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公开(公告)号：CN119573876A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411821449.4
申请日：2024-12-11
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J1/42
Abstract: 基于相位板定位的激光打靶局部辐照通量映射方法及装置，属于激光打靶实验领域，本发明为解决现有光学元件损伤测试分析中通量数据仅以平均通量作为结果，无法实现靶面光束通量与损伤点对应的问题。本发明包括用于获取仿射变换矩阵的标定步骤和进行激光打靶实验以获取靶材局部辐照通量步骤，在打靶实验光路的透镜与靶材之间插入相位板，在靶材后表面形成阵列损伤点，并构建仿射变换矩阵，撤掉相位板，利用原实验光路进行激光打靶实验；根据仿射变换矩阵将打靶激光光束近场图像映射到靶材损伤图像上，打靶激光光束近场图像和靶材损伤图像相叠加获得靶材损伤点对应相位标记点的位置；进而获取靶材上各损伤点所在位置的激光打靶局部辐照通量。
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公开(公告)号：CN105842248B
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN201610169105.9
申请日：2016-03-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面损伤阈值测试系统及其测试方法，涉及光学检测领域，包括按光路依次放置的激光器、液晶光阀、光束分束器、透镜一、测试样品、吸收陷阱、直视CCD、反射镜、能量卡计、透镜二和监视CCD，本发明的损伤阈值测试方法为通过建立液晶光阀与光斑近场的映射关系获得传递函数，将光斑中损伤点的坐标带入传递函数确定液晶光阀遮挡区域，当遮挡区域覆盖损伤点后计算局部通量，提高损伤阈值的计算精度。
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公开(公告)号：CN117329982A
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202311255805.6
申请日：2023-09-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明利用激光散斑干涉技术与激光剪切散斑干涉技术的特点，通过光路复用实现形变与应变的同步测量，系统结构简单、操作方便，实现了同一目标区域的形变与应变同步原位测量；将Sym4小波函数作为基函数，结合正余弦变换，用于包裹相位图的噪声滤波，不需要进行迭代计算、设定掩膜形状及尺寸等，保留相位跃变信息的同时提高了滤波效率。在小波分解中，根据实际测量结果计算得到散斑抑制指数，从而确定了Sym4小波函数的最佳小波分解层数；根据散斑图中的噪声水平与小波分解层数确定噪声阈值，计算获得滤波处理后的小波系数，有助于提高噪声滤波效果，扩大该滤波方法的适用范围。
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公开(公告)号：CN109540926A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201910085710.1
申请日：2019-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种(D)KDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法，涉及(D)KDP晶体体损伤测量技术领域，本发明先通过层析的方法获得高功率纳秒激光脉冲作用后晶体体损伤点基础数据，解决损伤点重复统计、背景光消除、二值化等问题并采用图像矩算法求出每个散射点的质心后，再通过重构算法获得体损伤点三维分布，进而可以高精度获得晶体体损伤密度ppd、体损伤点几何尺寸分布pps和晶体体损伤点三维分布等3个体损伤表征参数，本发明具有测量精度高、晶体体损伤表征更加全面的优点。
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公开(公告)号：CN108802056A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810964806.0
申请日：2018-08-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
CPC classification number: G01N21/88 , G01N21/01 , G01N21/8851 , G01N2021/0112 , G01N2021/8887
Abstract: 一种光学元件位相型缺陷测量装置及检测方法。该装置包括：光源，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可测量光学元件位相型缺陷。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105676098A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610022274.X
申请日：2016-01-13
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2641 , G01R31/2601
Abstract: 本发明公开了一种CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法，属于光学成像及数字图像处理分析技术领域中的响应非均匀性和线性性的检测装置、检测方法。其检测装置包括测试光源、衰减片、取样镜、光契对、长焦汇聚透镜、待测CCD、二维平移台、能量计、计算机、控制器和暗箱，测试光源产生的入射激光依次经衰减片、取样镜后产生反射激光和透射激光，反射激光直接入射至能量计，透射激光依次经光契对、长焦汇聚透镜后入射至待测CCD，待测CCD安装于二维平移台上，二维平移台与控制器电连接，待测CCD、能量计和控制器均与计算机电连接。本发明适用于CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法。
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公开(公告)号：CN105066910A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510515313.5
申请日：2015-08-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 李东 , 刘勇 , 刘旭 , 姜宏振 , 张霖 , 郑芳兰 , 任寰 , 杨一 , 李文洪 , 石振东 , 于德强 , 巴荣声 , 马骅 , 原泉 , 周信达 , 郑垠波 , 杨晓瑜 , 柴立群 , 陈波
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法，包括：按光路依次放置的激光器（101）、显微物镜（102）、针孔（103）、可调光阑（104）、准直透镜（105）、起偏器（106）、反射镜（107）、分束立方体（108）、光屏（109）、透镜一（110）、待测晶体（111）、透镜二（112）、检偏器（113）、成像透镜（114）、探测器（115）和计算机处理系统（116）；其中，起偏器（106）和检偏器（113）偏振方向垂直，透镜一（110）和透镜二（112）严格共轭，分束立方体（108）、反射镜（107）、待测晶体（111）和光屏（109）组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位，采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算，完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。
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公开(公告)号：CN119274695A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411309096.X
申请日：2024-09-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种基于深度学习的熔石英元件损伤增长特性预测方法，包括步骤：使用预先制备好的损伤点阵列，利用显微成像系统拍摄损伤点阵列每一个损伤点面积计算损伤点等效直径，将激光光斑覆盖损伤点阵列，记录激光辐照参数能量、脉宽、损伤点局部通量。然后再利用显微成像系统拍摄激光辐照后的损伤阵列，计算每一个损伤点的等效直径。最后整理数据将数据带入深度学习决策树算法，训练熔石英损伤增长模型，根据模型损伤函数确定最佳模型。本发明通过决策树算法从熔石英损伤增长数据中学习总结损伤增长规则，用于分析、预测损伤增长特性，所需的训练样本少，可以批量分析、预测损伤点的损伤增长特性。
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公开(公告)号：CN118425159A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410477702.2
申请日：2024-04-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种多方向缺陷同步无损检测系统，包括：傍轴照明模块，至少包括二个出射激光波长不同的激光器以及对应的二个扩束镜，从而将出射激光扩束为发散光，均匀照射在样品上形成漫反射；剪切散斑干涉探测模块，至少包括成像器件、由第一透镜和第二透镜组成4f系统、两个透射波长于反射波长不同的第一二向色镜和第二二向色镜、多通道探测器，以及安装在相移器件上的反射镜，通过改变光程实现相移；通过调节所述二向色镜的方向，获得不同方向的剪切散斑干涉图；控制采集处理模块，用于控制所述激光器、多通道探测器和相移器件，从而获得所述样品的缺陷及其位置、方向信息。
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公开(公告)号：CN110174245B
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN201910534941.6
申请日：2019-06-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤阈值自动化测试装置和测试方法。该装置主要包括：激光器、多波长光路切换模块、电动光闸、能量调节模块、激光参数采集模块、样品控制模块、损伤诊断模块、计算机等。该装置用于测量光学元件激光诱导零概率损伤阈值，本发明可实现脉冲激光波长1064纳米、532纳米、355纳米测试光路的自动切换、测试流程的自动控制、激光参数的自动采集、损伤自动诊断等功能，保证测试条件的稳定性，大幅度提高了测试效率。
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