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公开(公告)号：CN110298888B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN201910507544.X
申请日：2019-06-12
Applicant: 上海智能制造功能平台有限公司 , 上海交通大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明提供了一种基于单轴高精度位移平台的相机标定方法，包括：单轴位移平台带动平面标定板沿着其轴线方向做多次平移运动，相机拍摄平面标定板图像，然后通过对焦评价算子选取位于相机景深范围内的平面标定板图像，提取平面标定板中标志点在图像坐标系下的坐标值，利用平面标定板世界坐标系下的标志点坐标值、对应的图像坐标系下的坐标值、对应的单轴位移平台的移动距离构建约束方程，以线性求出相机内参的封闭解；然后考虑镜头的畸变系数，建立相机标定非线性模型，以上述内参封闭解为初始迭代值，最后采用非线性优化算法，求解相机的内外参数。本发明标定过程简单且容易实现标定全自动化，标定结果稳定且精确，提高了标定效率。
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公开(公告)号：CN111478142A
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN202010172322.X
申请日：2020-03-12
Applicant: 上海交通大学 , 上海航天设备制造总厂有限公司
Abstract: 本发明的一种提高导电滑环组装精度的方法，属于导电滑环组装技术领域，包括多个滑环和弹针，相邻的两个滑环之间以绝缘体隔开，并多次采用工业高精度摄像头对所述弹针和所述滑环上设置的V型槽接触过程和接触位置进行拍摄记录，并对记录的数据进行分析得到弹针和V型槽安装的最佳位置。本发明的方法重复多次并记录数据，对数据进行分析获得弹针与滑环的最佳安装位置，不仅提高了安装的精度和效率，而且安装过程具有可追溯性，便于后续安装操作。
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公开(公告)号：CN111127454A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201911376015.7
申请日：2019-12-27
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明提供了一种基于深度学习生成工业缺陷样本的方法及系统，包括：步骤1：采集工业缺陷产品图片，并在工业缺陷产品图片上标注缺陷信息；步骤2：构建对抗生成深度模型；步骤3：根据标注的缺陷信息，在抗生成深度模型中进行对抗训练；步骤4：训练获得缺陷样本；步骤5：对缺陷样本进行筛选，剔除不符合预设的缺陷样本，得到工业缺陷样本。本发明所生成的工业缺陷图片互相关性弱，缺陷特征突出，且具有较高的精细结构质量；本发明所生成的工业缺陷图片质量较高，能够显著提升依据其所训练的深度缺陷检测网络的性能指标。
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公开(公告)号：CN106441100B
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201610916019.X
申请日：2016-10-20
Applicant: 上海交通大学 , 上海航天设备制造总厂
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供一种导电滑环环槽加工在机视觉测量系统，包括图像采集模块、图像处理和检测模块、机床通信和控制模块、人机界面模块和数据库管理模块：图像采集模块负责导电滑环图像的采集；图像处理和检测模块对图像信息处理提取出关键特征，并计算出导电滑环的实际检测值；机床通信和控制模块负责在图像采集时控制车床的运动，在接收到图像处理和检测模块的检测结果信息和将检测结果发送给机床并控制机床加工；人机界面模块提供人机交互的平台；数据库管理模块负责对历史检测加工过程信息进行管理。本发明有效解决了导电滑环环槽传统加工方式精度差和效率低的问题，达到了导电滑环环槽的高精度和高效率加工的目的。
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公开(公告)号：CN110298888A
公开(公告)日：2019-10-01
申请号：CN201910507544.X
申请日：2019-06-12
Applicant: 上海智能制造功能平台有限公司 , 上海交通大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明提供了一种基于单轴高精度位移平台的相机标定方法，包括：单轴位移平台带动平面标定板沿着其轴线方向做多次平移运动，相机拍摄平面标定板图像，然后通过对焦评价算子选取位于相机景深范围内的平面标定板图像，提取平面标定板中标志点在图像坐标系下的坐标值，利用平面标定板世界坐标系下的标志点坐标值、对应的图像坐标系下的坐标值、对应的单轴位移平台的移动距离构建约束方程，以线性求出相机内参的封闭解；然后考虑镜头的畸变系数，建立相机标定非线性模型，以上述内参封闭解为初始迭代值，最后采用非线性优化算法，求解相机的内外参数。本发明标定过程简单且容易实现标定全自动化，标定结果稳定且精确，提高了标定效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107270820B
公开(公告)日：2019-05-17
