X射线检查装置以及X射线传感器单元的检查方法

    公开(公告)号:CN118671107A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410305266.0

    申请日:2024-03-15

    Abstract: 本发明涉及X射线检查装置以及X射线传感器单元的检查方法,X射线检查装置具备:照射部,对被输送的物品照射X射线;X射线传感器单元,具有以光子计数方式检测X射线的传感器部、以及基于从传感器部输出的检测结果来生成图像的图像生成部;以及控制部,具有基于图像检查物品的第一模式、以及判定时间延迟积分驱动时的X射线传感器单元的状态的第二模式,在第二模式下,控制部通过比较基于在时刻t1从传感器部输出的检测结果而生成的第一图像、和对从时刻t1之后到时刻t2为止从传感器部输出的检测结果进行累计而生成的第二图像,来判定X射线传感器单元的状态。

    X射线检查装置以及X射线检查装置的灵敏度修正方法

    公开(公告)号:CN118671104A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410274514.X

    申请日:2024-03-11

    Abstract: 本发明涉及X射线检查装置以及X射线检查装置的灵敏度修正方法。X射线检查装置具备:输送部,输送物品;X射线源,对输送部所输送的物品照射X射线;检测部,能够以光子计数方式检测X射线;阈值设定部,设定用于将由检测部检测出的X射线辨别为两个以上的能量区域的阈值;检查部,基于由检测部所检测的透过了物品的X射线,实施物品的检查;以及灵敏度修正部,基于由检测部所检测的未透过物品的X射线,实施检测部的灵敏度修正,检测部根据阈值辨别为两个以上的能量区域来检测X射线,灵敏度修正部在由阈值设定部变更阈值时实施灵敏度修正。

    X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法

    公开(公告)号:CN116223543A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202211509694.2

    申请日:2022-11-29

    Abstract: 本发明涉及X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法,X射线检查装置具备:输送部,输送物品;电磁波照射部,将第一能量带的第一电磁波以及第二能量带的第二电磁波照射到物品上;电磁波传感器,检测照射到物品上的第一电磁波以及第二电磁波;以及控制部,输入电磁波传感器的检测结果。控制部生成基于第一电磁波的检测结果的第一透射图像和基于第二电磁波的检测结果的第二透射图像,利用在第一透射图像以及第二透射图像中映出的与物品以外的背景有关的亮度分布,实施包括针对第一透射图像以及第二透射图像的减影处理的图像处理,基于通过减影处理得到的差分图像,判定物品中有无异物。

    物品分选判定装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119426199A

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202410998868.9

    申请日:2024-07-24

    Abstract: 本申请涉及物品分选判定装置。物品分选判定装置具备:输送部,输送物品;获取部,获取与由输送部输送的物品的大小有关的第一信息以及与物品在输送部的下游通过的通过口的宽度有关的第二信息;以及控制部,在基于第一信息以及第二信息判定为物品堵塞在通过口的情况下,输出从输送部分选该物品的分选信号。

    X射线检查装置以及X射线检查装置的灵敏度修正方法

    公开(公告)号:CN118655159A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202410285299.3

    申请日:2024-03-13

    Abstract: 本发明涉及X射线检查装置以及X射线检查装置的灵敏度修正方法,所述X射线检查装置具备:输送部,输送物品;X射线源,对由输送部输送的物品照射X射线;X射线检测部,是能够以光子计数方式检测X射线的直接转换型检测部;以及检查部,基于X射线检测部的输出结果,实施物品的检查,在X射线检查装置起动时实施的X射线检测部的灵敏度修正中,X射线检测部在从开始X射线的检测起经过规定期间后,检测成为灵敏度修正的基准并且未透过物品的X射线,X射线源在规定期间中开始X射线照射,规定期间与X射线源的照射稳定化的期间相同或者比所述X射线源的照射稳定化的期间长。

    检查装置
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112255251B

    公开(公告)日:2024-07-30

    申请号:CN202010626211.1

    申请日:2020-07-02

    Abstract: 本发明涉及检查装置。X射线检查装置(1)具有:存储部(21),存储多种图像处理算法;获取部(22),获取通过使电磁波透射附有异物(F)的物品(A)得到的透射图像(P11)或者合成透射图像(P13)作为基准透射图像(P1);评价部(24),根据利用存储部(21)中存储的多种图像处理算法分别对基准透射图像(P1)进行处理得到的评价图像(P3),评价各种图像处理算法对异物(F)的检测精度;以及设定部(25),根据评价部(24)的评价将图像处理算法中至少一种图像处理算法设定为预先选择的图像处理算法。

    X射线检查装置及其调整方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116735626A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202310226308.7

    申请日:2023-03-09

    Abstract: 本申请提供X射线检查装置及其调整方法。X射线检查装置具备:输送部,输送物品;X射线源,向物品照射X射线;X射线检测部,能够通过光子计数方式检测X射线,并且,基于任意的阈值将检测到的X射线的光子能量辨别到两个以上的能量区域;阈值设定部,设定任意的阈值;X射线图像生成部,基于X射线检测部对X射线的检测结果,生成与两个以上的能量区域对应的两个以上的X射线透射图像;以及检查部,基于由X射线检测部所检测的透过物品后的X射线,实施物品的检查,其中,阈值设定部基于两个以上的X射线透射图像的浓淡来设定任意的阈值。

    检查装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112255251A

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN202010626211.1

    申请日:2020-07-02

    Abstract: 本发明涉及检查装置。X射线检查装置(1)具有:存储部(21),存储多种图像处理算法;获取部(22),获取通过使电磁波透射附有异物(F)的物品(A)得到的透射图像(P11)或者合成透射图像(P13)作为基准透射图像(P1);评价部(24),根据利用存储部(21)中存储的多种图像处理算法分别对基准透射图像(P1)进行处理得到的评价图像(P3),评价各种图像处理算法对异物(F)的检测精度;以及设定部(25),根据评价部(24)的评价将图像处理算法中至少一种图像处理算法设定为预先选择的图像处理算法。

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