一种薄膜体声波滤波器气密性晶圆级封装结构及封装方法

    公开(公告)号:CN115242204A

    公开(公告)日:2022-10-25

    申请号:CN202210884189.X

    申请日:2022-07-25

    IPC分类号: H03H3/02 H03H9/10

    摘要: 本专利涉及一种薄膜体声波滤波器气密性晶圆级封装结构和封装方法,属于薄膜体声波滤波器晶圆封装技术领域;所述封装结构包括功能晶圆和玻璃晶圆,所述功能晶圆与所述玻璃晶圆通过阳极键合连接;所述功能晶圆包括硅衬底,所述硅衬底上开设有空腔,在所述硅衬底上设置有掩埋所述空腔的膜层结构,在所述膜层结构的两肩处形成有向上凸起的焊盘电极;所述玻璃晶圆上开设有凹槽并形成封盖,所述封盖覆盖所述焊盘电极和所述膜层结构,且通过盖沿与功能晶圆连接;在所述封盖的顶盖处开设有盲孔,在所述盲孔内填充有电镀的金属材料,将所述焊盘电极从盲孔引出;本专利采用硅和玻璃进行阳极键合,降低工艺难度,同时节约成本。

    一种薄膜体声波器件封装结构及其封装方法

    公开(公告)号:CN111555732B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202010397564.9

    申请日:2020-05-12

    IPC分类号: H03H9/17 H03H3/02

    摘要: 本专利涉及一种薄膜体声波器件封装结构及其封装方法,属于薄膜体声波滤波器晶圆封装技术领域;所述封装结构包括硅晶圆以及有机感光膜支撑墙和有机感光膜盖板,在硅晶圆上方形成具有膜层结构的功能芯片;在功能芯片的两肩处形成有向上凸起的焊盘电极;在焊盘电极的周围安装有机感光膜支撑墙,所述有机感光膜支撑墙通过热固化连接在硅晶圆上;在功能芯片正下方设置有功能区下空腔;在所述有机感光膜支撑墙的上方安装有机感光膜盖板,从而在功能芯片上方形成功能区上空腔;在所述有机感光膜盖板以及所述有机感光膜支撑墙上设置有相同圆心不同直径的电极孔,并在电极孔内镀有金属。本专利制备工艺简单、成本较低、适合大规模稳定量产。

    一种薄膜体声波滤波器晶圆级封装方法及其结构

    公开(公告)号:CN110729979B

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN201910937624.9

    申请日:2019-09-30

    IPC分类号: H03H9/17 H03H9/02 H01L23/31

    摘要: 本发明属于声波滤波器技术领域,涉及一种薄膜体声波滤波器晶圆级封装方法及其结构;封装方法包括在同一片硅晶圆上加工形成多个芯片;将陶瓷基板表面制作多个与芯片形状匹配的金属图形,针对外部引线制作出相应的导通孔;将芯片和金属图形正对后进行金属键合,并形成键合层金属,从导通孔连接至晶圆;在陶瓷基板背向芯片的一面镀制金属种子层再进行电镀,使导通孔内填充满金属,并去除以外的金属种子层;再制作外电极和外部电路结构,在外电极表面制作外部焊球。本发明通过金属键合,使器件内部与外部形成了隔绝的两个部分,从而保护裸芯片表面不被污染以及密封的效果能满足气密(56)对比文件US 2010301703 A1,2010.12.02P.R. Morrow 等.Three-dimensionalwafer stacking via Cu-Cu bondingintegrated with 65-nm strained-Si/low-kCMOS technology《.IEEE Electron DeviceLetters》.2006,第27卷(第5期),335-337.Steen, S.E.a 等.Overlay as the key todrive wafer scale 3D integration.《Microelectronic Engineering》.2007,第84卷(第5-8期),1412-1415.陈永星 等.X波段铁氧体微带环行器阵列封装设计与仿真《.磁性材料及器件》.2019,第50卷(第3期),25-28+69.王祥邦 等.基于晶圆级封装技术的声表面波滤波器《.电子与封装》.2019,第19卷(第7期),1-3+32.肖立 等.晶圆级封装对声表滤波器性能的影响《.压电与声光》.2016,第38卷(第4期),628-632.