申请号：CN201710411139.9
申请日：2017-06-05
Applicant: 上海交通大学 , 上海航天设备制造总厂
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公布一种大型薄壁构件壁厚在位测量系统和方法，所述系统包括：数控机床、靠模夹具、测头支架、双目结构光测量设备、工业计算机及高速通信单元；所述方法基于双目结构光测量技术，根据薄壁构件加工工艺过程中对构件整体三维形貌及壁厚分布在位检测的需求，基于结构光精密测量技术获取点云信息，通过选定测量基准面，之后逐步作差的方法获取对应位置的壁厚，最后将多部位测得的点云数据与构件的CAD模型进行模型比对和数据拼合，实现大型薄壁构件在位检测获取各部位准确的壁厚数据。本发明在非接触条件下实现对大型薄壁构件的精密测量，不仅可以为加工质量评价提供形貌数据，也可以用于指导加工工艺过程。
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公开(公告)号：CN106959080B
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201710230126.1
申请日：2017-04-10
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供一种大型复杂曲面构件三维形貌光学测量系统和方法，所述方法基于双目光栅投影测量技术，借助激光跟踪仪和相应的靶标球来获取多站位测量时各个站位的点云位姿，最后将各站位测得的点云根据相应的位姿数据转换到统一的激光跟踪仪坐标系下，实现大尺度复杂面型构件点云数据的全局拼合；所述系统以六自由度机器人为点云空间位姿跟踪单元及双目结构光测量设备的载体，测量开始前首先对双目结构光测量设备进行标定以保证单站位测量精度，然后通过测量路劲规划来保证数据完整性和测量效率。本发明可在非接触条件下实现对各种大尺度复杂面型构件的精确测量，为各种加工质量的评价提供实用可靠完整的三维形貌原始数据。
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公开(公告)号：CN107270820A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710411139.9
申请日：2017-06-05
Applicant: 上海交通大学 , 上海航天设备制造总厂
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/06
Abstract: 本发明公布一种大型薄壁构件壁厚在位测量系统和方法，所述系统包括：数控机床、靠模夹具、测头支架、双目结构光测量设备、工业计算机及高速通信单元；所述方法基于双目结构光测量技术，根据薄壁构件加工工艺过程中对构件整体三维形貌及壁厚分布在位检测的需求，基于结构光精密测量技术获取点云信息，通过选定测量基准面，之后逐步作差的方法获取对应位置的壁厚，最后将多部位测得的点云数据与构件的CAD模型进行模型比对和数据拼合，实现大型薄壁构件在位检测获取各部位准确的壁厚数据。本发明在非接触条件下实现对大型薄壁构件的精密测量，不仅可以为加工质量评价提供形貌数据，也可以用于指导加工工艺过程。
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公开(公告)号：CN102980528B
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：CN201210473794.4
申请日：2012-11-21
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 无位姿约束线激光单目视觉三维测量传感器参数标定方法，属于光学测量和机械工程技术领域。本发明在提取基础数据后，根据靶标特征点的成像点所构成向量簇叉积方向集合在任意拍摄位姿下的不变性，对成像点排序，建立靶标特征点与其成像点的对应关系；由光刀中心点集拟合直线与靶标特征点的成像点所构成四边形求交，提取光平面特征点，并根据交比不变原理计算其三维坐标。最优化拟合计算单目摄像机内外参数及线激光投射器光平面参数，实现线激光单目视觉三维测量传感器参数的精确标定。标定时，靶标可完全自由移动或旋转，摆放位姿无约束，两部分参数的标定共用同一组标定图像，在保证三维测量传感器标定精度的同时简化了标定步骤。
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公开(公告)号：CN104108182A
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN201410334421.8
申请日：2014-07-14
Applicant: 上海交通大学
IPC: B29C67/00
Abstract: 本发明提供了一种采用LED阵列微投影光源的光固化3D成型系统，LED阵列光源中各LED的排布为：y方向等距排布，x方向交错等距排布。通过透镜阵列组及光掩膜板将下置LED阵列光源汇聚为密集排布的微投影光束阵列，便于对小结构尺寸零件模型的快速扫描固化。此外，LED阵列光源中的单个LED采用计算机与单片机并口通信独立控制，在扫描过程中根据每层的二维截面信息，通过计算机实时调控LED阵列光源中需驱动的LED个数，配合XY移动平台控制微投影光束阵列在XY水平方向上运动，从而完成扫描固化。上述光固化成型系统以原有光固化3D成型设备为应用基础，可在保证原型制造精度的条件下提高制造效率并降低成本。
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