同时相移的斐索干涉仪
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100552375C

    公开(公告)日:2009-10-21

    申请号:CN200580047333.9

    申请日:2005-01-27

    Applicant: 4D技术公司

    Abstract: 利用斐索干涉仪的参考和测试镜(24,26)之间的倾斜关系以在空间上分离来自两个表面的反射(R,T)。分离的光束(R,T)通过为该光束提供不同的偏振状态的空间偏振元件(32)而得到过滤。该光束(R,T)随后被重新结合以形成大体共线的光束,该共线光束利用允许在单个视频帧中进行定量的相位测量的空间相位干涉仪(44)得到处理。可选地,具有正交偏振的两个光束(104,106)在不同的角度射入斐索腔(20),使得它们在从参考和测试镜片(24,26)反射之后大体共线。不需要的反射通过使用圆孔(112)在焦平面上被阻断。短相干长度的光和延迟线(84)可以用于减轻散射、减少测量积分次数且进行暂时相位平均。

    干涉仪装置用光量比调节滤光片、干涉仪装置及光干涉测定方法

    公开(公告)号:CN100447524C

    公开(公告)日:2008-12-31

    申请号:CN200510103631.7

    申请日:2005-09-06

    Inventor: 植木伸明

    CPC classification number: G01B9/02058 G01B9/02057 G01J3/0213 G01J2009/0292

    Abstract: 在干涉仪的基准面和被检测面之间配置光量比调节滤光片(112)。该光量比调节滤光片(112),是在由玻璃构成的透明基板的被测体(117)侧的面上,设置包括光反射吸收层(12a)和电介体防止反射层(12b)的光量比调节膜(12),而在基准面(116a)侧的面上设置防止光反射层(13),其作用是相对于从基准面对置面侧入射的入射光,反射其部分、吸收其部分之后将其余下部分向被测体(117)射出,另外,相对于从被测体(117)返回的返回光,吸收其部分、另方面抑制反射、将剩余作为被检测光向基准面(116a)方向射出。

    同时相移的斐索干涉仪
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101111739A

    公开(公告)日:2008-01-23

    申请号:CN200580047333.9

    申请日:2005-01-27

    Applicant: 4D技术公司

    Abstract: 利用斐索干涉仪的参考和测试镜(24,26)之间的倾斜关系以在空间上分离来自两个表面的反射(R,T)。分离的光束(R,T)通过为该光束提供不同的偏振状态的空间偏振元件(32)而得到过滤。该光束(R,T)随后被重新结合以形成大体共线的光束,该共线光束利用允许在单个视频帧中进行定量的相位测量的空间相位干涉仪(44)得到处理。可选地,具有正交偏振的两个光束(104,106)在不同的角度射入斐索腔(20),使得它们在从参考和测试镜片(24,26)反射之后大体共线。不需要的反射通过使用圆孔(112)在焦平面上被阻断。短相干长度的光和延迟线(84)可以用于减轻散射、减少测量积分次数且进行暂时相位平均。

    干涉仪装置用光量比调节滤光片、干涉仪装置及光干涉测定方法

    公开(公告)号:CN1752712A

    公开(公告)日:2006-03-29

    申请号:CN200510103631.7

    申请日:2005-09-06

    Inventor: 植木伸明

    CPC classification number: G01B9/02058 G01B9/02057 G01J3/0213 G01J2009/0292

    Abstract: 在干涉仪的基准面和被检测面之间配置光量比调节滤光片(112)。该光量比调节滤光片(112),是在由玻璃构成的透明基板的被测体(117)侧的面上,设置包括光反射吸收层(12a)和电介体防止反射层(12b)的光量比调节膜(12),而在基准面(116a)侧的面上设置防止光反射层(13),其作用是相对于从基准面对置面侧入射的入射光,反射其部分、吸收剩余部分之后将其余下部分向被测体(117)射出,另外,相对于从被测体(117)返回的返回光,吸收其部分、另方面抑制反射、将剩余作为被检测光向基准面(116a)方向射出。

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