一种相变存储器单元结构、相变存储器阵列及驱动方法

    公开(公告)号:CN115631776A

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN202211143725.7

    申请日:2022-09-20

    Abstract: 本发明涉及一种相变存储器单元结构、相变存储器阵列及驱动方法,其中,相变存储器单元结构包括第一相变器件、第二相变器件、第一选通器件、第二选通器件和第三选通器件;第一相变器件的第一端连接第一位线,第二相变器件的第一端连接第二位线;第一相变器件的第二端、第一选通器件的漏极和第三选通器件的漏极连接在一起;第二相变器件的第二端、第二选通器件的漏极和第三选通器件的源极连接在一起;第一选通器件的栅极和第二选通器件的栅极连接在一起作为相变存储器单元的字线,第三选通器件的栅极连接选通线,第一选通器件的源极和第二选通器件的源极均接地。本发明能够降低相变存储器芯片的成本。

    一种无片外电容型LDO瞬态响应增强电路

    公开(公告)号:CN113485520B

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN202110911362.6

    申请日:2021-08-10

    Abstract: 本发明涉及一种无片外电容型LDO瞬态响应增强电路,包括:OTA电路,包括第一支路和第二支路,所述第一支路和第二支路在产生上冲电压和下冲电压时会产生电流跳变;下冲检测电压支路,分别与所述第一支路和第二支路相连,用于根据所述第一支路和第二支路产生的电流跳变控制泄放支路;所述泄放支路用于为功率管提供栅极到地的放电通路;上冲检测电压支路,分别与所述第一支路和第二支路相连,用于根据所述第一支路和第二支路产生的电流跳变控制充电支路;所述充电支路用于为所述功率管提供电源到栅极的充电通路。本发明能显著提高LDO瞬态响应。

    一种相变存储单元布尔逻辑的图像处理装置及方法

    公开(公告)号:CN113380296A

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN202110495178.8

    申请日:2021-05-07

    Abstract: 本发明涉及一种相变存储单元布尔逻辑的图像处理装置及方法,装置包括:相变存储阵列和写电路,所述相变存储阵列中的每个相变存储单元均串联一个选通管,所述相变存储单元的一端与位线相连,另一端与所述选通管的漏端相连,所述选通管的栅端与字线相连,源端接地;所述写电路将初始图像信息写入所述相变存储阵列中,所述选通管用于选通相变存储单元,使得相变存储单元中存储的信息与位线上的脉冲信号进行逻辑运算,以实现对初始图像信息的处理。本发明能够减少图像与模板数据库的匹配计算量,实现高效的图像近似匹配。

    一种3dB带宽与相位裕度可调的运放补偿电路

    公开(公告)号:CN112367054A

    公开(公告)日:2021-02-12

    申请号:CN202011199579.0

    申请日:2020-11-02

    Abstract: 本发明涉及一种3dB带宽与相位裕度可调的运放补偿电路,包括依次连接的晶体管衬底电平产生电路、多路选择器电路和晶体管电容电路;所述晶体管衬底电平产生电路用于产生多路晶体管电容衬底电压信号;所述多路选择器电路用于从所述多路晶体管电容衬底电压信号中选择一路电压信号作为晶体管电容衬底所需的电压信号;所述晶体管电容电路位于运算放大器的输出端,用于根据所述晶体管电容衬底所需的电压信号调节所述运算放大器的3dB带宽和相位裕度。

    一种减少电容阵列的逐次逼近型模数转换器及其工作方法

    公开(公告)号:CN112350728A

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN202011178033.7

    申请日:2020-10-29

    Abstract: 本发明涉及一种减少电容阵列的逐次逼近型模数转换器,包括电容阵列、开关阵列、电压比较器和逻辑控制模块,所述电容阵列包括N个并联的电容,其中,第一个电容的容值为单位电容的容值C,所述第i个电容的电容的容值为2i‑2C,i≥2;所述开关阵列包括预比较开关,电容开关阵列和电压比较器参考电压开关;所述预比较开关在所述逻辑控制模块的控制下实现在采样阶段对输入电压信号的预比较;所述电容开关阵列在所述逻辑控制模块的控制下按照逐次逼近的逻辑实现采样、保持与电荷重分配的过程;所述电压比较器参考电压开关在所述逻辑控制模块的控制下实现所述电压比较器参考电压的选择。本发明还涉及上述模数转换器的工作方法。本发明可以减少电容阵列。

    相变存储器的数据读出电路及方法

    公开(公告)号:CN109903801A

    公开(公告)日:2019-06-18

    申请号:CN201910208832.5

    申请日:2019-03-19

    Abstract: 本发明提供一种相变存储器的数据读出电路及方法,包括:参考读电压产生电路、读电压预充电电路、目标相变存储单元、未选中相变存储单元、电压比较器电路;其中,所述参考读电压产生电路与所述电压比较器电路连接,所述读电压预充电电路与所述目标相变存储单元所在位线和所述未选中相变存储单元所在位线连接,所述目标相变存储单元与所述电压比较器电路连接,所述未选中相变存储单元与所述电压比较器电路连接,所述电压比较器电路与所述读电压预充电电路连接。本发明的相变存储器的数据读出电路及方法读出速度快、功耗低且误读率低。

    三维非易失性存储器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN106910743A

    公开(公告)日:2017-06-30

    申请号:CN201710218226.2

    申请日:2017-04-05

    CPC classification number: H01L27/115 H01L27/11578

    Abstract: 本发明提供一种三维非易失性存储器件及其制备方法,三维非易失性存储器件的制备方法包括如下步骤:1)提供一基板,于基板表面形成第一绝缘层和第一导电层交替叠置的第一叠层结构;2)于所述第一叠层结构的至少一侧形成与所述第一叠层结构平行间隔的第二叠层结构,所述第二叠层结构包括交替叠置的第二绝缘层和第二导电层,相邻的所述第一导电层与所述第二导电层位于不同的平面上;3)于所述第一叠层结构及所述第二叠层结构之间形成至少一个环形非易失材料层,所述环形非易失材料层与所述第一导电层及所述第二导电层相接触;4)于所述环形非易失材料层内侧形成一导电柱。本发明的三维非易失性存储器件具有存储密度高、存储单元串扰小等优点。

    三维存储器读出电路及其字线与位线电压配置方法

    公开(公告)号:CN106898371A

    公开(公告)日:2017-06-27

    申请号:CN201710102254.8

    申请日:2017-02-24

    CPC classification number: G11C7/12 G11C8/08

    Abstract: 本发明提供一种三维存储器读出电路及其字线与位线电压配置方法,包括:在对三维存储单元阵列进行读操作时,通过配置模块将所述三维存储单元阵列中的所有位线置为读不选择位线电压,将所述三维存储单元阵列中的所有字线置为读不选择字线电压;待脉冲信号到来后,将要读取的存储单元所在的位线置为读取电压Vread,将要读取的存储单元所在的字线置为0V;其中,所述读不选择位线电压介于Vread/2与Vread之间;所述读不选择字线电压介于Vread/2与Vread之间。本发明降低了位线上半选通单元两端的电压,三维存储器芯片在读操作时功耗变低、速度变快、无全阵列漏电、选中字线上未被选中的存储单元保持半选通。

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