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公开(公告)号:CN102636199A
公开(公告)日:2012-08-15
申请号:CN201210029829.5
申请日:2012-02-10
Applicant: 株式会社安川电机
CPC classification number: G01D5/34776 , G01D5/145 , G01D5/34715 , G01D5/3473 , G01D5/34792
Abstract: 本发明涉及编码器、光学模块以及伺服系统。提供包括沿第一测量轴线并排布置的多个反射狭缝的狭缝阵列和面向狭缝阵列的一部分并能够在第一测量轴线上相对移动的光学模块,其特征在于,光学模块包括:用光照射狭缝阵列的点光源;和光接收阵列,其包括沿第二测量轴线并排布置的多个光接收元件,并在平行于狭缝阵列的平面中布置在沿垂直于第二测量轴线的宽度方向相对于点光源偏移的位置,光接收元件分别接收从点光源照射并从反射狭缝反射的光,且多个光接收元件包括使得沿第二测量轴线方向更靠近点光源的光接收元件包括沿宽度方向更短的长度的相应形状,且沿宽度方向相对于点光源位于光接收元件的相反侧的端部被并排布置在沿第二测量轴线的位置。
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公开(公告)号:CN100549625C
公开(公告)日:2009-10-14
申请号:CN200580035469.8
申请日:2005-09-29
Applicant: 株式会社安川电机
IPC: G01D5/244
CPC classification number: G01D5/24452 , G01D5/2449
Abstract: 一种编码器信号处理装置及其信号处理方法,用简单的处理电路和处理方法,得到补正至高次的失真误差的高精度的位置检出信号。未图示的作为被测定物的两个物体以一定速度变位,将由传感器信号检出部相应于变位而检出的模拟信号Sa、Sb通过A/D变换器(1)变换成数字数据后,通过位置数据算出部(2)运算位置数据θ0。接下来,通过误差补正用参数取得部(3)进行位置数据θ0的编码,将其存储在第一存储器(4)中。当再一次启动电源后,含有误差的位置数据作成部(5)读出补正系数,对其进行解码。误差补正位置表格作成部(6)作成解码所得的数据和理想位置数据的补正表格,将其记录在第二存储器(7)中。运转开始后,误差补正部(8)读取位置数据,用该位置数据参照补正表格,输出补正所得的位置数据。
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公开(公告)号:CN101405576A
公开(公告)日:2009-04-08
申请号:CN200780009965.5
申请日:2007-03-15
Applicant: 株式会社安川电机
IPC: G01D5/36
CPC classification number: G01D5/366 , G01D5/3473
Abstract: 提供一种能够输出高精度原点信号的、具有简单结构的光学编码器。为转盘(110)制备旋转原点相狭缝(112),所述旋转原点相狭缝被形成为以等间距平行布置的线性狭缝式样,而为固定原点相尺(120)制备固定原点相狭缝(122),所述固定原点相狭缝被形成为以等间距平行布置的线性狭缝式样。由光源(130)发射的光通过射出窗口(121)并且照射原点相狭缝(112)。在原点相狭缝(112)处反射的光通过固定原点相狭缝(122)并且被受光元件(140)检测到。这样,基于检测信号,产生原点信号。
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公开(公告)号:CN112240781B
公开(公告)日:2022-10-18
申请号:CN202010439653.5
申请日:2020-05-22
Applicant: 株式会社安川电机
IPC: G01D5/36 , G01D5/347 , H02K11/215
Abstract: 编码器、伺服电机、伺服系统。减小传感器部的位置偏移对绝对位置检测精度的影响。编码器具有盘和光学模块,盘具有第一绝对图案的狭缝轨道(SA1)和第二绝对图案的狭缝轨道(SA2)。光学模块具有:受光阵列(PA1),接收由狭缝轨道(SA1)反射的光,由多个第一受光元件与多个第二受光元件交替配置而成,多个第一受光元件输出第一相位的第一绝对信号,多个第二受光元件输出第二相位的第一绝对信号;受光阵列(PA2),配置成在与受光阵列(PA1)之间隔着光轴(Op),接收由狭缝轨道(SA2)反射的光,由多个第三受光元件与多个第四受光元件交替配置而成,多个第三受光元件输出第一相位的第二绝对信号,多个第四受光元件输出第二相位的第二绝对信号。
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公开(公告)号:CN106104214B
公开(公告)日:2017-12-12
申请号:CN201480077280.4
申请日:2014-12-09
Applicant: 株式会社安川电机
IPC: G01D5/347
CPC classification number: G01D5/347
Abstract: 本发明提供编码器和带编码器的电机,能够提高检测精度。该编码器具有:沿着测量方向(C)的图案(SA1、SA2);向图案(SA1、SA2)射出光的光源(131);以及沿着测量方向(C)排列,接收从光源(131)射出并被图案(SA1、SA2)反射的光的受光阵列(PA1、PA2),受光阵列(PA1、PA2)各自具有的多个受光元件各自的测量方向(C)上的最大外形尺寸(TPA2)以及与测量方向垂直的宽度方向(R)上的最大外形尺寸(WPA2)彼此相等,并且,离光源(131)的距离不同的受光元件彼此具有不同的形状,使得各自的受光光量彼此相等。
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公开(公告)号:CN103929018B
