Invention Publication
- Patent Title: 一种基于双能辐射的材料识别方法、系统及介质
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Application No.: CN202411501526.8Application Date: 2024-10-25
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Publication No.: CN119470494APublication Date: 2025-02-18
- Inventor: 杨杰 , 石勇
- Applicant: 沃杰(北京)科技有限公司
- Applicant Address: 北京市顺义区高丽营镇文化营村北(临空二路1号科技创新功能区)
- Assignee: 沃杰(北京)科技有限公司
- Current Assignee: 沃杰(北京)科技有限公司
- Current Assignee Address: 北京市顺义区高丽营镇文化营村北(临空二路1号科技创新功能区)
- Agency: 北京沃杰永益知识产权代理事务所
- Agent 李冲
- Main IPC: G01N23/02
- IPC: G01N23/02 ; G01N23/087

Abstract:
本申请实施例提供了一种基于双能辐射的材料识别方法、系统及介质,该方法包括:采集双能X射线的辐射信号,对辐射信号进行预处理,生成辐射参数;基于辐射参数分析生成初始辐射状态信息,根据初始辐射状态信息对待检测材料进行透射分析,生成分析结果;将分析结果输入识别模型,得到识别样本数据,基于设定的识别规则得到材料的元素种类信息;基于材料的元素种类信息生成材料的属性信息与材质信息,生成识别结果;将识别结果按照预定的方式传输至终端;通过使用双能X射线的透射原理,在不同材料对应不同的透射特性,从而根据分析结果精准的分析材料的属性与材质,精准高效的进行不同材料的识别,提高识别精度。
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