一种亚皮米量级近红外至中波红外波长校准系统及方法

    公开(公告)号:CN116183035A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202211691978.8

    申请日:2022-12-28

    Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域,公开了一种亚皮米量级近红外至中波红外波长校准系统及方法,首先利用激光拍频测量模块和频率锁定反馈模块将窄线宽激光器频率锁定至频率梳其中一根梳齿上,测量频率锁定后窄线宽激光器的输出激光频率,然后利用气压计和温湿度计测量当前环境的气压、温度和湿度,计算当前环境空气折射率,根据锁定之后的输出频率和当前环境空气折射率计算窄线宽激光器输出波长,使频率锁定后的激光器入射至被校波长仪器之中,比较频率锁定后的窄线宽激光器输出波长和被校波长测量仪器的波长测量示值,完成被校波长测量仪器的校准。本发明实现了波长校准问题,并引入实时空气折射率,避免空气折射率变化对波长的影响。

    一种瞬态光谱仪采集时间测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN116147767A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211691973.5

    申请日:2022-12-28

    Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域,公开了一种瞬态光谱仪采集时间测量装置及测量方法,包括:信号发生器、系列脉冲激光器、分束器、纳秒探测器被测瞬态光谱仪和示波器;信号发生器生成并输出标准方波信号,标准方波信号分为两路,一路输入至示波器的Ⅰ通道;脉冲激光器输出脉冲激光,分为两束,一束激光经分束器折转之后被纳秒探测器接收,输出电信号输出至示波器的Ⅱ通道;另外一路分束入射至被测瞬态光谱仪,输出电信号输出至示波器的Ⅲ通道;Ⅲ通道的上升沿起始位置相对于Ⅱ通道的上升沿起始位置的时间延迟,即为采集时间。本发明解决了瞬态光谱仪采集时间测量、激光器触发延时时间测量,消除了脉冲激光器的触发出光延迟对采集时间的影响。

    常温点源黑体
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103777659B

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201410001961.4

    申请日:2014-01-01

    Abstract: 本发明公开了一种常温点源黑体,属于光学计量领域。其技术特点是:由半导体制冷片和散热片组成的多个环形驱动器沿轴向安装在多棱柱状黑体腔体的外侧壁上,以实现对常温点源黑体的温度控制;在黑体腔体侧壁上的三个不同的轴向位置上均布置温度传感器,使黑体腔体内部的整体温度能够得到准确控制;在机箱的前后端面分别设置弧形进气口和散热风扇,以便与机箱内的空隙一起构成空气循环通道,从而保证了黑体腔体内部温度的均匀性,并使本发明的发射率达到0.998。本发明很好地解决了外场试验和快速测量场合所需要的高发射率黑体辐射源的问题;同时具有体积小、质量轻、升降温速度快、便于携带的优点。

    宽波段太赫兹源辐射功率校准装置及校准方法

    公开(公告)号:CN104713641A

    公开(公告)日:2015-06-17

    申请号:CN201510133777.X

    申请日:2015-03-25

    Abstract: 本发明提出了一种宽波段太赫兹源辐射功率校准装置及校准方法,可以测试的太赫兹源为光束发散角大于1.732°、光谱范围为(30~3000)μm的太赫兹源。本发明采用标准太赫兹源和待测太赫兹源的辐射参数比对的测量方法,标准太赫兹源或待测太赫兹源的辐射经过太赫兹透射窗口进入低温真空背景通道后,与液氮制冷黑体的背景辐射交替被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号,被卡塞格林系统会聚,经过太赫兹光谱滤光片入射到太赫兹探测器上,转换为周期性变化的电压信号,经过锁相放大器处理得到稳定的测量电压信号;根据由弱标准辐射源或强标准辐射源测量得到的辐射功率修正系数计算得到待测光源的辐射功率,同时还可计算得到待测源的辐射亮度。

    用于四杆靶标扫描的红外辐射计

    公开(公告)号:CN103308185A

    公开(公告)日:2013-09-18

    申请号:CN201310214842.2

    申请日:2013-05-31

    Abstract: 本发明公开了一种用于四杆靶标扫描的红外辐射计,属于红外光学计量与光电检测领域。该红外辐射计在传统红外辐射计的基础上增加了一个单向缩小镜,该单项缩小镜是由焦距之比为1:n的两个柱面镜组构成的望远系统,并将柱面镜组的柱高方向设置为测量光路的弧矢方向,由此可以实现把子午方向的视场缩小n倍,而弧矢方向的视场不变的功能。本发明提供的红外辐射计能够一次成像完成一个高宽比为n:1的靶孔或靶孔间的实体间隙部分的探测,不仅提高了测量效率,还能避免数据拼接导致的标定精度下降的问题。

    菲索干涉型波长计中柱面成像压缩系统的匹配调试方法

    公开(公告)号:CN114942079B

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202210482690.3

    申请日:2022-05-05

    Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域,公开了一种柱面压缩成像系统最佳匹配调试方法,首先匹配柱面镜和线阵CCD,通过观察线阵CCD的输出至示波器的波形,当输出波形接近一条直线且信号的幅值最大时,完成柱面镜和线阵CCD的匹配;然后将柱面镜和线阵CCD作为一个整体与干涉模块进行匹配,通过观察线阵CCD输出至示波器的波形,当输出波形的占空比接近1:1且信号峰谷值最大时,干涉模块与柱面镜线阵CCD整体匹配完成。本发明解决了菲索激光波长计中的柱面压缩成像系统的调式难题,有效保证菲索波长计的波长测量精度。

    电视观瞄系统动态最小可分辨对比度测试装置及方法

    公开(公告)号:CN108844626B

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN201810322863.9

    申请日:2018-04-12

    Abstract: 本发明提出了一种电视观瞄系统动态最小可分辨对比度测试装置及方法。通过控制光源进入积分球的光线锥角实现光源系统输出光强的自动连续可调,克服了由调节电压和光学器件方法带来的目标光学对比度变化范围不能精密连续可调的缺点。采用分立式准直系统,根据被测相机焦距大小匹配离轴抛物面镜,克服集成准直透镜不可更换,匹配性差的缺点。通过将被测系统放置于准直光学系统之中,模拟无穷远低对比度目标,结合动态模拟台产生单轴转动或精密振动,模拟各种运动状态,实现在实验室内电视观瞄系统进行动态最小可分辨对比度测量。当动态模拟台不动时,本发明兼具静态MRC测量功能,方便动态MRC和静态MRC测量结果对比,定量分析由于运动引入的成像质量下降的程度。

    具备自校准功能的太赫兹源发散角测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN109029718B

    公开(公告)日:2020-05-19

    申请号:CN201810589391.3

    申请日:2018-06-08

    Abstract: 本发明提供了一种具备自校准功能的太赫兹源发散角测量装置及方法,采用带有发散角自校准模块的太赫兹探测器转动测量方式,将弧形导轨二维扫描、角规标定和太赫兹发散角标准源校准相结合,实现太赫兹源发散角的测量。该装置由圆弧导轨刻度系统、探测系统、太赫兹发散角标定模块、太赫兹发散角标准源和计算机系统组合组成了太赫兹源发散角测量装置,提高了太赫兹发散角测量准确度。该发散角测量方法相比于源绕探测器旋转的发散角测量方案,避免了三种辐射源互换过程中带来的角度定位误差,提高发散角测量精度。

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