公开(公告)号：CN102215754A

公开(公告)日：2011-10-12

申请号：CN200880103110.3

申请日：2008-08-07

Applicant: 国立大学法人京都大学

Inventor： 神野郁夫

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/032 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4042 ,  A61B6/405 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/481 ,  A61B6/482 ,  A61B6/504 ,  A61B6/544 ,  A61B6/583 ,  G01N23/046 ,  G01N23/087

Abstract: 在X线CT装置(1)及X线CT方法中，根据被设定为在作为检查对象物的X线造影剂的K吸收端的上下的指定能量范围内的透过X线的数目计算检查对象物的厚度，根据该计算出的检查对象物的厚度重组CT图像。此种X线CT装置(1)及X线CT方法能够不依赖于被检测体的大小及X线管电压(X线的能量分布)而稳定地生成X线CT图像。

公开(公告)号：CN102187206A

公开(公告)日：2011-09-14

申请号：CN200980141603.0

申请日：2009-09-08

Applicant: 技术资源有限公司

Inventor： 安德烈·加布里埃尔·皮得考克 ,  罗宾·格林伍德-史密斯 ,  特雷弗·霍伊尔

IPC: G01N23/00 ,  G01N23/06

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N33/22

Abstract: 本发明公开了一种用于分析包含组分的材料的颗粒的方法。该方法包括下列步骤：将材料颗粒暴露于具有一定范围内的x-辐射能量的x辐射，检测透射穿过所述颗粒的两个不同能级的x-辐射强度，以及根据检测出的强度确定组分的浓度。

公开(公告)号：CN101900695A

公开(公告)日：2010-12-01

申请号：CN200910085924.5

申请日：2009-05-27

Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

Inventor： 张丽 ,  陈志强 ,  刘圆圆 ,  邢宇翔 ,  赵自然

IPC: G01N23/04 ,  G06T11/00

CPC classification number: G01N23/087 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/4266 ,  A61B6/482 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/423 ,  G06T11/005 ,  G06T11/008 ,  G06T2211/408

Abstract: 公开了一种伪双能欠采样物质识别系统及其方法。该系统利用基于CT图像的双能投影欠采样物质识别方法，在第二层探测器中仅利用少量的探测器进行双能数据采样，并将该方法中解方程组的部分进行优化，有效的实现了低成本，快速度的双能物质识别成像。具有应用于安全检查，无损检测，医疗诊断等领域的潜力。

公开(公告)号：CN101074937A

公开(公告)日：2007-11-21

申请号：CN200610011945.9

申请日：2006-05-19

Applicant: 清华大学 ,  清华同方威视技术股份有限公司

Inventor： 王学武 ,  刘以农 ,  陈志强 ,  刘耀红 ,  钟华强 ,  张东生 ,  陈玉梅 ,  高峰

IPC: G01N23/087 ,  G01N23/04 ,  G01N23/08 ,  G21K1/00 ,  A61B6/00 ,  G01V5/00 ,  H05G1/26 ,  H05G1/46

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N2223/206 ,  G01N2223/313 ,  G01N2223/423 ,  G01N2223/639

Abstract: 公开了一种能谱调制装置、材料识别方法和设备及图像处理方法，能利用不同能量的X射线识别海运、航空集装箱等大中型客体中物质的材料。该能谱调制装置包括：第一能谱调制部件，用于对具有第一能谱的第一射线进行能谱调制；第二能谱调制部件，与所述第一能谱调制部件耦合，用于对具有与所述第一能谱不同的第二能谱的第二射线进行能谱调制。本发明可用在海关、港口、机场等场所对大型集装箱货物进行不开箱查验。

公开(公告)号：CN105451659B

公开(公告)日：2018-08-07

申请号：CN201480044568.1

申请日：2014-10-22

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 坪田悠史 ,  渡边史人 ,  昆野康隆 ,  小岛进一 ,  山川惠介 ,  黑川真次

IPC: A61B6/03 ,  G01N23/04

CPC classification number: A61B6/5205 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/482 ,  A61B6/582 ,  G01N23/046 ,  G01N23/087

Abstract: 估算并校正位于X射线源与检测元件之间的物质的微小的设计公差等所引起的X射线的线质的变化。由此防止双能量摄影法中的物质识别能力的下降。X射线摄像装置(100)具备:固定过滤计算部(223),其使用以二种以上不同的管电压来拍摄空气(无被摄体)而得到的测量数据,计算与基准线质的偏移量,作为规定基准物质的透过距离(固有滤过)。固定过滤计算部通过针对上述测量数据应用基于双能量摄影法的基准物质透过距离变换,从而按照每个检测元件来计算基准物质透过距离(固有滤过)。在被摄体摄影时,通过考虑所计算出的每个检测元件的固有滤过来实施双能量摄影法,从而能够得到线质的变化被校正了的图像。

