公开(公告)号：CN106574978B

公开(公告)日：2018-11-23

申请号：CN201580045287.2

申请日：2015-08-25

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 昆野康隆

IPC: G01T1/17 ,  A61B6/03 ,  G01N23/046

CPC classification number: A61B6/4241 ,  A61B6/032 ,  A61B6/5205 ,  A61B6/585 ,  G01N23/046 ,  G01T1/171

Abstract: 在具备光子计数方式的X射线检测元件的X射线拍摄装置中，为了高精度地进行专门用于堆积的计数值的修正，X射线拍摄装置具备：X射线检测器，其配置有多个对入射的X射线光子进行检测，并区分为2个以上的能量范围来进行计数的光子计数方式的X射线检测元件；以及修正部，其修正X射线检测元件的计数值，修正部具有错计数量决定部，其基于由2个以上的X射线光子产生堆积的概率，来决定基于堆积的计数值的错计数量。

公开(公告)号：CN108186043A

公开(公告)日：2018-06-22

申请号：CN201810132727.3

申请日：2018-02-09

Applicant: 沈阳东软医疗系统有限公司

Inventor： 孙金刚 ,  李明 ,  崔雨

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/037 ,  A61B6/585

Abstract: 本申请公开了一种校正PET设备灵敏度的方法和装置。根据该方法的一个例子，包括：获取线源在PET设备的横截面视野范围内旋转时探测器采集的事件数据；检测线源的旋转轨迹，确定线源在探测器每个晶体对上的驻留时间校正因子；获得非边界晶体对探测到的真实符合数据，估算边界晶体对的拟合符合数据；利用驻留时间校正因子作用于目标符合数据集合，获得待处理数据；根据待处理数据确定每个晶体对的几何校正因子，用于对晶体对在扫描被检体时探测到的符合数据进行一致性校正、获得用于重建PET图像的目标符合数据。采用本申请提供的校正PET设备灵敏度的方法，有效提高了PET设备几何校正的准确性，进而提高PET重建图像的质量。

公开(公告)号：CN104665833B

公开(公告)日：2017-03-29

申请号：CN201510029457.X

申请日：2011-12-22

Applicant: 韦伯斯特生物官能(以色列)有限公司

Inventor： A.D.蒙塔格 ,  M.巴-塔尔 ,  T.H.巴-安

IPC: A61B5/06

CPC classification number: A61B5/062 ,  A61B5/7203 ,  A61B5/7217 ,  A61B6/12 ,  A61B6/4441 ,  A61B6/487 ,  A61B6/582 ,  A61B6/585 ,  A61B6/587 ,  A61B34/20 ,  A61B2017/00725 ,  A61B2034/2051 ,  A61B2034/2055 ,  A61B2090/376 ,  A61B2560/0223

Abstract: 本发明涉及补偿由荧光检查仪产生的磁干扰。本发明公开了一种方法，所述方法包括使用多个磁发射器在某一区域中产生磁场，以及将场扰动元件引入所述区域中。所述方法包括表征每一个磁发射器在所述场扰动元件中的多幅图像，以及根据所述表征的图像计算所述区域中的反应磁场。所述方法还包括将探针定位在所述区域中，测量在所述探针处的被扰动的磁场，以及针对所测量的被扰动的磁场和所计算的反应磁场来确定所述探针的位置。

公开(公告)号：CN106538069A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201580036385.X

申请日：2015-05-07

Applicant: 劳伦斯·利弗莫尔国家安全有限责任公司

Inventor： 克里斯托弗·P·J·巴季

IPC: H05G2/00

CPC classification number: G01N23/04 ,  A61B6/06 ,  A61B6/405 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/4258 ,  A61B6/481 ,  A61B6/482 ,  A61B6/542 ,  A61B6/545 ,  A61B6/585 ,  G01N9/24 ,  G01N23/087 ,  G01N2223/206 ,  G01N2223/405 ,  G01N2223/408 ,  G01N2223/423 ,  H01S3/0085 ,  H01S3/10015 ,  H01S3/1003 ,  H05G1/38 ,  H05G1/44 ,  H05G1/56 ,  H05G2/00 ,  H05G2/008

