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公开(公告)号：CN116861782A
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202310818532.5
申请日：2023-07-05
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开基于机器学习和节点有效电容的线延时预测方法，属于计算、推算或计数的技术领域。该方法：读入SPEF寄生文件、网表文件、时序库文件；采用SPICE仿真测量sink端节点线延时，建立线延时标准样本集；处理SPEF寄生文件与网表文件，计算sink端节点线延时和转换时间、所有节点有效电容；处理得到机器学习模型训练所需特征，使用交叉验证法训练模型，计算接收端节点线延时平均值以及转换时间平均值作为模型性能的评估指标，比较接收端节点线延时计算值与SPICE仿真测量的线延时之间的误差，最终确定特征参数统一值。本发明能够快速且准确地预测单元延时，采用机器学习优化预测结果进一步提高预测速度和精度。
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公开(公告)号：CN116562207A
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202310359471.0
申请日：2023-03-31
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G06F30/337 , G06F30/32 , G06F30/27
Abstract: 本发明公开了一种基于图神经网络特征提取的智能化可测性设计方法，如下步骤：S1，读入待设计的网表文件，插入扫描链，收集运行结果；S2，利用计算机编程语言对插入扫描链的电路网表文件进行处理，读入处理后的电路网表文件，将电路转换为所需的图结构，构建基于图神经网络的图表示；S3，将生成的图表示加载到XGBoost模型中学习训练和预测；根据需求，得到测试覆盖率、测试周期、逻辑翻转和面积占比的单目标预测结果；对四个单目标预测结果误差值做归一化处理后，进行加权求和，预测最优的扫描测试参数配置。本发明能实现在高测试覆盖率的同时，又能维持测试周期、功率消耗、面积占比的平衡。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115469214A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202211342979.1
申请日：2022-10-31
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于电路低功耗测试领域，公开了一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路，包括若干个扫描链电路和若干个门控时钟模块，每个所述扫描链电路包括若干个扫描寄存器，每个扫描链电路中的下一级扫描寄存器的扫描输入端SI连接上一级寄存器的扫描输出端SO；每个扫描链均匀划分为若干段，同一段中的每个扫描寄存器时钟端均连接同一个门控时钟模块，通过该门控时钟模块来控制其连接的扫描寄存器的开启或关闭，实现降低电路整体信号翻转数量，从而降低测试功耗；同时，设计了一种控制链，用来给门控时钟模块的门控信号赋值，从而大大降低了需要增加的测试端口数量。
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公开(公告)号：CN116861782B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202310818532.5
申请日：2023-07-05
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开基于机器学习和节点有效电容的线延时预测方法，属于计算、推算或计数的技术领域。该方法：读入SPEF寄生文件、网表文件、时序库文件；采用SPICE仿真测量sink端节点线延时，建立线延时标准样本集；处理SPEF寄生文件与网表文件，计算sink端节点线延时和转换时间、所有节点有效电容；处理得到机器学习模型训练所需特征，使用交叉验证法训练模型，计算接收端节点线延时平均值以及转换时间平均值作为模型性能的评估指标，比较接收端节点线延时计算值与SPICE仿真测量的线延时之间的误差，最终确定特征参数统一值。本发明能够快速且准确地预测单元延时，采用机器学习优化预测结果进一步提高预测速度和精度。
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公开(公告)号：CN113128147B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202110440277.6
申请日：2021-04-23
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G06F30/333 , G06F30/337 , G06F30/27 , G06F111/06 , G06F119/06
Abstract: 本发明公开了一种基于机器学习的高效率集成电路可测性设计方法，包括，对不同参数进行配置，利用工具插入扫描链、自动测试向量生成及功耗分析，收集运行结果；将所述收集结果读入基于机器学习的预测模型中设置参数，得到预测值；合并所有的所述预测值和所述收集运行结果存储为csv文件，启动预测最优配置模型，得到设计需求的最优配置。本发明方法达到保证高测试覆盖率的同时运行时间少、低功耗、低面积开销的目的。
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公开(公告)号：CN115469214B
公开(公告)日：2023-02-14
申请号：CN202211342979.1
申请日：2022-10-31
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于电路低功耗测试领域，公开了一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路，包括若干个扫描链电路和若干个门控时钟模块，每个所述扫描链电路包括若干个扫描寄存器，每个扫描链电路中的下一级扫描寄存器的扫描输入端SI连接上一级寄存器的扫描输出端SO；每个扫描链均匀划分为若干段，同一段中的每个扫描寄存器时钟端均连接同一个门控时钟模块，通过该门控时钟模块来控制其连接的扫描寄存器的开启或关闭，实现降低电路整体信号翻转数量，从而降低测试功耗；同时，设计了一种控制链，用来给门控时钟模块的门控信号赋值，从而大大降低了需要增加的测试端口数量。
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公开(公告)号：CN113128147A
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN202110440277.6
申请日：2021-04-23
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G06F30/333 , G06F30/337 , G06F30/27 , G06F111/06 , G06F119/06
Abstract: 本发明公开了一种基于机器学习的高效率集成电路可测性设计方法，包括，对不同参数进行配置，利用工具插入扫描链、自动测试向量生成及功耗分析，收集运行结果；将所述收集结果读入基于机器学习的预测模型中设置参数，得到预测值；合并所有的所述预测值和所述收集运行结果存储为csv文件，启动预测最优配置模型，得到设计需求的最优配置。本发明方法达到保证高测试覆盖率的同时运行时间少、低功耗、低面积开销的目的。
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