基于自适应LDG方法的集成电路互连线寄生电容提取方法

    公开(公告)号:CN118153519B

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202410576189.2

    申请日:2024-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于自适应LDG方法的集成电路互连线寄生电容提取方法,该方法主要分为两个部分。第一部分是在计算区域中进行渐变的初始网格剖分,靠近导体的区域采用密网格,远离导体的区域采用粗网格,降低初始网格规模。第二部分是在网格自适应算法框架下循环求解电势函数满足的拉普拉斯方程并计算出寄生电容,直到电容值满足给定要求。每次循环中,通过判断电容值是否满足要求,决定结束计算还是继续加密网格。当电容值不满足要求时,根据后验误差估计对网格进行精准加密,生成新的自适应网格,进入下一次循环。本发明基于后验误差估计生成自适应网格,提高集成电路互连线寄生电容提取的精度,降低计算存储和时间。

    基于自适应LDG方法的集成电路互连线寄生电容提取方法

    公开(公告)号:CN118153519A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410576189.2

    申请日:2024-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于自适应LDG方法的集成电路互连线寄生电容提取方法,该方法主要分为两个部分。第一部分是在计算区域中进行渐变的初始网格剖分,靠近导体的区域采用密网格,远离导体的区域采用粗网格,降低初始网格规模。第二部分是在网格自适应算法框架下循环求解电势函数满足的拉普拉斯方程并计算出寄生电容,直到电容值满足给定要求。每次循环中,通过判断电容值是否满足要求,决定结束计算还是继续加密网格。当电容值不满足要求时,根据后验误差估计对网格进行精准加密,生成新的自适应网格,进入下一次循环。本发明基于后验误差估计生成自适应网格,提高集成电路互连线寄生电容提取的精度,降低计算存储和时间。

Patent Agency Ranking