Invention Grant
- Patent Title: 从在不同能量级别拍摄的X射线图像确定对象的质量的方法
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Application No.: CN201680020935.3Application Date: 2016-04-06
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Publication No.: CN107430079BPublication Date: 2020-10-23
- Inventor: N·哈特维希
- Applicant: 梅特勒-托莱多有限责任公司
- Applicant Address: 美国俄亥俄州
- Assignee: 梅特勒-托莱多有限责任公司
- Current Assignee: 梅特勒-托莱多有限责任公司
- Current Assignee Address: 美国俄亥俄州
- Agency: 永新专利商标代理有限公司
- Agent 郭毅
- Priority: 15162594.4 2015.04.07 EP
- International Application: PCT/US2016/026144 2016.04.06
- International Announcement: WO2016/164411 EN 2016.10.13
- Date entered country: 2017-10-09
- Main IPC: G01N23/087
- IPC: G01N23/087 ; G01N23/04 ; G01V5/12

Abstract:
一种通过在放射照相检查系统中、特别是在具有拍摄多个数量J的能量级别的扫描图像的能力的X射线扫描仪中扫描对象来确定所述对象的质量的方法,具有三个模式或部分,即:初始学习模式,正常操作模式,和学习改进模式。初始学习模式,其中,扫描参考对象并将它们的实际质量称重并存储为参考值。正常操作模式,其中,针对与所述参考值的兼容性来扫描和分析具有未知质量m的样本对象,并且如果发现是不可兼容的,那么所述方法分支到所述学习改进模式。学习改进模式,其中,通过称重和更新所存储的参数值来确定被发现为不可兼容的所述样本对象的实际质量。
Public/Granted literature
- CN107430079A 从在不同能量级别拍摄的X射线图像确定对象的质量的方法 Public/Granted day:2017-12-01
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