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公开(公告)号：CN107533019A
公开(公告)日：2018-01-02
申请号：CN201680025228.3
申请日：2016-10-24
Applicant: 株式会社蛟簿
Abstract: 本发明从由光子计数型检测器检测出的计数值中针对每个能量BIN排除或者减轻由于射束硬化等的物理现象对X射线减弱造成的影响。基于光子计数型检测器(24)的计数值，按照每个X射线的能量BIN取得X射线减弱量μt的特性，所述X射线减弱量μt的特性由物质在X射线透过方向上的多个相互不同的已知厚度t与该线减弱系数μ定义。该物质构成摄像等的对象物，并且为与对象物相同的物质(同种物质)或者由有效原子序数可视作与对象物类似的原材料组成。计算修正用数据，所述修正用数据用于将该X射线减弱量μt的特性置换成在以厚度t为横轴、并且以X射线减弱量μt为纵轴的二维坐标中经过其原点的直线状的目标特性。针对每个X射线能量BIN计算该修正用数据。
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公开(公告)号：CN106461578B
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201680001621.9
申请日：2016-04-20
Applicant: 株式会社蛟簿
Abstract: 本发明能够与厚度无关地并且更高精度地确定物质的种类和性状。数据处理装置(12)对从X射线管(21)照射后透过对象物并且由光子计数型检测单元(26)检测出的X射线的、在每个能量区域中以像素为单位的计数值进行处理。该装置(12)具备：根据计数值计算对象物(OB)的图像的单元(35)；以及在图像上设定关心区域的单元(35)。进一步，该装置(12)具备：从图像中除去存在于关心区域中的作为物质的背景的像素信息的单元(35)；以及根据关心区域中的X射线的在每个能量区域中以像素为单位的计数值，以该像素为单位计算物质相对于X射线特有的透过特性，以作为特有信息的单元(35)。
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公开(公告)号：CN108271411A
公开(公告)日：2018-07-10
申请号：CN201780001694.2
申请日：2017-03-27
Applicant: 株式会社蛟簿
Abstract: 本发明避免将从倾斜配置的检测器输出的帧数据转换到重建用坐标系时的电路结构大型化，并减少处理量。X射线装置具备二维像素排列，该二维像素排列沿着构成第一正交坐标系的行方向及列方向配置有多个输出响应于入射X射线的光子的电信号的、方形的规定尺寸的像素。该排列的行方向相对于扫描方向倾斜配置。在该排列中，从扫描方向的两端中的任意一端观察时，相当于“M列×N个(M为1以上的正整数，N为2以上的正整数，并且M、N为互质关系)”的像素群单独或反复出现，并且各该像素群所构成的四边形的对角线与所述扫描方向平行。在每个周期，将从像素输出的帧数据转换成，由以扫描方向为行方向和与该行方向正交的列方向构成的、存储空间上的第二正交坐标系的帧数据。
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公开(公告)号：CN106030293A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201580001030.7
申请日：2015-01-23
Applicant: 株式会社蛟簿
Abstract: 能够以更高的分辨率、更高的可靠性对存在于对象物中的异物等进行检测。根据检测出的帧数据，制作在X射线管(31)与X射线检测装置(22)之间的空间中设定的、与扫描方向平行的多个断层面的帧数据。根据X射线束的扇形的扩散程度和多个断层像在从检测面起始的高度方向上的位置差异进行该制作。基于多个断层面的帧数据，根据X射线分层摄影法分别制作断层像。对每个像素计算与该各个断层像中的像素值的变化相对应的边缘信息，并制作该边缘信息的三维分布。在贯穿多个断层面的方向上搜索该边缘信息。作为该搜索结果，检测出表示边缘信息的最大值的像素，并且仅将在位置上与该检测出的像素相对应的多个断层像的像素合成为一张合成图像。
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公开(公告)号：CN108271411B
公开(公告)日：2021-10-15
申请号：CN201780001694.2
申请日：2017-03-27
Applicant: 株式会社蛟簿
IPC: G01N23/046 , G01N23/18 , G01N23/083
Abstract: 本发明避免将从倾斜配置的检测器输出的帧数据转换到重建用坐标系时的电路结构大型化，并减少处理量。X射线装置具备二维像素排列，该二维像素排列沿着构成第一正交坐标系的行方向及列方向配置有多个输出响应于入射X射线的光子的电信号的、方形的规定尺寸的像素。该排列的行方向相对于扫描方向倾斜配置。在该排列中，从扫描方向的两端中的任意一端观察时，相当于“M列×N个(M为1以上的正整数，N为2以上的正整数，并且M、N为互质关系)”的像素群单独或反复出现，并且各该像素群所构成的四边形的对角线与所述扫描方向平行。在每个周期，将从像素输出的帧数据转换成，由以扫描方向为行方向和与该行方向正交的列方向构成的、存储空间上的第二正交坐标系的帧数据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107533019B
公开(公告)日：2020-05-05
申请号：CN201680025228.3
申请日：2016-10-24
Applicant: 株式会社蛟簿
IPC: G01N23/046 , A61B6/03 , G01N23/18
