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公开(公告)号：CN102519989B
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201110349492.1
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 公开了一种伪双能欠采样物质识别系统及其方法。该系统利用基于CT图像的双能投影欠采样物质识别方法，在第二层探测器中仅利用少量的探测器进行双能数据采样，并将该方法中解方程组的部分进行优化，有效的实现了低成本，快速度的双能物质识别成像。具有应用于安全检查，无损检测，医疗诊断等领域的潜力。
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公开(公告)号：CN102590234B
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201110391895.2
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法。利用直线轨迹扫描过程中由整层的低能探测器阵列获得的低能投影数据对被检测物体进行CT重建，在CT重建图像中运用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记。同时，利用设置在部分低能探测器后的少数几个高能探测器得到的投影数据实现双能量物质识别成像。由于利用直线轨迹，不需要旋转，因此机械设计简单，检查通关率高；由于仅使用少量几个的双能探测器，系统成本低。
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公开(公告)号：CN102519989A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201110349492.1
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 公开了一种伪双能欠采样物质识别系统及其方法。该系统利用基于CT图像的双能投影欠采样物质识别方法，在第二层探测器中仅利用少量的探测器进行双能数据采样，并将该方法中解方程组的部分进行优化，有效的实现了低成本，快速度的双能物质识别成像。具有应用于安全检查，无损检测，医疗诊断等领域的潜力。
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公开(公告)号：CN102435621A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110391899.0
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 本发明公开了一种双能欠采样物质识别方法和系统。利用CT图像重建方法获得被检测物体的CT图像，同时获得少量的双能欠采样投影，并根据此双能投影数据查表求出光电系数积分和康普顿系数积分。利用图像处理技术对已获得的被检测物体CT图像进行区域分割并将分割后的区域进行标记，再计算已获得的少量双能投影射线穿过各个标记区域的长度。利用双能前处理双效应分解重建方法建立方程组以便计算康普顿系数和光电系数，进而求出各分块区域物质原子序数和电子密度。利用物质原子序数可以识别出被检查物体中的物质类型。
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公开(公告)号：CN101900695B
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN200910085924.5
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/087 , A61B6/032 , A61B6/4035 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/482 , G01N2223/419 , G01N2223/423 , G06T11/005 , G06T11/008 , G06T2211/408
Abstract: 公开了一种伪双能欠采样物质识别系统及其方法。该系统利用基于CT图像的双能投影欠采样物质识别方法，在第二层探测器中仅利用少量的探测器进行双能数据采样，并将该方法中解方程组的部分进行优化，有效的实现了低成本，快速度的双能物质识别成像。具有应用于安全检查，无损检测，医疗诊断等领域的潜力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102435621B
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201110391899.0
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 本发明公开了一种双能欠采样物质识别方法和系统。利用CT图像重建方法获得被检测物体的CT图像，同时获得少量的双能欠采样投影，并根据此双能投影数据查表求出光电系数积分和康普顿系数积分。利用图像处理技术对已获得的被检测物体CT图像进行区域分割并将分割后的区域进行标记，再计算已获得的少量双能投影射线穿过各个标记区域的长度。利用双能前处理双效应分解重建方法建立方程组以便计算康普顿系数和光电系数，进而求出各分块区域物质原子序数和电子密度。利用物质原子序数可以识别出被检查物体中的物质类型。
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公开(公告)号：CN102590234A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201110391895.2
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法。利用直线轨迹扫描过程中由整层的低能探测器阵列获得的低能投影数据对被检测物体进行CT重建，在CT重建图像中运用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记。同时，利用设置在部分低能探测器后的少数几个高能探测器得到的投影数据实现双能量物质识别成像。由于利用直线轨迹，不需要旋转，因此机械设计简单，检查通关率高；由于仅使用少量几个的双能探测器，系统成本低。
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公开(公告)号：CN101900696B
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN200910085925.X
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
CPC classification number: A61B6/4035 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/5205 , G06T11/005 , G06T11/008 , G06T2211/408
Abstract: 公开了一种双能欠采样物质识别方法和系统。利用CT图像重建方法获得被检测物体的CT图像，同时获得少量的双能欠采样投影，并根据此双能投影数据查表求出光电系数积分和康普顿系数积分。利用图像处理技术对已获得的被检测物体CT图像进行区域分割并将分割后的区域进行标记，再计算已获得的少量双能投影射线穿过各个标记区域的长度。利用双能前处理双效应分解重建方法建立方程组以便计算康普顿系数和光电系数，进而求出各分块区域物质原子序数和电子密度。利用物质原子序数可以识别出被检查物体中的物质类型。
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公开(公告)号：CN101900696A
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200910085925.X
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
CPC classification number: A61B6/4035 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/5205 , G06T11/005 , G06T11/008 , G06T2211/408
Abstract: 公开了一种双能欠采样物质识别方法和系统。利用CT图像重建方法获得被检测物体的CT图像，同时获得少量的双能欠采样投影，并根据此双能投影数据查表求出光电系数积分和康普顿系数积分。利用图像处理技术对已获得的被检测物体CT图像进行区域分割并将分割后的区域进行标记，再计算已获得的少量双能投影射线穿过各个标记区域的长度。利用双能前处理双效应分解重建方法建立方程组以便计算康普顿系数和光电系数，进而求出各分块区域物质原子序数和电子密度。利用物质原子序数可以识别出被检查物体中的物质类型。
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公开(公告)号：CN101900695A
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200910085924.5
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/087 , A61B6/032 , A61B6/4035 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/482 , G01N2223/419 , G01N2223/423 , G06T11/005 , G06T11/008 , G06T2211/408
Abstract: 公开了一种伪双能欠采样物质识别系统及其方法。该系统利用基于CT图像的双能投影欠采样物质识别方法，在第二层探测器中仅利用少量的探测器进行双能数据采样，并将该方法中解方程组的部分进行优化，有效的实现了低成本，快速度的双能物质识别成像。具有应用于安全检查，无损检测，医疗诊断等领域的潜力。
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