公开(公告)号：CN105277578B

公开(公告)日：2018-06-12

申请号：CN201410252245.3

申请日：2014-06-09

Applicant: 北京君和信达科技有限公司

Inventor： 王少锋 ,  李苏祺 ,  郑建斌 ,  张丹 ,  曹艳锋

IPC: G01N23/087 ,  G01V5/00

CPC classification number: G01N23/087

Abstract: 本发明公开了一种提高双能辐射系统材料识别能力的方法，包括：步骤一，确定被检测材料的原子序数和厚度；步骤二，基于被检测材料的原子序数和厚度计算脉冲数量比(或剂量比)；步骤三，将双能辐射系统的脉冲数量比(或剂量比)调节为计算好的比例。本发明还公开了一种双能辐射系统。利用本发明可以快速地获得双能辐射系统的最佳材料识别状态，在此状态下进行扫描检查，双能系统的材料识别能力具有大幅提高。

公开(公告)号：CN107076685A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201580060141.5

申请日：2015-10-05

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 栖原一浩

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/087 ,  G01N23/18 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01N23/043 ,  G01N23/04 ,  G01N23/083 ,  G01N23/087 ,  G01N23/16 ,  G01N23/18 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/04 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/406 ,  G01N2223/505 ,  G01N2223/643 ,  G01T1/20

Abstract: 一种既抑制制造成本又能够检测宽能量带的X射线的X射线检查装置(10)，具备：X射线照射器(13)、线传感器组装体(14)等。线传感器组装体(14)具有多个检测单元(41)等。检测单元(41)具有闪烁器(53)、配置于其上面的包括多个元件的检测主体(52)以及支撑它们的陶瓷支承板(51)。在线传感器组装体(14)中，以检测单元(41)等的闪烁器(53)及检测主体(52)与邻接的检测单元的闪烁器(52)及检测主体(53)无间隙排列的方式，多个检测单元(41)等在前后方向上排列。

公开(公告)号：CN103995013B

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201410054347.4

申请日：2014-02-18

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 松下一之 ,  作村拓人 ,  中江保一

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01T1/2914 ,  G01N23/087 ,  G01T7/005

Abstract: 本发明提供一种在检测多波长X射线时能够去除残留在低能量侧的数据中的高能量侧的X射线的残留图像的X射线数据处理装置以及X射线数据处理方法。对同时测定多波长的X射线而得到的X射线数据进行处理的X射线数据处理装置具备：管理部(210)，接收由具有多个邻接的检测部分的检测器检测出的、通过能量阈值分离的X射线数据，并进行管理；计算部(230)，基于接收的X射线数据中的通过高能量侧的阈值获得的高能量侧数据以及通过低能量侧的阈值获得的低能量侧数据，计算出低能量侧数据中的来自于高能量侧X射线的检测量；修正部(250)，使用计算出的检测量，对低能量侧数据进行再构成。

公开(公告)号：CN106538069A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201580036385.X

申请日：2015-05-07

Applicant: 劳伦斯·利弗莫尔国家安全有限责任公司

Inventor： 克里斯托弗·P·J·巴季

IPC: H05G2/00

CPC classification number: G01N23/04 ,  A61B6/06 ,  A61B6/405 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/4258 ,  A61B6/481 ,  A61B6/482 ,  A61B6/542 ,  A61B6/545 ,  A61B6/585 ,  G01N9/24 ,  G01N23/087 ,  G01N2223/206 ,  G01N2223/405 ,  G01N2223/408 ,  G01N2223/423 ,  H01S3/0085 ,  H01S3/10015 ,  H01S3/1003 ,  H05G1/38 ,  H05G1/44 ,  H05G1/56 ,  H05G2/00 ,  H05G2/008

Abstract: 超低剂量x射线或伽马射线成像基于对激光康普顿x射线源或激光康普顿伽马射线源(LCXS或LCGS)的输出进行的快速电子控制。通过对在对象的每个像素处实现检测器处的检测能力的阈值水平所需要的LCXS或LCGS射束能量进行监测来一次一个(或一些)像素地构造x射线影像图或伽马射线影像图。示例提供了：当达到检测的阈值时，向LCXS/LCGS发送用于开启快速光开关的电信号或光信号，该快速光开关使用于生成康普顿光子的激光脉冲在空间上或时间上转向。以这种方式，防止对象进一步暴露于康普顿x射线或伽马射线，直到激光康普顿射束或对象被移动为止，以使得新的像素位置可以被照射。

公开(公告)号：CN104040326B

公开(公告)日：2017-03-01

申请号：CN201380005382.0

申请日：2013-01-18

Applicant: 株式会社尼康

Inventor： 青木贵史

IPC: G01N23/04

CPC classification number: G01N23/083 ,  G01N23/087 ,  G01N2223/306 ,  G01N2223/401 ,  G01N2223/402 ,  G01N2223/615 ,  G01N2223/623 ,  G01N2223/645 ,  G05B15/02

Abstract: 提供一种可抑制与包含多种物质的物体内部有关的检测不良的X线装置、方法、及构造物的制造方法。一种X线装置，对测定物照射X线，而检测透过该测定物的透过X线，具备信息处理部质的比率，而根据借由该检测所获得的第1检测信息生成第2检测信息。该信息处理部是根据该第1物质与该第2物质的比率，并且根据与该X线的照射方向正交的平面的每单位面积中该X线透过该第1物质及该第2物质的比率，而自该第1检测信息生成该第2检测信息。(100)，根据该测定物中所含的第1物质与第2物