    膜层结构、其制造方法及包括该膜层结构的滤波器

    公开(公告)号:CN110460320A

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201910720371.X

    申请日:2019-08-06

    IPC分类号: H03H3/04 H03H3/02

    摘要: 本发明属于薄膜体声波滤波器工艺技术领域,具体提出了一种膜层结构、其制造方法及包括该膜层结构的滤波器;所述膜层结构包括衬底,在衬底的顶部开设有一空腔,在衬底的上方制备有复合上电极和复合下电极,在复合上、下电极之间设置有压电层;所述复合上电极包括从上至下设置的上电极、第一温度补偿层以及上电极插入层;所述复合下电极包括从上至下设置的下电极插入层、第二温度补偿层以及下电极。通过本发明提出的膜层结构,有利于压电薄膜C轴择优取向生长,得到取向性好、晶粒生长完整的压电薄膜,另外能够保证采用该膜层结构的滤波器具有较低的插入损耗以及保持带宽稳定。

    一种薄膜体声波滤波器的膜层结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN111277240B

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN202010154050.0

    申请日:2020-03-07

    IPC分类号: H03H9/54 H03H3/02

    摘要: 本发明属于薄膜体声波滤波器工艺技术领域,具体涉及一种薄膜体声波滤波器的膜层结构及其制备方法;所述膜层结构包括硅晶圆衬底,在所述硅晶圆衬底的中央开设有空腔,在所述硅晶圆衬底上依次制备支撑层、下电极、压电层、上电极、保护层以及加厚层;所述下电极的厚度为50~350nm;所述压电层为氮化铝,其厚度为300~1000nm;所述上电极的厚度为50~350nm;所述加厚层为氮化硅,其厚度为30~300nm;本发明在不改变滤波器性能的情况下采用氮化硅代替钼,可以增加加厚层的厚度,减小工艺难度,提高膜厚的精度,进而提高滤波器的高频性能;另外,本发明在保护层上制作加厚层,可避免对电极的影响和滤波器性能的影响。

    一种低温漂薄膜体声波滤波器的膜层结构及制备方法

    公开(公告)号:CN112865743A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202110017097.7

    申请日:2021-01-07

    摘要: 本发明涉及薄膜体声波滤波器工艺技术领域,具体涉及一种低温漂薄膜体声波滤波器的膜层结构及制备方法,包括硅晶圆衬底,所述硅晶圆衬底的中央开设有空腔,在所述硅晶圆衬底上依次制备下电极、压电层、上电极1、温补层、上电极和保护层,所述温补层设置于上电极1和上电极之间,且温补层包裹于上电极1。采用复合上电极的膜层结构,在常规上电极中插入温补层,进而影响压电材料的取向变差,使压电材料的有效机电耦合系数下降;复合上电极不影响压电层的取向和有效机电耦合系数,可降低对薄膜体声波滤波器性能的影响。

    一种温度补偿型薄膜体滤波器及膜层制备方法

    公开(公告)号:CN112803915A

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN202110017007.4

    申请日:2021-01-07

    IPC分类号: H03H9/17 H03H3/02 H03H9/02

    摘要: 本发明属于薄膜体声波滤波器工艺技术领域,具体涉及一种温度补偿型薄膜体滤波器及膜层制备方法,该滤波器的电路结构包括串联谐振器和并联谐振器,谐振器的膜层结构包括硅晶圆衬底,在硅晶圆衬底的中央开设有空腔;串联谐振器的膜层结构还包括在所述硅晶圆衬底上依次制备下电极、压电层、上电极、温补层以及保护层;并联谐振器的膜层结构还包括在所述硅晶圆衬底上依次制备下电极、压电层、上电极、加厚层、温补层以及保护层;本发明采用直接在上电极上生长温补层,压电层直接淀积于下电极之上,避免了压电层直接生长在二氧化硅薄膜上;在上电极上生长温补层不影响压电层的取向和有效机电耦合系数,可降低对薄膜体声波滤波器性能的影响。