公开(公告)号：CN104713641B

公开(公告)日：2017-01-25

申请号：CN201510133777.X

申请日：2015-03-25

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 杨鸿儒 ,  李宏光 ,  常伟军 ,  腾国奇 ,  汪建刚 ,  张博妮 ,  薛占理 ,  孙宇楠 ,  曹锋 ,  马世帮

IPC: G01J1/16

Abstract: 本发明提出了一种宽波段太赫兹源辐射功率校准装置及校准方法，可以测试的太赫兹源为光束发散角大于1.732°、光谱范围为(30～3000)μm的太赫兹源。本发明采用标准太赫兹源和待测太赫兹源的辐射参数比对的测量方法，标准太赫兹源或待测太赫兹源的辐射经过太赫兹透射窗口进入低温真空背景通道后，与液氮制冷黑体的背景辐射交替被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，被卡塞格林系统会聚，经过太赫兹光谱滤光片入射到太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，经过锁相放大器处理得到稳定的测量电压信号；根据由弱标准辐射源或强标准辐射源测量得到的辐射功率修正系数计算得到待测光源的辐射功率，同时还可计算得到待测源的辐射亮度。

公开(公告)号：CN104713641A

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201510133777.X

申请日：2015-03-25

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 杨鸿儒 ,  李宏光 ,  常伟军 ,  腾国奇 ,  汪建刚 ,  张博妮 ,  薛占理 ,  孙宇楠 ,  曹锋 ,  马世帮

IPC: G01J1/16

Abstract: 本发明提出了一种宽波段太赫兹源辐射功率校准装置及校准方法，可以测试的太赫兹源为光束发散角大于1.732°、光谱范围为(30～3000)μm的太赫兹源。本发明采用标准太赫兹源和待测太赫兹源的辐射参数比对的测量方法，标准太赫兹源或待测太赫兹源的辐射经过太赫兹透射窗口进入低温真空背景通道后，与液氮制冷黑体的背景辐射交替被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，被卡塞格林系统会聚，经过太赫兹光谱滤光片入射到太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，经过锁相放大器处理得到稳定的测量电压信号；根据由弱标准辐射源或强标准辐射源测量得到的辐射功率修正系数计算得到待测光源的辐射功率，同时还可计算得到待测源的辐射亮度。