Invention Publication
- Patent Title: X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法
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Application No.: CN202211509694.2Application Date: 2022-11-29
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Publication No.: CN116223543APublication Date: 2023-06-06
- Inventor: 吉田圭佑 , 万木太
- Applicant: 株式会社石田
- Applicant Address: 日本京都
- Assignee: 株式会社石田
- Current Assignee: 株式会社石田
- Current Assignee Address: 日本京都
- Agency: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- Agent 赵雨桐
- Priority: 2021-195926 20211202 JP
- Main IPC: G01N23/087
- IPC: G01N23/087 ; G01N23/04

Abstract:
本发明涉及X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法,X射线检查装置具备:输送部,输送物品;电磁波照射部,将第一能量带的第一电磁波以及第二能量带的第二电磁波照射到物品上;电磁波传感器,检测照射到物品上的第一电磁波以及第二电磁波;以及控制部,输入电磁波传感器的检测结果。控制部生成基于第一电磁波的检测结果的第一透射图像和基于第二电磁波的检测结果的第二透射图像,利用在第一透射图像以及第二透射图像中映出的与物品以外的背景有关的亮度分布,实施包括针对第一透射图像以及第二透射图像的减影处理的图像处理,基于通过减影处理得到的差分图像,判定物品中有无异物。
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