Abstract: 超低剂量x射线或伽马射线成像基于对激光康普顿x射线源或激光康普顿伽马射线源(LCXS或LCGS)的输出进行的快速电子控制。通过对在对象的每个像素处实现检测器处的检测能力的阈值水平所需要的LCXS或LCGS射束能量进行监测来一次一个(或一些)像素地构造x射线影像图或伽马射线影像图。示例提供了：当达到检测的阈值时，向LCXS/LCGS发送用于开启快速光开关的电信号或光信号，该快速光开关使用于生成康普顿光子的激光脉冲在空间上或时间上转向。以这种方式，防止对象进一步暴露于康普顿x射线或伽马射线，直到激光康普顿射束或对象被移动为止，以使得新的像素位置可以被照射。

公开(公告)号：CN103648384B

公开(公告)日：2016-12-14

申请号：CN201280020392.7

申请日：2012-04-20

Applicant: 通用电气公司

Inventor： J.Z.刘 ,  P.R.格兰富斯 ,  薛平 ,  D.F.朗勒 ,  K.S.坎普 ,  B.J.科斯特

IPC: A61B6/00 ,  H04N5/217 ,  H04N5/361 ,  H04N5/32 ,  G01N23/04

CPC classification number: A61B6/585 ,  H04N5/32 ,  H04N5/361

Abstract: 本发明公开一种X射线系统以及用于处理图像数据的方法，所述方法包括将数字检测器暴露于X射线辐射中。所述方法还包括通过所述数字检测器对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据。所述方法进一步包括在事先不知晓所取样的偏移图像帧总数的情况下计算平均偏移图像。

公开(公告)号：CN105306840A

公开(公告)日：2016-02-03

申请号：CN201510410460.6

申请日：2015-07-14

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 八木朋之 ,  龟岛登志男 ,  竹中克郎 ,  岩下贵司 ,  佐藤恵梨子 ,  冈田英之 ,  笠拓哉 ,  照井晃介

IPC: H04N5/32

CPC classification number: A61B6/585 ,  A61B6/4266 ,  G01T1/17 ,  H03F3/45475 ,  H03F3/70 ,  H03F2203/45514 ,  H03F2203/45634 ,  H04N5/32 ,  H04N5/355 ,  H04N5/378

Abstract: 本发明涉及放射线成像装置和放射线成像系统。提供了一种放射线成像装置，该放射线成像装置包括：第一转换元件，被布置为将放射线转换为电荷以便获得放射照相图像；第一放大器，被布置为输出与第一转换元件的电荷对应的电压；第二转换元件，被布置为将所述放射线转换为电荷以便检测放射线照射；第二放大器，被布置为输出与第二转换元件的电荷对应的电压；以及控制电路，被配置为控制第一放大器和第二放大器，其中，控制电路能够与对第一放大器施加的控制相独立地控制第二放大器。

公开(公告)号：CN102917642B

公开(公告)日：2015-10-21

申请号：CN201180027204.9

申请日：2011-06-03

Applicant: 株式会社日立医疗器械

Inventor： 小岛进一 ,  渡边史人 ,  植木广则 ,  昆野康隆 ,  坪田悠史

IPC: A61B6/03

CPC classification number: G01N23/046 ,  A61B6/032 ,  A61B6/5205 ,  A61B6/5258 ,  A61B6/5282 ,  A61B6/583 ,  A61B6/585

Abstract: 本发明提供一种X射线CT装置，具备：产生X射线的X射线产生部；X射线检测部，具有用于检测从上述X射线产生部透过了被摄体的X射线的多个X射线检测器；图像生成部，对通过上述X射线检测部得到的信号进行修正而重构图像，其中，在上述图像生成部中实施上述多个X射线检测器的交调失真修正时，先只对局部衰减的成分进行修正，与图像重构同时地对交调失真的全体成分实施修正。

公开(公告)号：CN104837409A

公开(公告)日：2015-08-12

申请号：CN201480003086.1

申请日：2014-09-16

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： H-A·维施曼 ,  E·勒斯尔

IPC: A61B6/03 ,  A61B6/06 ,  A61B6/00

CPC classification number: A61B6/484 ,  A61B6/03 ,  A61B6/06 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4078 ,  A61B6/4208 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/4435 ,  A61B6/502 ,  A61B6/547 ,  A61B6/585 ,  G21K1/025 ,  G21K1/06 ,  G21K2207/005