Abstract: 本发明从由光子计数型检测器检测出的计数值中针对每个能量BIN排除或者减轻由于射束硬化等的物理现象对X射线减弱造成的影响。基于光子计数型检测器(24)的计数值，按照每个X射线的能量BIN取得X射线减弱量μt的特性，所述X射线减弱量μt的特性由物质在X射线透过方向上的多个相互不同的已知厚度t与该线减弱系数μ定义。该物质构成摄像等的对象物，并且为与对象物相同的物质(同种物质)或者由有效原子序数可视作与对象物类似的原材料组成。计算修正用数据，所述修正用数据用于将该X射线减弱量μt的特性置换成在以厚度t为横轴、并且以X射线减弱量μt为纵轴的二维坐标中经过其原点的直线状的目标特性。针对每个X射线能量BIN计算该修正用数据。
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公开(公告)号：CN106415319B
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201580026609.9
申请日：2015-10-13
Applicant: 株式会社蛟簿
Abstract: 本发明提供一种通用性高的光子计数型检测器，其能够通过共通的结构容易地使X射线、伽马射线、被激发出的微弱荧光等跨较大波长区域的电磁波符合各种模式所要求的性能基准。该检测器(11)具备光学连接部(32)，该光学连接部(32)面对柱状体阵列(31、81)的出射面形成，能够调整从多个柱状体(31A、81A)各自的出射端面出射的光的扩散范围。另外，检测器(11)还具备APD簇(52)的群组，该APD簇(52)的群组隔着光学连接部(32)与出射面相对置地配置，以二维状地配置有N×N个(N是2以上的正整数)具有受光面的雪崩光电二极管(APD)(51)、并且通过线或电路将该N×N个APD的输出信号汇聚起来的APD簇作为一个像素，并二维状地配置有多个APD簇。
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公开(公告)号：CN106461578A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201680001621.9
申请日：2016-04-20
Applicant: 株式会社蛟簿
Abstract: 本发明能够与厚度无关地并且更高精度地确定物质的种类和性状。数据处理装置(12)对从X射线管(21)照射后透过对象物并且由光子计数型检测单元(26)检测出的X射线的、在每个能量区域中以像素为单位的计数值进行处理。该装置单元(35)；以及在图像上设定关心区域的单元(35)。进一步，该装置(12)具备：从图像中除去存在于关心区域中的作为物质的背景的像素信息的单元(35)；以及根据关心区域中的X射线的在每个能量区域中以像素为单位的计数值，以该像素为单位计算物质相对于X射线特有的透过特性，以作为特有信息的单元(35)。(12)具备：根据计数值计算对象物(OB)的图像的
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公开(公告)号：CN110770607B
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN201880039187.2
申请日：2018-10-26
Applicant: 株式会社蛟簿
IPC: G01T1/36 , A61B6/40 , A61B6/42 , G01N23/087 , G01N23/18
Abstract: 本发明对具有更宽范围的有效原子序数(Zeff)的元素的对象也以低计算负荷进行更高精度的射束硬化校正，有助于更加定量的X射线图像的提示。对两个以上的X射线能量BIN中所选择的两个X射线能量BIN的X射线衰减量(μt)进行标准化，按照每个像素区域求出至少一个标准化X射线衰减量，根据表示标准化X射线衰减量与元素的有效原子序数之间的理论上的对应关系的参照信息，按照每个像素区域推定至少一个有效原子序数，判断被推定的至少一个有效原子序数(ZHigh、ZLow)以及进行射束硬化校正时预先指定的有效原子序数(Zm)中至少两个原子序数的一(56)对比文件Kimoto N等.Precise materialidentification method based on a photoncounting technique with correction of thebeam hardening effect in X-ray spectra《.Applied Radiation & Isotopes》.2017,第124卷第16-26页.
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公开(公告)号：CN110770607A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201880039187.2
申请日：2018-10-26
Applicant: 株式会社蛟簿
IPC: G01T1/36 , A61B6/00 , G01N23/087 , G01N23/18
Abstract: 本发明对具有更宽范围的有效原子序数(Zeff)的元素的对象也以低计算负荷进行更高精度的射束硬化校正，有助于更加定量的X射线图像的提示。对两个以上的X射线能量BIN中所选择的两个X射线能量BIN的X射线衰减量(μt)进行标准化，按照每个像素区域求出至少一个标准化X射线衰减量，根据表示标准化X射线衰减量与元素的有效原子序数之间的理论上的对应关系的参照信息，按照每个像素区域推定至少一个有效原子序数，判断被推定的至少一个有效原子序数(ZHigh、ZLow)以及进行射束硬化校正时预先指定的有效原子序数(Zm)中至少两个原子序数的一致状态。
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