公开(公告)号：CN106959080A

公开(公告)日：2017-07-18

申请号：CN201710230126.1

申请日：2017-04-10

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 习俊通 ,  陈晓波 ,  吴卓琦 ,  杜辉 ,  余成义 ,  张洪辉

IPC: G01B11/24

CPC classification number: G01B11/24

Abstract: 本发明提供一种大型复杂曲面构件三维形貌光学测量系统和方法，所述方法基于双目光栅投影测量技术，借助激光跟踪仪和相应的靶标球来获取多站位测量时各个站位的点云位姿，最后将各站位测得的点云根据相应的位姿数据转换到统一的激光跟踪仪坐标系下，实现大尺度复杂面型构件点云数据的全局拼合；所述系统以六自由度机器人为点云空间位姿跟踪单元及双目结构光测量设备的载体，测量开始前首先对双目结构光测量设备进行标定以保证单站位测量精度，然后通过测量路劲规划来保证数据完整性和测量效率。本发明可在非接触条件下实现对各种大尺度复杂面型构件的精确测量，为各种加工质量的评价提供实用可靠完整的三维形貌原始数据。

公开(公告)号：CN107270820B

公开(公告)日：2019-05-17

申请号：CN201710411139.9

申请日：2017-06-05

Applicant: 上海交通大学 ,  上海航天设备制造总厂

Inventor： 陈晓波 ,  刘晓 ,  习俊通 ,  吴卓琦 ,  杜辉 ,  郭根 ,  侯春杰 ,  南博华

IPC: G01B11/06

Abstract: 本发明公布一种大型薄壁构件壁厚在位测量系统和方法，所述系统包括：数控机床、靠模夹具、测头支架、双目结构光测量设备、工业计算机及高速通信单元；所述方法基于双目结构光测量技术，根据薄壁构件加工工艺过程中对构件整体三维形貌及壁厚分布在位检测的需求，基于结构光精密测量技术获取点云信息，通过选定测量基准面，之后逐步作差的方法获取对应位置的壁厚，最后将多部位测得的点云数据与构件的CAD模型进行模型比对和数据拼合，实现大型薄壁构件在位检测获取各部位准确的壁厚数据。本发明在非接触条件下实现对大型薄壁构件的精密测量，不仅可以为加工质量评价提供形貌数据，也可以用于指导加工工艺过程。

公开(公告)号：CN106959080B

公开(公告)日：2019-04-05

申请号：CN201710230126.1

申请日：2017-04-10

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 习俊通 ,  陈晓波 ,  吴卓琦 ,  杜辉 ,  余成义 ,  张洪辉

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明提供一种大型复杂曲面构件三维形貌光学测量系统和方法，所述方法基于双目光栅投影测量技术，借助激光跟踪仪和相应的靶标球来获取多站位测量时各个站位的点云位姿，最后将各站位测得的点云根据相应的位姿数据转换到统一的激光跟踪仪坐标系下，实现大尺度复杂面型构件点云数据的全局拼合；所述系统以六自由度机器人为点云空间位姿跟踪单元及双目结构光测量设备的载体，测量开始前首先对双目结构光测量设备进行标定以保证单站位测量精度，然后通过测量路劲规划来保证数据完整性和测量效率。本发明可在非接触条件下实现对各种大尺度复杂面型构件的精确测量，为各种加工质量的评价提供实用可靠完整的三维形貌原始数据。

公开(公告)号：CN107270820A

公开(公告)日：2017-10-20

申请号：CN201710411139.9

申请日：2017-06-05

Applicant: 上海交通大学 ,  上海航天设备制造总厂

Inventor： 陈晓波 ,  刘晓 ,  习俊通 ,  吴卓琦 ,  杜辉 ,  郭根 ,  侯春杰 ,  南博华

IPC: G01B11/06

CPC classification number: G01B11/06

Abstract: 本发明公布一种大型薄壁构件壁厚在位测量系统和方法，所述系统包括：数控机床、靠模夹具、测头支架、双目结构光测量设备、工业计算机及高速通信单元；所述方法基于双目结构光测量技术，根据薄壁构件加工工艺过程中对构件整体三维形貌及壁厚分布在位检测的需求，基于结构光精密测量技术获取点云信息，通过选定测量基准面，之后逐步作差的方法获取对应位置的壁厚，最后将多部位测得的点云数据与构件的CAD模型进行模型比对和数据拼合，实现大型薄壁构件在位检测获取各部位准确的壁厚数据。本发明在非接触条件下实现对大型薄壁构件的精密测量，不仅可以为加工质量评价提供形貌数据，也可以用于指导加工工艺过程。