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公开(公告)号：CN118153519B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410576189.2
申请日：2024-05-10
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种基于自适应LDG方法的集成电路互连线寄生电容提取方法，该方法主要分为两个部分。第一部分是在计算区域中进行渐变的初始网格剖分，靠近导体的区域采用密网格，远离导体的区域采用粗网格，降低初始网格规模。第二部分是在网格自适应算法框架下循环求解电势函数满足的拉普拉斯方程并计算出寄生电容，直到电容值满足给定要求。每次循环中，通过判断电容值是否满足要求，决定结束计算还是继续加密网格。当电容值不满足要求时，根据后验误差估计对网格进行精准加密，生成新的自适应网格，进入下一次循环。本发明基于后验误差估计生成自适应网格，提高集成电路互连线寄生电容提取的精度，降低计算存储和时间。
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公开(公告)号：CN117872103B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410269404.4
申请日：2024-03-11
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01R31/3185 , G11C29/56 , G11C29/54
Abstract: 本发明公开了一种通用测试芯粒，用于对若干个待测芯粒进行测试，测试芯粒包括芯粒测试控制电路模块、测试数据分发电路模块、存储器测试配置电路模块和芯粒测试接口电路模块；芯粒测试控制电路模块用于为待测芯粒提供测试数据、配置测试模式；测试数据分发电路模块用于从测试数据总线分发每个所述待测芯粒所需的测试数据；存储器测试配置电路模块用于为待测芯粒的存储器提供测试电路，自动生成测试矢量；芯粒测试接口电路模块用于通过芯粒测试接口为待测芯粒在上下左右任意方向传输测试数据；本发明将芯粒系统所需的共享的测试资源嵌入其中，满足芯粒系统测试即插即用的策略，为芯粒系统提供了全面、灵活、高效的测试方案。
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公开(公告)号：CN117634263A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311832424.X
申请日：2023-12-28
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G06F30/23 , G16C60/00 , G06F111/06 , G06F119/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明提出一种多目标芯片塑封工艺参数优化方法，该方法包括(1)建立转注成型工艺的芯片有限元模型，确定最佳材料种类和进浇口方案；(2)选取试验所需工艺参数和所需优化质量指标，筛选综合影响质量指标的重要工艺参数；(3)利用响应面法、最优拉丁超立方抽样分别设计试验；(4)拟合设计变量与响应变量，基于不同相关函数分别构建代理模型，并检验模型精度是否满足要求；(5)采用多目标优化算法进行寻优，将最佳工艺参数进行反馈。
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公开(公告)号：CN116663465B
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202310739359.X
申请日：2023-06-21
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G06F30/3315 , G06F30/3308 , G06N3/04 , G06N3/084
Abstract: 本发明涉及集成电路技术，公开基于深度学习的考虑MIS效应的单元统计延时模型构建方法，属于计算、推算或计数的技术领域。该方法：在考虑SIS和MIS的情况下，对门单元进行SPICE MC仿真，获取不同条件下的MIS延迟和SIS延迟的均值和标准差；使用深度学习方法构建预测MIS延时均值与SIS延时均值的差值以及和MIS延时标准差与SIS延时标准差的差值的ANN模型，并揭示MIS延时和SIS延时的均值和标准差的差异的表示；将基于深度学习的模型集成到现有的时序库中。本发明通过利用深度学习预测MIS延时均值和SIS延时均值差异以及MIS延时标准差和SIS延时标准差的差异，实现考虑MIS效应的统计时序建模。
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公开(公告)号：CN115826667A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211650037.X
申请日：2022-12-21
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G05F1/567
