公开(公告)号：CN101931008A

公开(公告)日：2010-12-29

申请号：CN201010225638.7

申请日：2010-07-13

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 陈静 ,  伍青青 ,  罗杰馨 ,  肖德元 ,  王曦

IPC: H01L29/78 ,  H01L29/06 ,  H01L21/336

CPC classification number: H01L29/42384 ,  H01L21/266 ,  H01L29/66575 ,  H01L29/7833 ,  H01L29/78612

Abstract: 本发明公开了一种具有体接触结构的PD SOI器件，该器件的有源区包括：栅区、体区、N型源区、N型漏区、体接触区以及硅化物；所述N型源区和N型漏区相对的分别位于所述体区前部的两侧，所述体接触区位于所述体区后部一侧与所述N型源区并排，所述硅化物位于所述体接触区及所述N型源区之上并同时与它们相接触，所述栅区为倒L型，位于所述体区之上，由所述体区的后部向外引出。该器件的体接触制作在源区与栅极引出的交界处，在有效抑制浮体效应的同时，还具有不会增加芯片面积，消除了传统体接触结构增加芯片面积的缺点，并具有制造工艺简单与常规CMOS工艺相兼容等优点。

公开(公告)号：CN101916776A

公开(公告)日：2010-12-15

申请号：CN201010225623.0

申请日：2010-07-13

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 陈静 ,  罗杰馨 ,  伍青青 ,  肖德元 ,  王曦

IPC: H01L29/78 ,  H01L29/06 ,  H01L21/336

CPC classification number: H01L29/78612

Abstract: 本发明公开了一种具有BTS结构的SOIMOS器件及其制作方法。该SOIMOS器件的源区包括：两个重掺杂N型区、位于两个重掺杂N型区之间的重掺杂P型区、位于两个重掺杂N型区和重掺杂P型区之上的硅化物、以及与该硅化物相连的浅N型区；该重掺杂P型区与其上的硅化物形成欧姆接触，释放SOIMOS器件在体区积累的空穴，从而有效抑制SOIMOS器件的浮体效应，不增加芯片面积，并消除了传统BTS结构降低有效沟道宽度的缺点。制作时先通过离子注入的方法形成重掺杂P型区，再在源区表面形成金属，通过热处理使金属与其下的Si反应生成硅化物。该制造工艺简单与常规CMOS工艺相兼容。

公开(公告)号：CN101872737A

公开(公告)日：2010-10-27

申请号：CN201010102139.9

申请日：2010-01-28

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 陈静 ,  罗杰馨 ,  伍青青 ,  肖德元 ,  王曦

IPC: H01L21/74 ,  H01L21/336 ,  H01L29/78

CPC classification number: H01L29/78612 ,  H01L21/266 ,  H01L29/1087 ,  H01L29/66772 ,  H01L29/78624

Abstract: 本发明公开了一种抑制SOI浮体效应的MOS结构，其包括：衬底、位于衬底之上的埋层绝缘层、位于埋层绝缘层之上的有源区；所述有源区包括体区、分别位于体区两端的第一导电类型源区和第一导电类型漏区；在体区之上设有栅区，其中，所述有源区还包括位于第一导电类型源区与埋层绝缘层之间的重掺杂第二导电类型区。制作本结构时，可通过掩膜版向第一导电类型源区的位置进行离子注入，使第一导电类型源区下部、埋层绝缘层之上的区域形成重掺杂第二导电类型区。本发明在有效抑制浮体效应的同时，具有不会增加芯片面积，制造工艺与常规CMOS工艺相兼容等优点。

公开(公告)号：CN101794712A

公开(公告)日：2010-08-04

申请号：CN201010102138.4

申请日：2010-01-28

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 肖德元 ,  罗杰馨 ,  陈静 ,  伍青青 ,  王曦

IPC: H01L21/336 ,  H01L21/74

CPC classification number: H01L21/26586 ,  H01L29/66545 ,  H01L29/78615

Abstract: 本发明公开了一种大角度离子注入抑制SOI MOS器件浮体效应的方法，其特征在于：对具有埋层绝缘层的NMOS结构以倾斜的方式进行离子注入，使所述NMOS结构的源区下部，所述埋层绝缘层之上的区域形成重掺杂的P型区，进行所述离子注入时以垂直于所述NMOS结构表面的竖直面为基准，倾斜角度在大于15度小于等于45度的范围内。本发明通过大角度离子注入的方法，在源区下方制备重掺杂的P型区，源区下方的重掺杂P区与重掺杂的N型源区形成隧道结，从而有效抑制浮体效应，同时还具有不会增加芯片面积，制造工艺简单，与常规CMOS工艺相兼容等优点。

公开(公告)号：CN101710585A

公开(公告)日：2010-05-19

申请号：CN200910199725.7

申请日：2009-12-01

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 肖德元 ,  王曦 ,  张苗 ,  陈静 ,  薛忠营

IPC: H01L27/092 ,  H01L29/78 ,  H01L29/04 ,  H01L29/10

CPC classification number: H01L29/78696 ,  H01L21/823807 ,  H01L21/84 ,  H01L27/0688 ,  H01L27/1203 ,  H01L29/42392

Abstract: 本发明公开了一种混合晶向积累型全包围栅CMOS场效应晶体管，其包括：具有第一沟道的PMOS区域、具有第二沟道的NMOS区域及栅区域，其特征在于：所述的第一沟道及第二沟道的横截面均为腰形(跑道形)，且所述第一沟道采用p型(110)Si材料，所述第二沟道采用n型(100)Si材料；栅区域将所述第一沟道及第二沟道的表面完全包围；在PMOS与NMOS区域之间、PMOS区域或NMOS区域与Si衬底之间均有埋层氧化层将它们隔离。本器件结构简单、紧凑，集成度高，在积累工作模式下，电流流过整个跑道形的沟道，具备高载流子迁移率，低低频器件噪声，并可避免多晶硅栅耗尽及短沟道效应，增大了器件的阈值电压。

