公开(公告)号：CN102080990B

公开(公告)日：2012-05-09

申请号：CN201010566406.8

申请日：2010-12-01

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 杨永军 ,  蔡静 ,  张学聪 ,  王中宇

IPC: G01J5/10 ,  G01J5/52

Abstract: 本发明公开了一种四波段高温测量方法，这种方法采用的四个测量波段均在800nm～1100nm的近红外波段范围内，且每个测量波段均采用带宽大于50nm的宽波段，使用参考黑体辐射源标定其有效波长，使用参考温度法对温度进行标定。并根据这种测量方法研制了四波段高温测量装置，包括聚焦物镜，传输光纤，三个半反半透镜、四个聚焦透镜、四个滤光片和四个光电探测器和数据处理单元。本发明的技术方案适用于高温表面温度的测量，可以消除或减小材料表面发射率的影响，具有测量准确度高的特点；同时该方案也可有效减小测量距离、环境温度的影响，有很好的环境适应性，在高温测量领域有很好的应用前景。

公开(公告)号：CN103823120A

公开(公告)日：2014-05-28

申请号：CN201410086501.6

申请日：2014-03-10

Applicant: 北京航空航天大学 ,  中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 孙璟宇 ,  王中宇 ,  梁志国

IPC: G01R29/00

Abstract: 一种任意波形失真度的确定方法，实现步骤如下：（1）采样获取已知模型的任意波形；（2）采用相同的采样速率采样已知模型，并使用非线性最小二乘拟合算法搜寻“对准”实际获得的采样波形，获得“对准”的模型采样序列；（3）根据搜寻得到“对准”的模型采样序列获得被测采样序列的最优期望曲线；（4）根据获得的被测任意波形采样序列及其最优期望曲线计算得到被测任意波形的失真度。本发明具有运算量小、对测试过程要求低，即不要求精确的整周期采样等，易于实现，能够大幅提高测量的准确度。

公开(公告)号：CN102080990A

公开(公告)日：2011-06-01

申请号：CN201010566406.8

申请日：2010-12-01

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 杨永军 ,  蔡静 ,  张学聪 ,  王中宇

IPC: G01J5/10 ,  G01J5/52

Abstract: 本发明公开了一种四波段高温测量方法，这种方法采用的四个测量波段均在800nm～1100nm的近红外波段范围内，且每个测量波段均采用带宽大于50nm的宽波段，使用参考黑体辐射源标定其有效波长，使用参考温度法对温度进行标定。并根据这种测量方法研制了四波段高温测量装置，包括聚焦物镜，传输光纤，三个半反半透镜、四个聚焦透镜、四个滤光片和四个光电探测器和数据处理单元。本发明的技术方案适用于高温表面温度的测量，可以消除或减小材料表面发射率的影响，具有测量准确度高的特点；同时该方案也可有效减小测量距离、环境温度的影响，有很好的环境适应性，在高温测量领域有很好的应用前景。