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公开(公告)号：CN109164572A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201810863050.0
申请日：2018-08-01
Applicant: 南京理工大学
IPC: G02B26/08
CPC classification number: G02B26/0816
Abstract: 本发明公开了一种大功率光纤激光器用光闸的光路切换装置及其切换方法，包括步进电机、步进电机固定块、底板、反射镜夹持器、反射镜、限位杆、电磁铁和电磁铁固定块，上述部件组合成一个整体，安装于光闸中。反射镜安装在反射镜夹持器上，步进电机旋转反射镜夹持器完成光路的切换。限位杆限制反射镜夹持器的转动位置，反射镜夹持器上装有强磁铁，与电磁铁组合，通过电磁铁的通电与断电，可以固定反射镜夹持器的位置，提高其重复定位精度。这种光路切换装置及切换方法可以使光闸的光路切换更加可靠，提高了大功率光纤激光器用光闸的稳定性。
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公开(公告)号：CN107991061A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201810041210.3
申请日：2018-01-16
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01M11/00
CPC classification number: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种高功率光纤激光器QBH光缆光束质量检测系统及其检测方法，检测系统由千瓦级高功率光纤激光器、功率反馈探测系统及光束质量测量系统组成。功率反馈探测系统放置于光纤激光器输出光纤与QBH光缆的熔接点之前。沿光路放置准直器与高反镜，功率计放置于高反镜的反射光路上，第一楔板玻璃放置于高反镜的透射光路上，第二楔板玻璃放置于第一楔板玻璃的反射光路上，光束质量分析仪放置于第二楔板玻璃的反射光路上。本发明可以测量出高功率光纤激光器QBH光缆光束质量的好坏，并具有自我保护功能，若熔接存在问题以致光纤烧毁，功率反馈探测系统会自动断电以保护激光器免受损伤。
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公开(公告)号：CN107678104A
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201610621563.1
申请日：2016-08-02
Applicant: 南京理工大学
IPC: G02B6/42
CPC classification number: G02B6/4296
Abstract: 本发明公开了一种指示激光器耦合装置及其调整方法，包括封装管壳、半导体激光器、显微物镜、反射镜、玻璃管和光纤，半导体激光器和显微物镜均设置在封装管壳内，封装管壳外壁开有一个回光功率探测孔，在半导体激光器的出光方向上，依次设置显微物镜和反射镜，反射镜与半导体激光器的光轴存在夹角，玻璃管一端伸入封装管壳，且位于反射镜的反射光路上，另一端位于封装管壳外，光纤穿过玻璃管中心；回光功率探测孔与玻璃管位于同一条光轴上。本发明结构简单，体积小，调整方便，节约时间并且成本较低，耦合效率高，并且可以探测回光功率。
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公开(公告)号：CN105092530B
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201510263169.0
申请日：2015-05-21
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了一种平行平晶光学非均匀性的绝对测量方法。步骤为：对第一透射参考平晶工作面和待测平行平晶前表面进行一次干涉测量；在待测平行平晶后面放置反射参考平晶，对第一透射参考平晶和反射参考平晶工作面进行一次干涉测量；对第一透射参考平晶工作面和待测平行平晶后表面进行一次干涉测量；对第一透射参考平晶和反射参考平晶工作面进行一次空腔干涉测量；用第二透射参考平晶替换第一透射参考平晶，对第二透射参考平晶和第一透射参考平晶工作面进行一次干涉测量；对第二透射参考平晶和反射参考平晶工作面进行一次干涉测量；综合测量结果，得到待测平行平晶的光学非均匀性。本发明简单易行、精确高效，测量对象不受前后表面平行度的限制。
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公开(公告)号：CN106898939A
公开(公告)日：2017-06-27
申请号：CN201710253415.3
申请日：2017-04-18
Applicant: 南京理工大学
CPC classification number: H01S3/0675 , G02B6/02057 , H01S3/0407 , H01S3/06704
Abstract: 本发明提供一种光纤激光器中低反光栅和包层光功率剥离器结合器件，包括光纤、玻璃管、小玻璃管、金属外壳；光纤的一段光纤涂覆层被剥除且在被剥除光纤涂覆层处的纤芯处镀一层低反光栅且低反光栅周围裸露的光纤外包层被化学腐蚀，玻璃管分为前后两个圆柱形管套且前圆柱管套的内径和外径分别小于后圆柱管套的内径和外径；光纤伸入玻璃管中并固定且被化学腐蚀的光纤外包层位于玻璃管中央，玻璃管置于金属外壳中并固定，小玻璃管套于光纤露于玻璃管外部的部分且小玻璃管与光纤和金属外壳固定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103983366B
