Invention Grant
- Patent Title: X射线检查用的数据处理装置、以及搭载有该装置的X射线检查装置
-
Application No.: CN201680001621.9Application Date: 2016-04-20
-
Publication No.: CN106461578BPublication Date: 2019-08-02
- Inventor: 山河勉 , 山本修一郎 , 小幡义治 , 山崎雅志 , 冈田雅宏
- Applicant: 株式会社蛟簿
- Applicant Address: 日本神奈川
- Assignee: 株式会社蛟簿
- Current Assignee: 株式会社蛟簿
- Current Assignee Address: 日本神奈川
- Agency: 北京鸿元知识产权代理有限公司
- Agent 温剑; 陈英俊
- Priority: 2015-085551 2015.04.20 JP
- International Application: PCT/JP2016/062550 2016.04.20
- International Announcement: WO2016/171186 JA 2016.10.27
- Date entered country: 2016-12-06
- Main IPC: G01N23/087
- IPC: G01N23/087 ; A61B6/00 ; A61B6/12 ; A61B6/14 ; G01N23/04 ; G01N23/18

Abstract:
本发明能够与厚度无关地并且更高精度地确定物质的种类和性状。数据处理装置(12)对从X射线管(21)照射后透过对象物并且由光子计数型检测单元(26)检测出的X射线的、在每个能量区域中以像素为单位的计数值进行处理。该装置(12)具备:根据计数值计算对象物(OB)的图像的单元(35);以及在图像上设定关心区域的单元(35)。进一步,该装置(12)具备:从图像中除去存在于关心区域中的作为物质的背景的像素信息的单元(35);以及根据关心区域中的X射线的在每个能量区域中以像素为单位的计数值,以该像素为单位计算物质相对于X射线特有的透过特性,以作为特有信息的单元(35)。
Public/Granted literature
- CN106461578A X射线检查用的数据处理装置与数据处理方法、以及搭载有该装置的X射线检查装置 Public/Granted day:2017-02-22
Information query