公开(公告)号：CN101710584A

公开(公告)日：2010-05-19

申请号：CN200910199723.8

申请日：2009-12-01

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 肖德元 ,  王曦 ,  张苗 ,  陈静 ,  薛忠营

IPC: H01L27/092 ,  H01L29/78 ,  H01L29/16 ,  H01L29/06 ,  H01L29/10

CPC classification number: H01L21/845 ,  H01L21/823807 ,  H01L21/823821 ,  H01L27/1211 ,  H01L29/42392 ,  H01L29/78696

Abstract: 本发明公开了一种混合材料积累型全包围栅CMOS场效应晶体管，其包括：具有第一沟道的PMOS区域、具有第二沟道的NMOS区域及栅区域，其特征在于：所述的第一沟道及第二沟道的横截面均为腰形(跑道形)，且具有不同的半导体材料，所述的第一沟道为Ge材料，所述的第二沟道为Si材料；栅区域将所述第一沟道及第二沟道的表面完全包围；在PMOS与NMOS区域之间、PMOS区域或NMOS区域与Si衬底之间均有埋层氧化层将它们隔离。本器件结构在积累工作模式下，电流流过整个跑道形的沟道，具备高载流子迁移率，增大了沟道横截面积，提高了器件的驱动电流而同时又保持器件的电完整性，并可避免多晶硅栅耗尽及短沟道效应。

公开(公告)号：CN101266176A

公开(公告)日：2008-09-17

申请号：CN200810036214.9

申请日：2008-04-18

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 武爱民 ,  陈静 ,  王曦 ,  魏星 ,  张波

IPC: G01L1/18 ,  B81B7/02 ,  B81C1/00

Abstract: 本发明涉及一种基于硅硅键合的绝缘体上硅(SOI)的高温压力传感器芯片及制作方法，属于传感器芯片领域。其特征在于支撑硅衬底上的浅槽和导气孔都是通过各向异性腐蚀形成，通过控制腐蚀时间获得适当的浅槽深度可以实现器件的过压保护。将支撑硅衬底与倒扣的SOI片进行键合，对SOI片的背面进行减薄和抛光后在剩余的顶层硅上制备力敏电阻。由于采用SOI的氧化埋层来实现敏感元件和弹性元件的隔离，器件在高温环境下仍能正常工作。

公开(公告)号：CN101110428A

公开(公告)日：2008-01-23

申请号：CN200710043680.5

申请日：2007-07-11

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 武爱民 ,  陈静 ,  孙佳胤 ,  王曦

IPC: H01L27/12 ,  H01L23/00 ,  H01L21/20 ,  H01L21/84 ,  H01L21/762 ,  B81B7/02 ,  B81C1/00

Abstract: 本发明涉及一种应用于MEMS领域的多层SOI材料及制备方法，其特征在于采用SOI(Silicon－On－Insulator绝缘体上的硅)材料或者具有类SOI的多层复合结构衬底，采用硅硅直接键合或熔融键合、结合研磨和抛光或者智能剥离的方法获得具有晶体硅层和绝缘埋层相叠分布的多层结构的SOI材料。该材料可便利的实现特定的MEMS复杂器件的制造，精确控制器件中的某些特征尺寸，从而完善SOI之于MEMS的应用。对于一些沟槽隔离的微机械加工的微电子器件，该材料也是其实现单片集成的有效解决方案。

公开(公告)号：CN1206725C

公开(公告)日：2005-06-15

申请号：CN02160742.7

申请日：2002-12-27

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 董业民 ,  陈猛 ,  王曦 ,  王湘 ,  陈静 ,  林梓鑫

IPC: H01L21/84

Abstract: 本发明公开了一种制备高质量图形化SOI材料的方法，依次包括在半导体衬底上生成掩模、离子注入和高温退火，其特征在于，(1)离子注入前在硅片上形成掩模以在体硅区域完全阻挡离子的注入；(2)离子注入时的能量范围是50～200 keV，相应的剂量范围是2.0×1017～7.0×1017cm-2，注入剂量和能量之间的优化关系的公式是D(1017cm-2)＝(0.035±0.005)×E(keV)；(3)离子注入后的高温退火的温度为1200～1375℃，退火的时间为1～24个小时，退火的气氛为氩气或氮气与氧气的混合气体，其中氧气的体积含量为0.5%～20%。采用本发明提供的方法所制备的图形化SOI材料具有平整度高，缺陷密度低，过渡区小等优点，适合于制造集成体硅和SOI电路的系统芯片。

公开(公告)号：CN1193414C

公开(公告)日：2005-03-16

申请号：CN03115423.9

申请日：2003-02-14

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 董业民 ,  陈猛 ,  王曦 ,  王湘 ,  陈静

IPC: H01L21/335

Abstract: 本发明涉及一种源漏在绝缘体上的场效应晶体管(MOSFET)的制造方法，属于微电子技术领域。本发明的特征在于采用选择外延法在常规SOIMOSTET器件的沟道下方埋氧中开一个窗口，使器件的沟道和硅衬底相连接，达到电耦合与热耦合的目的。具体而言，本发明的方法包括SOI衬底顶层硅和埋氧的刻蚀；在沟道区域选择外延单晶硅；化学机械抛光平坦化；常规CMOS工艺完成器件的制造等工艺步骤。采用本发明的方法制造的源漏在绝缘体上的晶体管，具有埋氧和体硅之间界面陡峭，缺陷少等优点，保证了器件的性能，在深亚微米集成电路的制造中有一定的应用前景。