一种薄膜体声波滤波器晶圆级封装方法及其结构

    公开(公告)号:CN110729979B

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN201910937624.9

    申请日:2019-09-30

    IPC分类号: H03H9/17 H03H9/02 H01L23/31

    摘要: 本发明属于声波滤波器技术领域,涉及一种薄膜体声波滤波器晶圆级封装方法及其结构;封装方法包括在同一片硅晶圆上加工形成多个芯片;将陶瓷基板表面制作多个与芯片形状匹配的金属图形,针对外部引线制作出相应的导通孔;将芯片和金属图形正对后进行金属键合,并形成键合层金属,从导通孔连接至晶圆;在陶瓷基板背向芯片的一面镀制金属种子层再进行电镀,使导通孔内填充满金属,并去除以外的金属种子层;再制作外电极和外部电路结构,在外电极表面制作外部焊球。本发明通过金属键合,使器件内部与外部形成了隔绝的两个部分,从而保护裸芯片表面不被污染以及密封的效果能满足气密(56)对比文件US 2010301703 A1,2010.12.02P.R. Morrow 等.Three-dimensionalwafer stacking via Cu-Cu bondingintegrated with 65-nm strained-Si/low-kCMOS technology《.IEEE Electron DeviceLetters》.2006,第27卷(第5期),335-337.Steen, S.E.a 等.Overlay as the key todrive wafer scale 3D integration.《Microelectronic Engineering》.2007,第84卷(第5-8期),1412-1415.陈永星 等.X波段铁氧体微带环行器阵列封装设计与仿真《.磁性材料及器件》.2019,第50卷(第3期),25-28+69.王祥邦 等.基于晶圆级封装技术的声表面波滤波器《.电子与封装》.2019,第19卷(第7期),1-3+32.肖立 等.晶圆级封装对声表滤波器性能的影响《.压电与声光》.2016,第38卷(第4期),628-632.

    一种低温漂薄膜体声波滤波器的膜层结构及制备方法

    公开(公告)号:CN112865743A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202110017097.7

    申请日:2021-01-07

    摘要: 本发明涉及薄膜体声波滤波器工艺技术领域,具体涉及一种低温漂薄膜体声波滤波器的膜层结构及制备方法,包括硅晶圆衬底,所述硅晶圆衬底的中央开设有空腔,在所述硅晶圆衬底上依次制备下电极、压电层、上电极1、温补层、上电极和保护层,所述温补层设置于上电极1和上电极之间,且温补层包裹于上电极1。采用复合上电极的膜层结构,在常规上电极中插入温补层,进而影响压电材料的取向变差,使压电材料的有效机电耦合系数下降;复合上电极不影响压电层的取向和有效机电耦合系数,可降低对薄膜体声波滤波器性能的影响。

    一种温度补偿型薄膜体滤波器及膜层制备方法

    公开(公告)号:CN112803915A

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN202110017007.4

    申请日:2021-01-07

    IPC分类号: H03H9/17 H03H3/02 H03H9/02

    摘要: 本发明属于薄膜体声波滤波器工艺技术领域,具体涉及一种温度补偿型薄膜体滤波器及膜层制备方法,该滤波器的电路结构包括串联谐振器和并联谐振器,谐振器的膜层结构包括硅晶圆衬底,在硅晶圆衬底的中央开设有空腔;串联谐振器的膜层结构还包括在所述硅晶圆衬底上依次制备下电极、压电层、上电极、温补层以及保护层;并联谐振器的膜层结构还包括在所述硅晶圆衬底上依次制备下电极、压电层、上电极、加厚层、温补层以及保护层;本发明采用直接在上电极上生长温补层,压电层直接淀积于下电极之上,避免了压电层直接生长在二氧化硅薄膜上;在上电极上生长温补层不影响压电层的取向和有效机电耦合系数,可降低对薄膜体声波滤波器性能的影响。

    一种声表面波器件晶圆级封装结构及其封装方法

    公开(公告)号:CN109286385A

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201811070101.0

    申请日:2018-09-13

    IPC分类号: H03H9/02 H03H9/10

    摘要: 本发明公开了一种声表面波器件晶圆级封装结构,包括功能晶圆和封盖晶圆,封盖晶圆上朝向每片功能芯片的工作面的外围区域的位置具有凸起的键合台阶部,封盖晶圆与功能芯片通过键合台阶部键合连接在一起;功能芯片工作面上的电路的连接部通过导通孔与外部电极连接。与现有技术相比,本发明中功能晶圆和封盖晶圆直接键合,不需要聚合物框粘接,降低了加工成本,并可以提高器件的可靠性;本发明还公开了一种声表面波器件晶圆级封装结构的封装方法,此方法无需将功能晶圆切割成单颗芯片,直接将整片包括多片功能芯片的功能晶圆直接与封盖晶圆进行键合,大大提高了加工效率,便于大批量生产。