一种圆片级真空封装结构及其制作方法

    公开(公告)号:CN107188110B

    公开(公告)日:2019-05-03

    申请号:CN201710374845.0

    申请日:2017-05-24

    Abstract: 本发明公开了一种圆片级真空封装结构及其制作方法,涉及微电子机械系统与圆片级封装技术领域;包括第一圆片和第二圆片,第一圆片上设有空腔,第一圆片下部设有键合区,第一圆片与第二圆片通过键合区进行圆片键合;第二圆片上设有待封装的器件;第一圆片上设有排气通孔,排气通孔与空腔相靠近;方法简单,通过在空腔邻近区域制备排气通孔,可以在很短的时间内,使空腔内的真空达到或接近键合设备腔室的真空。

    一种圆片级封装结构以及制造方法

    公开(公告)号:CN107244647A

    公开(公告)日:2017-10-13

    申请号:CN201710374164.4

    申请日:2017-05-24

    CPC classification number: B81B7/0035 B81C1/00277 B81C2203/0118

    Abstract: 本发明公开了一种圆片级封装结构以及制造方法,涉及微电子机械系统与圆片级封装技术领域;包括第一圆片和第二圆片,第一圆片和第二圆片通过键合区键合,第一圆片上设有空腔;第一圆片上设有与每个空腔都相连通的若干个排气通孔,排气通孔端部设有自封闭结构,自封闭结构不堵塞排气通孔;方法简单,空腔上设置排气通孔,利用排气通孔将空腔内的气体分子迅速排出,使空腔内的真空达到或接近键合设备腔室的真空,键合完毕后能将排气通孔封闭形成真空的空腔。

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