一种基于双能辐射的材料识别方法、系统及介质

    公开(公告)号:CN119470494A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411501526.8

    申请日:2024-10-25

    Inventor: 杨杰 石勇

    Abstract: 本申请实施例提供了一种基于双能辐射的材料识别方法、系统及介质,该方法包括:采集双能X射线的辐射信号,对辐射信号进行预处理,生成辐射参数;基于辐射参数分析生成初始辐射状态信息,根据初始辐射状态信息对待检测材料进行透射分析,生成分析结果;将分析结果输入识别模型,得到识别样本数据,基于设定的识别规则得到材料的元素种类信息;基于材料的元素种类信息生成材料的属性信息与材质信息,生成识别结果;将识别结果按照预定的方式传输至终端;通过使用双能X射线的透射原理,在不同材料对应不同的透射特性,从而根据分析结果精准的分析材料的属性与材质,精准高效的进行不同材料的识别,提高识别精度。

    光谱X射线CT成像系统
    52.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118434363A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202280085421.1

    申请日:2022-12-19

    Abstract: 本发明涉及一种光谱X射线CT成像系统(10),包括:光谱X射线CT成像单元(20);处理单元(30);以及输出单元(40)。所述光谱X射线CT成像单元包括X射线管(22)和双层X射线检测器(24),并且其中待检查的对象的身体部分可以位于所述X射线管与所述双层X射线检测器之间。所述光谱X射线CT成像单元被配置为采集对所述身体部分的整体扫描,包括在不同投影角度的多次采集。所述处理单元被配置为利用针对所述不同投影角度的每个投影有关身体部分的信息。所述处理单元被配置为针对所述多次采集中的每次采集确定所述X射线管的电压,其中对每次采集的确定包括对与该次采集相关联的所述投影的所述身体部分的对应信息的利用。所述处理单元被配置为控制所述光谱X射线CT成像单元执行对所述身体部分的实施整体扫描,其中所述控制包括针对在所述不同投影角度的所述多次采集中的每次采集控制所述X射线管以所确定的X射线管电压操作。所述处理单元被配置为针对所实施的整体扫描的每次采集,接收来自所述双层X射线检测器的数据。所述处理单元被配置为实施机器学习算法,以确定所述身体部分的材料分解图像,其中所述确定包括对针对所实施的整体扫描的每次采集来自所述双层X射线检测器的数据和针对所实施的整体扫描的每次采集所确定的X射线管电压的利用。所述输出单元被配置为输出实施身体部分的实施材料分解图像。

    通过使用电磁场偏转管电子束的带有多个脉冲X射线源的快速3D放射摄影

    公开(公告)号:CN117769389A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202280026082.X

    申请日:2022-01-21

    Applicant: AIXSCAN公司

    Abstract: 本发明提出了一种使用多个脉冲X射线源来执行高效和超快的3D放射摄影的X射线成像系统。存在安装在运动中的结构上的多个脉冲X射线源以形成源阵列。所述多个X射线源在预定义弧形轨道上以作为组的恒定速度相对于物体同时移动。每个单独的X射线管内的电子束通过磁场或电场来偏转以将焦点移动小距离。当X射线管束的焦点具有等于组速度的速度但具有相反的移动方向时,通过外部暴露控制单元来激活所述X射线源和X射线平板检测器,使得源管相等地暂时保持静止。3D扫描可在短得多的时间内覆盖宽得多的扫掠角度,并且也可实时进行图像分析。

    X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法

    公开(公告)号:CN116223543A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202211509694.2

    申请日:2022-11-29

    Abstract: 本发明涉及X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法,X射线检查装置具备:输送部,输送物品;电磁波照射部,将第一能量带的第一电磁波以及第二能量带的第二电磁波照射到物品上;电磁波传感器,检测照射到物品上的第一电磁波以及第二电磁波;以及控制部,输入电磁波传感器的检测结果。控制部生成基于第一电磁波的检测结果的第一透射图像和基于第二电磁波的检测结果的第二透射图像,利用在第一透射图像以及第二透射图像中映出的与物品以外的背景有关的亮度分布,实施包括针对第一透射图像以及第二透射图像的减影处理的图像处理,基于通过减影处理得到的差分图像,判定物品中有无异物。

