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公开(公告)号:CN104075807A
公开(公告)日:2014-10-01
申请号:CN201410361325.2
申请日:2014-07-25
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种高温黑体辐射源石墨黑体腔设计方法,属于热学技术领域。本发明方法在石墨黑体腔端部锥形设计方面,利用辐射换热角系数理论作为分析工具,提出石墨黑体腔端部内壁面与腔内壁面(包括底面)辐射换热一致的假设,进而计算推论出石墨黑体腔端部锥形的相关参数。本发明原理可行,假设合理,实践效果好,适用于高温黑体辐射源石墨黑体腔的设计。
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公开(公告)号:CN117631309A
公开(公告)日:2024-03-01
申请号:CN202311373415.9
申请日:2023-10-23
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种多通道能量采集光学系统,包括前端镜片、整形镜组、消杂光阑、瞄准激光器、第一~第四分波镜片以及第一~第四采集镜组;前端镜片用于收集规定的物方孔径角范围内的能量,能量通过整形镜组成为小口径的会聚光束,消杂光阑沿系统光轴设置在整形镜组后方,用于阻挡通过前端镜片和整形镜组的噪声,瞄准激光器发出的激光沿系统光轴通过第一分波镜片反射进入整形镜组和前端镜片;第一~第四分波镜片沿系统光轴依次设置在消杂光阑后方,会聚光束通过第二分波镜片、第三分波镜片、第四分波镜片形成四个通道的光谱能量,分别由第一~第四采集镜组采集。本发明能够收集更高的能量用于多光谱测温,提高测温下限并且安装方便。
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公开(公告)号:CN117490859A
公开(公告)日:2024-02-02
申请号:CN202311443478.7
申请日:2023-11-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置,所述方法包括:Sakuma方程修正步骤:将环境温度、辐射温度计零点电压、探测器响应度的温漂修正系数引入Sakuma方程,得到修正后的Sakuma方程;标定步骤:以黑体辐射源作为测量目标,使用辐射温度计在黑体辐射源的三个温度下的输出电压,联立上述修正后的Sakuma方程,求解得到三个待定系数;测试步骤:将求解得到的系数代回修正后的Sakuma方程,使用辐射温度计测量目标得到输出电压,计算出目标温度。本发明能够大幅度降低环境温度对测量结果的影响,提高辐射温度测量准确性。
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公开(公告)号:CN115541028A
公开(公告)日:2022-12-30
申请号:CN202211080286.X
申请日:2022-09-05
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/08 , G01J5/0803 , G01J5/90
Abstract: 本发明属于测量装置技术领域,本发明具体公开了一种辐射温度计及光电探测器的动态特性测量装置。本发明动态特性测量装置包括机械快门、光栅盘、电机、测控组件、光电对管、外壳、光源组成,在外壳上设置了被测件安装座和测试孔,辐射温度计或光电探测器安装在被测件安装座上,通过测试孔瞄准光源,对辐射温度计及光电探测器的响应时间、频率特性、动态温度误差进行测量。本发明通过机械快门和光栅盘结合使用,在光栅盘处于不透光的位置打开快门,可准确判断阶跃信号的起始时刻,同时阶跃信号的上升时间控制在毫秒级,能够对毫秒级响应时间的辐射温度计或光电探测器进行测量。
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公开(公告)号:CN115494616A
公开(公告)日:2022-12-20
申请号:CN202211080261.X
申请日:2022-09-05
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G02B13/00
Abstract: 本发明公开的一种四分幅光学系统,属于光学成像领域。本发明沿光轴从物面到像面依次设有:第一透镜L1、第二透镜L2、第三透镜L3、第四透镜组L4、第五透镜L5、第六透镜L6、第七透镜L7、第八透镜L8以及像平面L9;所述第一透镜、第三透镜、第四透镜组、第五透镜、第七透镜以及第八透镜的光焦度为正,第二透镜和第六透镜的光焦度为负;所述第四透镜组L4中的四个透镜l41、l42、l43、l44相同,光学系统中四个单通道的孔径光阑分别位于透镜l41、l42、l43、l44的物面侧。本发明的光学系统仅使用一块探测器,但具有对同一成像目标进行四波段同步成像的功能,本发明还具有畸变小、全视场无渐晕、结构紧凑和研发成本低等优点。
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公开(公告)号:CN106969841A
公开(公告)日:2017-07-21
申请号:CN201710352951.9
