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公开(公告)号：CN107393590B
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN201710218129.3
申请日：2017-04-05
Applicant: 三星电子株式会社 , 延世大学校产学协力团
IPC: G11C16/08
Abstract: 一种包括排列在多个单元串中的多个存储单元的非易失性存储设备的编程方法包括：顺序地在第一间隔期间将第一通过电压施加到连接到多个存储单元的字线的未选择的字线并在第二间隔期间将高于第一通过电压的第二通过电压施加到未选择的字线；以及在第一间隔中将编程电压施加到连接到多个存储单元的字线的选择的字线之后，将低于编程电压的放电电压施加到选择的字线，以及在第二间隔期间将编程电压施加到选择的字线。
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公开(公告)号：CN107230496B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201710187763.5
申请日：2017-03-27
Applicant: 三星电子株式会社 , 延世大学校产学协力团
IPC: G11C16/08
Abstract: 存储器设备的数据读取操作方法包括：将具有第一准备电平和第一目标电平的读取电压施加到存储器设备中的选择的单元的字线以读取选择的单元的编程状态，将具有第二准备电平和第二目标电平的第一读取通过电压施加到不与选择的单元相邻且在与选择的单元相同的串中的第一未选择的单元的至少一个字线，并将具有第三目标电平的第二读取通过电压施加到与选择的单元相邻的至少一个第二未选择的单元的字线。
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公开(公告)号：CN107230496A
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201710187763.5
申请日：2017-03-27
Applicant: 三星电子株式会社 , 延世大学校产学协力团
IPC: G11C16/08
CPC classification number: G11C16/3459 , G11C11/5642 , G11C16/0483 , G11C16/08 , G11C16/26 , G11C16/28
Abstract: 存储器设备的数据读取操作方法包括：将具有第一准备电平和第一目标电平的读取电压施加到存储器设备中的选择的单元的字线以读取选择的单元的编程状态，将具有第二准备电平和第二目标电平的第一读取通过电压施加到不与选择的单元相邻且在与选择的单元相同的串中的第一未选择的单元的至少一个字线，并将具有第三目标电平的第二读取通过电压施加到与选择的单元相邻的至少一个第二未选择的单元的字线。
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公开(公告)号：CN118298876A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202311413300.8
申请日：2023-10-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C16/08
Abstract: 提供了非易失性存储器件及其操作方法。所述操作方法包括：接收读取命令；在字线设置时段期间将对多条未选接地选择线施加的电压从关断电压增大到接通电压；对与第一工艺特性相对应的第一选定接地选择线施加第一电压，直到所述字线设置时段内的第一时间；在所述字线设置时段内的所述第一时间之后，对所述第一选定接地选择线施加第二电压；对与第二工艺特性相对应的第二选定接地选择线施加所述第一电压，直到所述字线设置时段内早于所述第一时间的第二时间；以及在所述字线设置时段内的所述第二时间之后，对所述第二选定接地选择线施加所述第二电压。
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公开(公告)号：CN107393590A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710218129.3
申请日：2017-04-05
IPC: G11C16/08
CPC classification number: G11C16/10 , G11C11/5628 , G11C16/0466 , G11C16/0483 , G11C16/24 , G11C16/3459 , G11C16/08
Abstract: 一种包括排列在多个单元串中的多个存储单元的非易失性存储设备的编程方法包括：顺序地在第一间隔期间将第一通过电压施加到连接到多个存储单元的字线的未选择的字线并在第二间隔期间将高于第一通过电压的第二通过电压施加到未选择的字线；以及在第一间隔中将编程电压施加到连接到多个存储单元的字线的选择的字线之后，将低于编程电压的放电电压施加到选择的字线，以及在第二间隔期间将编程电压施加到选择的字线。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118366525A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410062856.5
申请日：2024-01-16
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供非易失性存储器装置及其恢复方法、以及半导体装置，所述非易失性存储器装置包括：存储器块，包括多个单元串、第一串选择线和第二串选择线，所述多个单元串中的每个包括多个串选择晶体管和多个存储器单元，第一串选择线连接到所述多个单元串中的第一单元串的串选择晶体管，第二串选择线连接到所述多个单元串中的第二单元串的串选择晶体管；以及控制电路，被配置为控制恢复操作以不同的驱动强度将恢复电压施加到第一串选择线和第二串选择线。
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公开(公告)号：CN116828858A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202211630158.8
申请日：2022-12-13
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种半导体器件，包括：CSL驱动器，在衬底上；CSP，在CSL驱动器上；栅电极结构，在CSP上并且包括在垂直于衬底上表面的第一方向上彼此间隔开的栅电极，每一个栅电极在平行于衬底上表面第二方向上延伸；存储器沟道结构，在CSP上并且延伸穿过栅电极结构并连接到CSP；第一上布线结构，接触CSP的上表面；第一贯通过孔，沿第一方向延伸穿过CSP并电连接到第一上布线结构和CSL驱动器，但不接触CSP；以及虚设布线结构，接触CSP的上表面，但不电连接到CSL驱动器。
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公开(公告)号：CN116153366A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211413041.4
申请日：2022-11-11
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种非易失性存储器装置及其操作方法。非易失性存储器装置的操作方法，非易失性存储器装置包括各自包括第一堆叠件和邻近于第一堆叠件的第二堆叠件的多个单元串，操作方法包括步骤：通过将包括第一多个电压电平的编程电压施加至连接至多个单元串中的每一个的第一堆叠件的选择字线，在其中多个编程循环被执行的时间段期间执行第一编程操作；在该时间段期间，将包括第二多个电压电平的第二电压施加至连接至多个单元串中的每一个的第一堆叠件的非选择字线；以及在该时间段期间，将第三电压保持在第一电平，第三电压施加至连接至多个单元串中的每一个的第二堆叠件的非选择字线。
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公开(公告)号：CN116137176A
公开(公告)日：2023-05-19
申请号：CN202211431295.9
申请日：2022-11-14
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本公开提供了一种存储器件的操作方法、编程方法及存储器系统的操作方法。公开了一种包括沿与衬底垂直的方向堆叠的多个存储单元的存储器件的操作方法。所述方法包括：基于第一编程参数来对来自所述多个存储单元当中的连接到选定字线的选定存储单元执行第一编程循环至第(n‑1)编程循环；以及在所述第(n‑1)编程循环被执行之后，基于与所述第一编程参数不同的第二编程参数来对所述选定存储单元执行第n编程循环至第k编程循环。在此，n是大于1的整数并且k是大于或等于n的整数。所述第一编程参数和所述第二编程参数中的每一者包括在所述第一编程循环至所述第k编程循环中使用的编程电压增量、2级验证范围和位线强制电压中的至少两者。
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公开(公告)号：CN108288485A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201810017036.9
申请日：2018-01-08
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C16/12
CPC classification number: G11C16/08 , G11C16/0483 , G11C16/12 , G11C16/3495 , H01L27/11556 , H01L27/11582
Abstract: 一种非易失性存储器件的高压开关电路包括高压晶体管、逻辑和高压开关。高压晶体管基于编程启动电压而导通，并且向第一存储块传送编程电压。所述逻辑基于使能信号和开关控制信号来产生路径选择信号，所述开关控制信号基于非易失性存储器件的操作参数或针对第一存储块的至少一部分的存取地址之一。在第一存储块上的编程操作期间激活所述使能信号。高压开关基于路径选择信号经由多个传送路径之一来向高压晶体管的栅极传送编程启动电压。结果，消除了由编程启动电压产生的负偏置温度不稳定性(NBTI)的影响。
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