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公开(公告)号：CN106461578B
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201680001621.9
申请日：2016-04-20
Applicant: 株式会社蛟簿
Abstract: 本发明能够与厚度无关地并且更高精度地确定物质的种类和性状。数据处理装置(12)对从X射线管(21)照射后透过对象物并且由光子计数型检测单元(26)检测出的X射线的、在每个能量区域中以像素为单位的计数值进行处理。该装置(12)具备：根据计数值计算对象物(OB)的图像的单元(35)；以及在图像上设定关心区域的单元(35)。进一步，该装置(12)具备：从图像中除去存在于关心区域中的作为物质的背景的像素信息的单元(35)；以及根据关心区域中的X射线的在每个能量区域中以像素为单位的计数值，以该像素为单位计算物质相对于X射线特有的透过特性，以作为特有信息的单元(35)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108271411A
公开(公告)日：2018-07-10
申请号：CN201780001694.2
申请日：2017-03-27
Applicant: 株式会社蛟簿
Abstract: 本发明避免将从倾斜配置的检测器输出的帧数据转换到重建用坐标系时的电路结构大型化，并减少处理量。X射线装置具备二维像素排列，该二维像素排列沿着构成第一正交坐标系的行方向及列方向配置有多个输出响应于入射X射线的光子的电信号的、方形的规定尺寸的像素。该排列的行方向相对于扫描方向倾斜配置。在该排列中，从扫描方向的两端中的任意一端观察时，相当于“M列×N个(M为1以上的正整数，N为2以上的正整数，并且M、N为互质关系)”的像素群单独或反复出现，并且各该像素群所构成的四边形的对角线与所述扫描方向平行。在每个周期，将从像素输出的帧数据转换成，由以扫描方向为行方向和与该行方向正交的列方向构成的、存储空间上的第二正交坐标系的帧数据。
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公开(公告)号：CN108271411B
公开(公告)日：2021-10-15
申请号：CN201780001694.2
申请日：2017-03-27
Applicant: 株式会社蛟簿
IPC: G01N23/046 , G01N23/18 , G01N23/083
Abstract: 本发明避免将从倾斜配置的检测器输出的帧数据转换到重建用坐标系时的电路结构大型化，并减少处理量。X射线装置具备二维像素排列，该二维像素排列沿着构成第一正交坐标系的行方向及列方向配置有多个输出响应于入射X射线的光子的电信号的、方形的规定尺寸的像素。该排列的行方向相对于扫描方向倾斜配置。在该排列中，从扫描方向的两端中的任意一端观察时，相当于“M列×N个(M为1以上的正整数，N为2以上的正整数，并且M、N为互质关系)”的像素群单独或反复出现，并且各该像素群所构成的四边形的对角线与所述扫描方向平行。在每个周期，将从像素输出的帧数据转换成，由以扫描方向为行方向和与该行方向正交的列方向构成的、存储空间上的第二正交坐标系的帧数据。
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公开(公告)号：CN106461578A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201680001621.9
申请日：2016-04-20
Applicant: 株式会社蛟簿
Abstract: 本发明能够与厚度无关地并且更高精度地确定物质的种类和性状。数据处理装置(12)对从X射线管(21)照射后透过对象物并且由光子计数型检测单元(26)检测出的X射线的、在每个能量区域中以像素为单位的计数值进行处理。该装置单元(35)；以及在图像上设定关心区域的单元(35)。进一步，该装置(12)具备：从图像中除去存在于关心区域中的作为物质的背景的像素信息的单元(35)；以及根据关心区域中的X射线的在每个能量区域中以像素为单位的计数值，以该像素为单位计算物质相对于X射线特有的透过特性，以作为特有信息的单元(35)。(12)具备：根据计数值计算对象物(OB)的图像的
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公开(公告)号：CN110770607B
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN201880039187.2
申请日：2018-10-26
Applicant: 株式会社蛟簿
IPC: G01T1/36 , A61B6/40 , A61B6/42 , G01N23/087 , G01N23/18
Abstract: 本发明对具有更宽范围的有效原子序数(Zeff)的元素的对象也以低计算负荷进行更高精度的射束硬化校正，有助于更加定量的X射线图像的提示。对两个以上的X射线能量BIN中所选择的两个X射线能量BIN的X射线衰减量(μt)进行标准化，按照每个像素区域求出至少一个标准化X射线衰减量，根据表示标准化X射线衰减量与元素的有效原子序数之间的理论上的对应关系的参照信息，按照每个像素区域推定至少一个有效原子序数，判断被推定的至少一个有效原子序数(ZHigh、ZLow)以及进行射束硬化校正时预先指定的有效原子序数(Zm)中至少两个原子序数的一(56)对比文件Kimoto N等.Precise materialidentification method based on a photoncounting technique with correction of thebeam hardening effect in X-ray spectra《.Applied Radiation & Isotopes》.2017,第124卷第16-26页.
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公开(公告)号：CN110770607A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201880039187.2
申请日：2018-10-26
Applicant: 株式会社蛟簿
IPC: G01T1/36 , A61B6/00 , G01N23/087 , G01N23/18
Abstract: 本发明对具有更宽范围的有效原子序数(Zeff)的元素的对象也以低计算负荷进行更高精度的射束硬化校正，有助于更加定量的X射线图像的提示。对两个以上的X射线能量BIN中所选择的两个X射线能量BIN的X射线衰减量(μt)进行标准化，按照每个像素区域求出至少一个标准化X射线衰减量，根据表示标准化X射线衰减量与元素的有效原子序数之间的理论上的对应关系的参照信息，按照每个像素区域推定至少一个有效原子序数，判断被推定的至少一个有效原子序数(ZHigh、ZLow)以及进行射束硬化校正时预先指定的有效原子序数(Zm)中至少两个原子序数的一致状态。
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