公开(公告)号：CN106911408A

公开(公告)日：2017-06-30

申请号：CN201510967230.X

申请日：2015-12-22

Applicant: 中国人民解放军63908部队 ,  上海精密计量测试研究所

Inventor： 华翔 ,  陈斌 ,  雷正伟 ,  谢恒贵 ,  张军 ,  刘福 ,  徐海燕 ,  陈光尧

IPC: H04B17/364

Abstract: 一种定标转发机群时延的校准方法，第一步：定标系统的初始延时。利用任意波形发生器产生两路同频率同相位的脉冲信号，其中一路脉冲信号作为调制信号对微波信号发生器进行脉冲调制，产生脉冲调制信号，通过微波检波器检波后输出视频脉冲信号，然后输入到数字示波器；另一路脉冲信号作为触发信号，也输入到数字示波器；用数字示波器测量视频脉冲信号延时脉冲信号的延时时间，此延时时间即为定标系统的初始延时时间 。第二步：定标经转发机后的系统延时。第三步：将定标经转发机后的系统延时减去定标系统的初始延时，即为转发机本身引入的延时时间，采用上述方法，在信号转发机工作频率带宽内，进行不同载频频率时的转发机延时时间校准。

公开(公告)号：CN106847343A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201611122146.9

申请日：2016-12-08

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海航天信息研究所

Inventor： 王立恒 ,  徐导进 ,  刘大鹏 ,  王华铭

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56 ,  G11C2029/5606

Abstract: 本发明提供一种基于自动测试设备的MARM存储器的测试方法，所述测试方法包括：步骤S1，将自动测试设备与MARM 存储器电连接；步骤S2，对MRAM存储器进行全芯片存储单元读写功能验证；步骤S3，根据MARM存储器工作参数设定要求，对MARM存储器进行直流参数验证和交流参数验证。本发明提供的方法利用自动测试设备针对MARM存储器进行测试，能够发现MARM存储器的故障，所述测试方法能够检测MARM存在的各种可能的失效模式，包括：全芯片存储单元读写功能验证；直流参数验证和交流参数验证。

公开(公告)号：CN106597019A

公开(公告)日：2017-04-26

申请号：CN201610974654.3

申请日：2016-11-07

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海航天探维传媒科技有限公司

Inventor： 倪博 ,  陈继刚 ,  余华昌 ,  罗晓平 ,  薛嘉铭 ,  戴利剑 ,  沙江

IPC: G01P21/00

CPC classification number: G01P21/00

Abstract: 本发明的空间对接机构综合试验系统在线校准装置直线速度校准方法，利用基于伺服电机和低频振动台组成的直线运动发生器作为进行直线运动速度参数的发生源，利用激光多普勒干涉仪作为直线运动速度校准比对测量工具，配合相应的工装夹具，将在线校准装置中的激光干涉仪反射球靶标底座与激光多普勒干涉仪的反射镜座安装在同一个进行直线运动的测量参考面上，通过同时监测两台设备的直线运动速度参数值，并对其数值进行比对，完成对空间对接机构综合试验系统在线校准装置直线速度的校准工作。

公开(公告)号：CN106526454A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201611042197.0

申请日：2016-11-24

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海航天信息研究所

Inventor： 刘大鹏 ,  徐导进 ,  王华铭

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2834 ,  G01R31/2868

Abstract: 本发明提供一种基于ATE的FPGA配置芯片的测试方法，其特征在于，包括：设定器件工作电源、输入电平、输出电平、参考电平、负载电流的值，设定器件的上电次序，设定器件的地址信号、控制信号和数据信号的数据格式、时序、通道和控制寄存器的分配，分别进行全芯片的擦除与验证、单个扇区的擦除与验证、写状态寄存器验证、读芯片ID验证、全芯片存储单元的读写功能验证、写保护验证、直流参数验证以及交流参数验证。本发明提出的基于ATE的FPGA配置芯片的测试方法，基于T5385ES超大规模集成电路存储器测试系统，针对EPCS16SI8N编写专用的测试图形，完成对EPCS16SI8N的测试，检测其可能存在的失效模式。

公开(公告)号：CN105721073A

公开(公告)日：2016-06-29

申请号：CN201610120514.X

申请日：2016-03-03

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 谢恒贵 ,  范风军 ,  陈斌

IPC: H04B17/21

CPC classification number: H04B17/21

Abstract: 本发明提供了一种目标照射器测试设备杂散干扰校准方法，本发明充分利用软件无线电技术，将虚拟仪器技术和通用仪表集成校准系统，并采用功能模块化的设计模式，每一个功能模块单独调试，提高了系统软件上的稳定性和可靠性，软件升级的灵活性大大的高于硬件。在现有的硬件条件下，只要修改软件就能够实现系统的升级、功能的扩展，顺应多种调制制式的测量，具备工作稳定、性能可靠、操作便携等特点，能够保障XXXX?1、XXXX?2武器系统地面设备整体性能，保证部队的作战能力和快速反应能力，解决目标照射器专用测试设备相噪与非线性（杂散）的现场校准需求，满足型号研制、生产和维护的需求。