Abstract: 一种X射线微分相位衬度成像装置(10)包括：用于产生X射线束的X射线源(20)；用于从非相干X射线源(20)产生相干X射线束的源光栅(G0)；准直器(22)，用于将相干X射线束分离成多个扇形X射线束(28)以穿过对象(14)；用于产生干涉图案的相位光栅(G1)和用于根据所述干涉图案产生摩尔图案的布置在所述对象(14)后方的吸光器光栅(G2)；以及条纹检测器(24)，用于检测由所述相位光栅(G1)和所述吸光器光栅(G2)根据穿过所述对象(14)的所述扇形X射线束(28)产生的所述摩尔图案。所述X射线源(20)、源光栅(G0)、准直器(22)、相位光栅(G1)、吸光器光栅(G2)和条纹检测器(24)固定到公用的机架(12)，且可相对于所述对象(14)移动，使得可检测到来自所述机架的不同位置的大量干涉图案，以重构所述对象(14)的微分相位图像。以可供选择的方式，至少一个光栅(G0、G1、G2)包括光栅条纹(34)组(36)和透光区(38)。至少一个光栅(G0、G1、G2)可相对于所述机架(12)移动，使得在所述光栅(G1、G2)的第一位置，所述扇形X射线束(28)穿过所述光栅条纹(34)，且在所述光栅(G1、G2)的第二位置，所述扇形X射线束(28)穿过所述透光区(38)。

公开(公告)号：CN104160695A

公开(公告)日：2014-11-19

申请号：CN201380012897.3

申请日：2013-02-28

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 西纳直行 ,  岩切直人 ,  北野浩一 ,  大田恭义 ,  中津川晴康

IPC: H04N5/32 ,  A61B6/00 ,  G01T1/17 ,  H01L27/144 ,  H01L27/146 ,  H04N5/357 ,  H04N5/374 ,  H04N5/376

CPC classification number: H01L27/14612 ,  A61B6/42 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4283 ,  A61B6/486 ,  A61B6/488 ,  A61B6/54 ,  A61B6/542 ,  A61B6/56 ,  A61B6/585 ,  G01T1/2018 ,  G01T1/24 ,  H01L27/14609 ,  H01L27/14676 ,  H04N5/32 ,  H04N5/357 ,  H04N5/365 ,  H04N5/3745

Abstract: 本发明能够在动态图像拍摄时抑制馈通分量。即，使TFT的驱动波形重叠多个，并且将放大电路的电容器(C)的积分期间设定为包括馈通分量(截止)的发生期间、馈通分量(导通)的发生期间、和基于该导通状态从像素的储能电容中读出电荷(信号分量)的期间。使驱动波形重叠的数目根据帧速率、积分期间以及复位期间来确定。

公开(公告)号：CN103969269A

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：CN201310037546.X

申请日：2013-01-31

Applicant: GE医疗系统环球技术有限公司

Inventor： 李军 ,  李硕 ,  王斌 ,  曹蹊渺 ,  董加勤

IPC: G01N23/00 ,  G01V13/00 ,  A61B6/03

CPC classification number: A61B6/585 ,  A61B6/032 ,  A61B6/583

Abstract: 本申请涉及用于几何校准CT扫描仪的方法和装置。该方法包括对至少一排探测器单元中的每一排探测器单元执行以下步骤：建立CT扫描仪的完整几何描述，其中完整几何描述包括至少一个未知几何参数；利用完整几何描述来建立前向投影函数的描述；获取置入扫描视野SFOV中的校准模在当前排的探测器单元上的对应于多个角度的实际投影坐标；利用前向扫描函数的描述来获取校准模在当前排的探测器单元上的对应于多个角度的计算投影坐标；通过非线性最小二乘拟合算法基于所获取的实际投影坐标和计算投影坐标来求解至少一个未知几何参数，从而得到至少一个未知几何参数的校准值。