公开(公告)日:2016-09-07
申请号:CN201410015334.6
申请日:2014-01-14
Applicant: 株式会社安川电机
IPC: H02K11/215
CPC classification number: G01B7/30 , G01P3/487 , H02K11/225
Abstract: 提供一种马达,在旋转检测装置中,通过抑制齿槽效应,能够高精度地检测轴的旋转。在设置于马达(210)的旋转检测装置(1)中,在固定有磁铁(21、22)等的第1支承体(11)随着轴(213)的旋转而相对于固定有磁场检测部(31)等的第2支承体(12)进行旋转的期间内,通过磁场检测部(31)等检测由磁铁(21、22)等形成的磁场,由此检测轴(213)的旋转状态。在各磁场检测部(31)等中,其一端部和另一端部被磁性部件(41、42)等覆盖。磁性部件(41~46)的各对在各磁场检测部(31~33)的长度方向中间部隔着间隙(S1)彼此相对,各磁铁(21~24)在圆周的切线方向上的尺寸(D1)大于其径向的尺寸(D4),并且大于间隙(S1)的距离。
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公开(公告)号:CN104977032A
公开(公告)日:2015-10-14
申请号:CN201510049959.9
申请日:2015-01-30
Applicant: 株式会社安川电机
IPC: G01D5/347
CPC classification number: G01D5/34707 , G01D5/3473 , G01D5/34792 , G05B11/011 , H02K11/22
Abstract: 本发明提供一种编码器,可以提高位置数据的可靠性。具体而言,其具有:圆盘(110);狭缝码道(SI1)、(SI2),具有增量图案;狭缝码道(SA1)、(SA2),具有绝对图案;光源(121);受光阵列(PI1)、(PI2),配置在沿宽度方向R相互偏置的位置上,构成为接收由狭缝码道(SI1)、(SI2)反射的光;2个受光阵列(PA1)、(PA2),构成为接收由狭缝码道(SA1)、(SA2)反射的光;信号选择部(144),根据受光阵列(PI1)、(PI2)的2个受光信号选择受光阵列(PA1)、(PA2)的2个受光信号的任意一个;以及位置数据生成部(140),根据受光阵列(PI1)、(PI2)的2个受光信号和由信号选择部(144)选择的一个受光信号,生成位置数据。
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公开(公告)号:CN104613999A
公开(公告)日:2015-05-13
申请号:CN201410636025.0
申请日:2014-11-05
Applicant: 株式会社安川电机
IPC: G01D5/347
CPC classification number: G01D5/34792 , G01D5/3473
Abstract: 本发明涉及编码器、具有编码器的电机、和伺服系统。编码器,包括:具有多个光学效应部的轨道,所述光学效应部设置为具有沿着测量方向的绝对图案;点光源,所述点光源被配置成向所述轨道射出扩散光;和受光阵列,所述受光阵列被配置成具有沿着测量方向设置的受光元件并且接收由所述轨道反射的光或透射的光。所述受光元件位于与所述光学效应部之间的区域相对应的并且由所述轨道反射的光或透射的光不会到达的区域内。
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公开(公告)号:CN104613995A
公开(公告)日:2015-05-13
申请号:CN201410610511.5
申请日:2014-11-03
Applicant: 株式会社安川电机
IPC: G01D5/347
CPC classification number: G01D5/34776 , G01D5/3473 , G01D5/34738
Abstract: 本发明涉及编码器、具有编码器的电机、和伺服系统。一种编码器(100),包括:分别具有沿着测量方向并排设置的多个反射狭缝的多个狭缝轨道(SA,SI1,SI2);被配置为向多个狭缝轨道(SA,SI1,SI2)射出扩散光的光源(121);被配置为接收被具有增量图案的狭缝轨道(SI2)反射的光的受光阵列(PI2);被配置为接收被具有比其他的增量图案具有更长的间距的增量图案的狭缝轨道(SI1)反射的光的受光阵列(PI1);以及被配置为接收被具有绝对图案的狭缝轨道(SA)反射的光的受光阵列(PA)。
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公开(公告)号:CN102636199B
公开(公告)日:2015-04-01
申请号:CN201210029829.5
申请日:2012-02-10
Applicant: 株式会社安川电机
CPC classification number: G01D5/34776 , G01D5/145 , G01D5/34715 , G01D5/3473 , G01D5/34792
Abstract: 本发明涉及编码器、光学模块以及伺服系统。提供包括沿第一测量轴线并排布置的多个反射狭缝的狭缝阵列和面向狭缝阵列的一部分并能够在第一测量轴线上相对移动的光学模块,其特征在于,光学模块包括:用光照射狭缝阵列的点光源;和光接收阵列,其包括沿第二测量轴线并排布置的多个光接收元件,并在平行于狭缝阵列的平面中布置在沿垂直于第二测量轴线的宽度方向相对于点光源偏移的位置,光接收元件分别接收从点光源照射并从反射狭缝反射的光,且多个光接收元件包括使得沿第二测量轴线方向更靠近点光源的光接收元件包括沿宽度方向更短的长度的相应形状,且沿宽度方向相对于点光源位于光接收元件的相反侧的端部被并排布置在沿第二测量轴线的位置。
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