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201410239682.1
申请日：2014-05-30
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01J9/02
Abstract: 本发明公开了一种斜入射反射型点衍射板及其干涉测量方法。该点衍射板的基底采用折射率均匀的光学玻璃，且该光学玻璃为平行平板结构；所述基底的入射面上部镀有增透膜、下部镀有介质膜，基底的反射面上部镀有高反膜、下部镀有增透膜；所述入射面下部的介质膜内设有一个椭圆孔；所述基底反射面上部的高反膜在入射面上的投影与入射面下部的介质膜部分重叠，使反射面上部的高反膜只将入射光反射一次。干涉测量方法为：(1)调整点衍射板的位置，(2)用探测器采集载频干涉图，(3)对干涉图进行傅里叶变换处理恢复波前相位，(4)对恢复的相位进行Zernike拟合，(5)系统误差标定。本发明对激光瞬态波前检测的精度高、成本低，且测试过程简单方便。
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公开(公告)号：CN105928455A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610343225.6
申请日：2016-05-20
Applicant: 南京理工大学
CPC classification number: G01B9/02 , G01B9/02025 , G01J9/02 , G01J2009/0234 , G01J2009/0292
Abstract: 本发明公开了一种空间分光同轴斐索型同步移相干涉仪及其测量方法，属于光学干涉测量仪器领域。该干涉仪包括点光源及其分光组件、斐索型主干涉仪和分光成像组件。方法为：点光源发出的球面波经分光组件分成四束后进入主干涉仪，采用分光组件将一个点光源复制成相同的四个，通过调整四个点光源在主干涉仪准直物镜焦面上与光轴的距离，在参考面与测试面的干涉中引入不同的相移量，然后通过分光成像组件在一个CCD上同时获取四幅成像清晰的相移干涉图。本发明具有成本低、抗震性好、易于操作等特点，可以用于光学元件的实时高精度检测等领域。
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公开(公告)号：CN104165599A
公开(公告)日：2014-11-26
申请号：CN201410413452.2
申请日：2014-08-20
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供一种偏摆工件非球面的非接触式测量系统，包括：非接触式光学轮廓仪探头、轮廓仪升降调整机构、精密三维位移台、数显倾角仪、二维偏摆台、底座及计算机系统，非接触式光学轮廓仪探头固定在轮廓仪升降调整机构上；精密三维位移台固定于二维偏摆台上，用于对被测件的承载和横向移动与定位；数显倾角仪固定于二维偏摆台上，用于测量二维偏摆台的偏摆角度；二维偏摆台固定于底座上，用于通过偏摆实现被测件的偏摆；计算机系统经与非接触式光学轮廓仪探头、精密三维位移台、数显倾角仪数据连接，接收测量点面形数据、被测件的横向位移数据及偏摆角度，进行处理实现非球面面形恢复。本发明还涉及一种偏摆工件非球面的非接触式测量方法。
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公开(公告)号：CN118746422A
公开(公告)日：2024-10-08
申请号：CN202410974449.1
申请日：2024-07-19
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于白光动态干涉的拼接镜共相检测方法，搭建白光泰曼‑格林动态干涉仪，使用精密电动位移台驱动参考镜对拼接镜进行扫描并记录各扫描位置四步移相干涉图，共相检测过程主要分为粗共相检测和精共相检测两个阶段，粗共相检测阶段通过消色差偏振移相方法获得不同扫描位置处对比度曲线，突破了干涉级次模糊对共相误差检测范围的限制；精共相检测阶段使用基于Zernike拟合分析的高精度拼接镜平移误差计算模型，以纳米级精度精确反馈共相误差。本发明在白光扫描干涉测量方法基础上进一步实现了消色散动态干涉测量，检测效率高，可实现大范围高精度检测，在拼接镜共相检测领域具有广阔应用前景。
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公开(公告)号：CN115790442B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202211423301.6
申请日：2022-11-15
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于大口径微位移调整架的干涉测量方法，首次采用适用于装夹重量大于50kg，600mm口径以上光学元件的大口径微位移调整架，大口径微位移调整架包括底座、镜架、定轴、第一微位移组件、动板、俯仰调节传动组件、偏摆调节传动组件、第一手轮、第二手轮。镜架与动板紧密贴合共同运动，微位移组件带动大口径光学元件产生纳米级步进，实现高精度机械移相，底座通过定轴、两组传动组件与动板传动，定轴保证底座和动板相对位置不变，传动组件可调节动板相对于底座的俯仰、偏摆，此装置实现了在进行大口径光学元件干涉测量时，兼顾二维偏摆调节及高精度机械移相的功能。
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