光调制装置及空间光调制器的控制方法

    公开(公告)号:CN119923589A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202380067110.7

    申请日:2023-07-04

    Inventor: 伊藤晴康

    Abstract: 光调制装置具备光源、控制部及空间光调制器。光源输出具有与设定强度相应的强度的激光。空间光调制器具有多个像素电极、液晶层、驱动部及冷却部。液晶层根据由多个像素电极各自形成的电场的大小而对激光的相位进行调制。驱动部对多个像素电极施加电压。冷却部以液晶层的温度接近设定温度的方式将液晶层冷却。控制部基于激光的设定强度确定冷却部的设定温度。

    脉冲光的波形测量方法及波形测量装置

    公开(公告)号:CN108885138A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201780020106.X

    申请日:2017-03-15

    CPC classification number: G01J3/28 G01J11/00 G02F1/01 G02F1/13

    Abstract: 波形测量方法中,首先,将初始脉冲光(Lp)按每一个波长在空间上分散。其次,在偏振依赖型的SLM中使偏振面相对于调制轴方向倾斜的状态下,将初始脉冲光(Lp)输入至SLM,对沿调制轴方向的初始脉冲光(Lp)的第一偏振分量的相位光谱进行调制,由此,使由第一偏振分量构成的第一脉冲光(Lp1)、与由正交于该第一偏振分量的初始脉冲光(Lp)的第二偏振分量构成的第二脉冲光(Lp2)之间产生时间差。将各波长分量合成之后,向对象物(24)照射脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2),并检测产生于对象物(24)的光。一边变更脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2)的时间差,一边进行上述检测处理,根据检测结果求出脉冲光(Lp1)的时间波形。由此,实现能够减少因对象脉冲光与参照脉冲光的干涉引起的噪声的脉冲光的波形测量方法及波形测量装置。

    自相关测量装置
    25.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107923798A

    公开(公告)日:2018-04-17

    申请号:CN201680048824.3

    申请日:2016-08-24

    CPC classification number: G01J11/00 G02F1/37 G02F2202/20

    Abstract: 自相关测量装置(1A)包括第一反射部件(10A)、第二反射部件(20A)、聚光部(30)、非线性光学结晶(40)、检测部(50)、过滤部(60)、孔隙部(61)、延迟调整部(70A)和分析部(80)。入射脉冲光(L0)透过第二反射部件(20A)而入射至第一反射部件(10A)。在第一反射部件(10A)的第一反射面(11)和第二反射部件(20A)的第二反射面(22)反射的第一脉冲光(L1)以及在第一反射部件(10A)的第二反射面(12)和第二反射部件(20A)的第一反射面(21)反射的第二脉冲光(L2),经由聚光部(30)入射至非线性光学结晶(40)。由非线性光学结晶(40)产生的二次谐波光(LSH)被检测部(50)检测。由此可以实现能够小型化的自相关测量装置。

    激光整形及波阵面控制用光学系统

    公开(公告)号:CN103069328A

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN201180038181.1

    申请日:2011-07-13

    Abstract: 本发明的一个实施方式所涉及的激光整形及波阵面控制用光学系统(1)具备:强度转换透镜(24),其将入射激光的强度分布转换并整形成所期望的强度分布;光调制元件(34),其调制来自于强度转换透镜(24)的射出激光且进行波阵面控制;聚光光学系统(36),其将来自于光调制元件(34)的输出激光聚光;及成像光学系统(30),其配置于光调制元件(34)与聚光光学系统(36)之间,在将来自于强度转换透镜(24)的射出激光的强度分布分布成所期望的强度分布的面(24x)与光调制元件(34)的调制面(34a)之间具有入射侧成像面,且在聚光光学系统(36)的瞳孔面(36a)具有射出侧成像面。

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