Abstract: 本发明公开了一种低压高阶补偿带隙基准电压源，属于模拟集成电路技术领域。所述低压高阶补偿带隙基准电压源包括一阶多级可调温度补偿电路、高阶温度补偿电路、降压电路、电流电压转换电路。所述一阶多级可调温度补偿电路用于产生温漂系数较大的电流；所述高阶温度补偿电路用于补偿一阶多级可调温度补偿电路产生温漂系数较大的电流；所述降压电路用于抽取一阶多级可调温度补偿电路中流过BJT的电流；所述电压转换电路用于将一阶补偿电路和高阶温度补偿电路转换成所需的电压。本发明针对温漂特性曲线以及BJT的电压特性引入高阶温度补偿电路和降压电路，即能够实现低电源电压下低温漂的特性，也能够保证整体电路的稳定性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113008410B
公开(公告)日：2023-02-28
申请号：CN202110223932.2
申请日：2021-03-01
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01K13/00
Abstract: 本发明公开了用于集成电路的温度传感器，包括用于转换温度信息的电流源、用于接收电流并输出脉冲信号的电流频率转换器以及用于接收脉冲信号并转化为数字编码的计数器，脉冲信号的频率与电流大小成正比，电流源和电流频率转换器外接输入参考电压VREF，电流源的输出端与电流频率转换器的输入端信号连接，电流频率转换器的输出端与计数器的输入端信号连接，计数器输出温度编码。本发明通过电流频率转换器将电流转化成频率与电流成正比的脉冲信号，通过计数器将脉冲信号转化为数字编码，得到与绝对温度成线性关系的数字输出，提高了PTAT的线性度，进而提高了该传感器的精度，具有电路结构简单可靠，操作便捷等诸多优点。
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公开(公告)号：CN115529023A
公开(公告)日：2022-12-27
申请号：CN202211471940.X
申请日：2022-11-23
Applicant: 南京邮电大学
IPC: H03H11/12
Abstract: 本发明公开了一种带直流失调消除的滤波器电路，包括第一、第二滤波器和第一、第二直流失调分量提取电路；所述第一、第二滤波器级联，且该两个滤波器均为二阶滤波器，该两个滤波器结构相同，均包括带直流失调消除的跨导放大器，跨导放大器，第一~四电容和第一~八电阻；所述直流失调分量提取电路用于提取滤波器输出信号中的直流失调分量，并将该直流失调分量放大后传输至滤波器中的带直流失调消除的跨导放大器，滤波器中的带直流失调消除的跨导放大器将失调电压转换成失调电流。本发明可应用于低功耗射频收发系统中，实现更低的电路功耗。
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公开(公告)号：CN115469214A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202211342979.1
申请日：2022-10-31
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于电路低功耗测试领域，公开了一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路，包括若干个扫描链电路和若干个门控时钟模块，每个所述扫描链电路包括若干个扫描寄存器，每个扫描链电路中的下一级扫描寄存器的扫描输入端SI连接上一级寄存器的扫描输出端SO；每个扫描链均匀划分为若干段，同一段中的每个扫描寄存器时钟端均连接同一个门控时钟模块，通过该门控时钟模块来控制其连接的扫描寄存器的开启或关闭，实现降低电路整体信号翻转数量，从而降低测试功耗；同时，设计了一种控制链，用来给门控时钟模块的门控信号赋值，从而大大降低了需要增加的测试端口数量。
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公开(公告)号：CN110460329B
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN201910583490.5
申请日：2019-07-01
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明提供一种面向故障锁相环测试电路，包括FOT测试控制电路和FOT故障检测电路。其中，FOT测试控制电路由脉冲宽度检测电路、锁定状态判断电路以及分频数变化检测电路组成，FOT故障检测电路主要由故障信息捕获电路、CRC校验码生成电路和CRC校验码比较电路组成。FOT测试控制电路用于锁相环锁定状态的判断，并控制FOT故障检测电路捕获故障信息，实现锁相环在线BIST测试。本电路采用具有强检错能力的CRC编码技术进行故障检测，可以实现指定故障模型的较高故障覆盖率，有效降低测试成本，并且不会对锁相环的性能造成影响。
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公开(公告)号：CN112865789B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202110215720.X
申请日：2021-02-26
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种超低功耗数字温度传感器，包括环形振荡器、采样元件、占空比控制器和计数器；所述环形振荡器的输出端连接计数器的时钟输入端；所述采样元件的输出端连接占空比控制器的输入端；所述占空比控制器的一个输出端连接计数器的复位输入端，占空比控制器的另一个输出端连接采样元件的复位输入端。本发明利用栅极泄漏电流驱动感温元件和采样元件，实现超低功耗工作。在保证低于nW的功耗下，同时降低了每次转换的能耗，优化了分辨率FoM，解决了低功耗和低能耗之间的矛盾关系。
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