公开(公告)号：CN105717521A

公开(公告)日：2016-06-29

申请号：CN201410724703.9

申请日：2014-12-04

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 邓倩岚 ,  辛康

IPC: G01S19/29

Abstract: 本发明的高动态伪卫星信号的快速捕获方法包括以下步骤：1）使用平方环法对伪卫星信号进行载波频率捕获；2）利用捕获到的载波频率对伪卫星信号进行BPSK解调，得到BPSK解调信号；所述BPSK解调具体为：将步骤1）捕获的载波频率与伪卫星信号相乘，得到BPSK解调信号；3）使用FFT捕获算法对BPSK解调信号进行伪码捕获。本发明的高动态伪卫星信号的快速捕获方法，采用快速FFT算法和平方环法相结合，大大缩短了解调伪卫星信号所需时间。

公开(公告)号：CN105510722A

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201510906031.8

申请日：2015-12-09

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 邓倩岚 ,  辛康 ,  张贺

IPC: G01R27/26

CPC classification number: G01R27/2694

Abstract: 本发明提供一种平板吸波材料插损测量装置，包括：微波信号源；驻波筒，所述驻波筒内铺设吸波材料；发射天线，与所述微波信号源连接；频谱仪；接收天线，与所述频谱仪连接；被测平板吸波材料单元，固定在所述驻波筒的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元位于所述驻波筒与所述接收天线之间。本发明还提供平板吸波材料插损测量方法。本发明提供的平板吸波材料插损测量装置，结构简单，测量原理简浅，扩展了对平板吸波材料进行测量的试验条件。本发明提供的平板吸波材料插损测量方法，能够在不具备微波暗室测试条件下实现对吸波材料插损参数的准确测量，突破了试验条件的限制。

公开(公告)号：CN104717029A

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201310666581.8

申请日：2013-12-11

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 邓倩岚 ,  辛康 ,  任黎丽

IPC: H04B17/40 ,  H04B17/21

Abstract: 一种卫星射频测试系统变频链路误码率校准装置，包括任意波形发生器、射频信号源、被校卫星射频测试系统、频谱仪、示波器及计算机；所述计算机包括一个解调软件；所述任意波形发生器和示波器各有两个通道。本发明采用比对法对误码率校准，即使用频谱仪、示波器及计算机在组成误码率校准装置，将其测试得到的误码率结果与被校指令接收机进行比对完成对误码率校准。本发明解决了现有技术中对低码速、BPSK调制状态下卫星射频测试系统变频链路误码率的无法测量的问题，同时提高了测量的准确性。

公开(公告)号：CN114894838B

公开(公告)日：2025-02-18

申请号：CN202210477014.7

申请日：2022-05-02

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 陈凡 ,  刘大鹏 ,  赵容 ,  李娟 ,  陈龙 ,  刘建设

IPC: G01N25/20 ,  G01N15/08

Abstract: 本发明的定量评估NMOS晶体管焊料层孔隙安全分布区域的方法包括：制备一系列焊料层孔隙率相同、孔隙分布位置不同的标定样品；通过超声波扫描显微镜验证各标定样品焊料层孔隙分布情况；采用瞬态热阻法获得孔隙位置与热阻参数的关系；根据孔隙位置与热阻参数的关系，确定焊料层孔隙的安全分布范围。本发明根据焊料孔隙‑芯片焊盘中心点间距，定量确定焊料层孔隙的安全分布区域，剔除含有显著影响散热性能孔隙的器件，保留含有不显著影响散热性能孔隙的器件，减少NMOS晶体管不必要的批退、返厂和报废，提升NMOS晶体管的利用率，解决了传统方法无法定量评估焊料孔隙位置对NMOS晶体管散热性能影响程度的不足。

公开(公告)号：CN109573099B

公开(公告)日：2024-12-31

申请号：CN201811539164.6

申请日：2018-12-17

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海航天信息研究所

Inventor： 翁俊 ,  祝卿 ,  陆伟铭 ,  田芳怡 ,  陈继刚 ,  倪博 ,  朱东欢 ,  薛嘉铭 ,  罗晓平

IPC: B64F5/60

Abstract: 本发明的飞行控制模拟器拉压载荷试验系统现场校准装置包括结构框架、加载机构、标准测量单元、上位机和微调机构；所述加载机构、标准测量单元和被校力传感器依次连接后安装在所述结构框架上；所述微调机构支撑所述加载机构，通过微调所述加载机构的位置使所述加载机构、标准测量单元和被校力传感器处于同一直线上；所述标准测量单元与所述上位机无线连接；被校力传感器与飞行控制模拟器连接。