    从在不同能量级别拍摄的X射线图像确定对象的质量的方法

    公开(公告)号:CN107430079B

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN201680020935.3

    申请日:2016-04-06

    Inventor: N·哈特维希

    Abstract: 一种通过在放射照相检查系统中、特别是在具有拍摄多个数量J的能量级别的扫描图像的能力的X射线扫描仪中扫描对象来确定所述对象的质量的方法,具有三个模式或部分,即:初始学习模式,正常操作模式,和学习改进模式。初始学习模式,其中,扫描参考对象并将它们的实际质量称重并存储为参考值。正常操作模式,其中,针对与所述参考值的兼容性来扫描和分析具有未知质量m的样本对象,并且如果发现是不可兼容的,那么所述方法分支到所述学习改进模式。学习改进模式,其中,通过称重和更新所存储的参数值来确定被发现为不可兼容的所述样本对象的实际质量。

    线型双能X射线传感器及线型双能X射线检测系统

    公开(公告)号:CN107478664B

    公开(公告)日:2020-06-26

    申请号:CN201710796582.2

    申请日:2017-09-06

    Abstract: 本发明提供一种线型双能X射线传感器及线型双能X射线检测系统,线型双能X射线传感器包括:PCB板,正面设有第一连接结构;线型二极管阵列面板,经由背面贴置于PCB板的正面,线型二极管阵列面板的正面设有第二连接结构,第二连接结构与第一连接结构电连接;高能像素阵列结构,位于线型二极管阵列面板的正面,且与第二连接结构电连接;低能像素阵列结构,位于线型二极管阵列面板的正面,且与高能像素阵列结构具有间距,低能像素阵列结构与第二连接结构电连接。本发明相较于现有的垂直设置的线型双能X射线传感器具有结构简单、体积小及成本低等优点。

    双能探测方法与装置
    57.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110333252A

    公开(公告)日:2019-10-15

    申请号:CN201810262091.4

    申请日:2018-03-28

    Abstract: 本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括:X射线源,用于向被测物体发送X射线束;闪烁探测器,工作于积分模式,用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号;切伦科夫探测器,位于所述闪烁探测器后方,工作于计数模式,用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号;处理器,用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。

    X射线光谱成像方法与系统
    58.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106233335B

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201480077832.1

    申请日:2014-04-07

    Abstract: 本发明提供了一种用于处理以至少两个能量水平获得的放射照相图像的方法。第一个步骤(S1)涉及例如从检测器或者从中间存储器提供具有至少两个能量水平的放射照相图像的能量分辨的图像数据表示。第二个步骤(S2)涉及基于模型将所提供的图像数据分解为至少一个基础图像表示,在该模型中,至少两个基础函数的组合被用于表达至少一个线性衰减系数的表示,其中至少一个基础函数用于模拟物理材料,以及至少一个其它基础函数用于模拟非线性部分容积(NLPV)效应。

    有效原子序数计算方法、装置和存储介质

    公开(公告)号:CN109459452A

    公开(公告)日:2019-03-12

    申请号:CN201811605497.4

    申请日:2018-12-26

    Inventor: 于文义

    Abstract: 本发明实施例公开了一种有效原子序数计算方法、装置和存储介质。该方法包括:基于目标X射线扫描设备,确定待测物质在第一射线能量对应的第一目标衰减值以及第二射线能量对应的第二目标衰减值,其中第一射线能量低于第二射线能量;基于预设有效原子序数计算公式,根据第一目标衰减值、第二目标衰减值、计算参数对应的目标参数值以及纯水对应的有效原子序数,确定待测物质对应的有效原子序数,其中目标参数值根据与目标X射线扫描设备对应的样本数据预先对计算参数进行校准确定。通过本发明实施例的技术方案,可以提高有效原子序数计算的准确度。

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