申请日:2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/06
CPC classification number: G01J5/06 , G01J2005/065
Abstract: 本发明涉及的是一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置,属于辐射测温技术领域。本发明包括光阑反射镜安装盖、光阑反射镜、光阑反射镜安装支架、光路封装筒、消杂光阑和贯通螺纹。与传统的辐射温度计测温光路安装部件相比,本发明的源尺寸效应抑制装置将光阑反射镜及之后的准直汇聚光路整体封装在密闭空间内,避免辐射温度计中其他元件产生的杂散光进入探测器。与单一的消杂光阑安装部件相比,本发明源尺寸效应抑制装置可以在不同位置安装一个或多个不同直径的消杂光阑,对源尺寸效应的抑制效果更好。
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公开(公告)号:CN102080990A
公开(公告)日:2011-06-01
申请号:CN201010566406.8
申请日:2010-12-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种四波段高温测量方法,这种方法采用的四个测量波段均在800nm~1100nm的近红外波段范围内,且每个测量波段均采用带宽大于50nm的宽波段,使用参考黑体辐射源标定其有效波长,使用参考温度法对温度进行标定。并根据这种测量方法研制了四波段高温测量装置,包括聚焦物镜,传输光纤,三个半反半透镜、四个聚焦透镜、四个滤光片和四个光电探测器和数据处理单元。本发明的技术方案适用于高温表面温度的测量,可以消除或减小材料表面发射率的影响,具有测量准确度高的特点;同时该方案也可有效减小测量距离、环境温度的影响,有很好的环境适应性,在高温测量领域有很好的应用前景。
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公开(公告)号:CN117490859B
公开(公告)日:2024-09-13
申请号:CN202311443478.7
申请日:2023-11-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置,所述方法包括:Sakuma方程修正步骤:将环境温度、辐射温度计零点电压、探测器响应度的温漂修正系数引入Sakuma方程,得到修正后的Sakuma方程;标定步骤:以黑体辐射源作为测量目标,使用辐射温度计在黑体辐射源的三个温度下的输出电压,联立上述修正后的Sakuma方程,求解得到三个待定系数;测试步骤:将求解得到的系数代回修正后的Sakuma方程,使用辐射温度计测量目标得到输出电压,计算出目标温度。本发明能够大幅度降低环境温度对测量结果的影响,提高辐射温度测量准确性。
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公开(公告)号:CN115390599B
公开(公告)日:2024-08-16
申请号:CN202210989168.4
申请日:2022-08-17
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G05D23/24
Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多点控温系统,属于温度控制技术领域。本发明通过分析标准光电高温计内部容易受温度影响的元件位置,将多个温控模块布置在内壳相应元件的位置上,实现对标准光电高温计的多点控温,保障标准光电高温计内部关键元件在稳定的温度环境下工作,实现标准光电高温计的高精度测温。此外,采用的温控模块根据热敏电阻随温度变化阻值随之变化的特点,热敏电阻同分压电阻组成分压电路,由预设电压可调电路设置参考电压,通过比较热敏电阻分压和参考电压大小,由比较控制电路判断后控制加热开关通断,实现对标准光电高温计加热温度的高精度控制。本发明能够基于纯模拟电路实现,能耗低、易于实现。
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公开(公告)号:CN115390599A
公开(公告)日:2022-11-25
申请号:CN202210989168.4
申请日:2022-08-17
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G05D23/24
Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多点控温系统,属于温度控制技术领域。本发明通过分析标准光电高温计内部容易受温度影响的元件位置,将多个温控模块布置在内壳相应元件的位置上,实现对标准光电高温计的多点控温,保障标准光电高温计内部关键元件在稳定的温度环境下工作,实现标准光电高温计的高精度测温。此外,采用的温控模块根据热敏电阻随温度变化阻值随之变化的特点,热敏电阻同分压电阻组成分压电路,由预设电压可调电路设置参考电压,通过比较热敏电阻分压和参考电压大小,由比较控制电路判断后控制加热开关通断,实现对标准光电高温计加热温度的高精度控制。本发明能够基于纯模拟电路实现,能耗低、易于实现。
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