异质外延的InP薄膜,并且可以从一片InP材料上循环分离出来很多薄膜,提高InP材料的利用率,降低InP耗材成本。利用低密度的支撑衬底可以降低整个复合衬底的重量,适合空间应用。

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