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公开(公告)号:CN115931121A
公开(公告)日:2023-04-07
申请号:CN202310044658.1
申请日:2023-01-30
Applicant: 西安应用光学研究所
Inventor: 康臻 , 薛媛元 , 孙帅 , 牛静 , 吉晓 , 赵俊成 , 李玲 , 许开銮 , 李颖娟 , 杨科 , 马世帮 , 刘建平 , 卢飞 , 吴磊 , 杨斌 , 陈颖 , 鱼奋岐 , 李辉
Abstract: 本发明公开了一种基于光电二极管的连续微弱激光功率测量装置,结构为:连续激光器发射的连续激光经过斩波器转换为脉冲激光,脉冲激光经过光电二极管转换为脉冲电流信号,脉冲电流信号经过I/V转换电路转换为脉冲电压信号,脉冲电压信号经过隔直电路去除信号中的直流分量,中央处理器控制程控放大电路选择不同的档位将脉冲电压信号放大到适合模/数转换电路采集的电压,最后中央处理器将模/数转换电路采集到的数字信号校准后发送给显示模块进行显示。本发明提高了连续微弱激光功率测量的动态范围和测量不确定度,并且省去了后续使用过程中的“调零”操作。
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公开(公告)号:CN105486489B
公开(公告)日:2018-03-09
申请号:CN201510882364.1
申请日:2015-12-04
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提出一种电视成像系统调制传递函数测试装置及方法,属于光学测量技术领域。其特点是将待测电视成像系统放置于由发光强度可调、空间均匀性高的积分球光源照明的准直光学系统中,准直光学系统的焦面放置狭缝靶标。狭缝靶标经过准直光学系统和待测电视成像光学系统后,成像到电视成像系统的靶面上,图像记录与处理系统对狭缝图像进行一系列计算和处理后,获得狭缝靶标的线扩散函数分布以及MTF值,由此完成电视成像系统MTF的测量。
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公开(公告)号:CN107238486A
公开(公告)日:2017-10-10
申请号:CN201710374856.9
申请日:2017-05-24
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/04
CPC classification number: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种光吸收系数测量装置及方法,属于光学计量领域。本发明利用带有起偏/检偏器和半波片的激光光源、被测样品、移动平台、探测器和装有吸收系数测试程序的计算机搭建测试系统,并利用斜入射的测试方案;激光透过被测样品后会分成多数的反射光和透射光,本发明仅利用其中的第一次透射光展开测量,并针对o光和e光的不同特性分别测量,针对e光折射角不能直接计算的问题,利用迭代算法获得折射角的合理近似值,最终计算得出被测样品的吸收系数或针对o光和e光的不同吸收系数。本发明克服了现有行业标准采用垂直入射方法中光线干涉带来的不确定度问题,对实验条件和实验装置要求较低,实现了大口径、低吸收系数元件光吸收系数的精确测量。
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公开(公告)号:CN107238486B
公开(公告)日:2019-05-03
申请号:CN201710374856.9
申请日:2017-05-24
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/04
Abstract: 本发明公开了一种光吸收系数测量装置及方法,属于光学计量领域。本发明利用带有起偏/检偏器和半波片的激光光源、被测样品、移动平台、探测器和装有吸收系数测试程序的计算机搭建测试系统,并利用斜入射的测试方案;激光透过被测样品后会分成多数的反射光和透射光,本发明仅利用其中的第一次透射光展开测量,并针对o光和e光的不同特性分别测量,针对e光折射角不能直接计算的问题,利用迭代算法获得折射角的合理近似值,最终计算得出被测样品的吸收系数或针对o光和e光的不同吸收系数。本发明克服了现有行业标准采用垂直入射方法中光线干涉带来的不确定度问题,对实验条件和实验装置要求较低,实现了大口径、低吸收系数元件光吸收系数的精确测量。
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公开(公告)号:CN105486489A
公开(公告)日:2016-04-13
申请号:CN201510882364.1
申请日:2015-12-04
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/0292
Abstract: 本发明提出一种电视成像系统调制传递函数测试装置及方法,属于光学测量技术领域。其特点是将待测电视成像系统放置于由发光强度可调、空间均匀性高的积分球光源照明的准直光学系统中,准直光学系统的焦面放置狭缝靶标。狭缝靶标经过准直光学系统和待测电视成像光学系统后,成像到电视成像系统的靶面上,图像记录与处理系统对狭缝图像进行一系列计算和处理后,获得狭缝靶标的线扩散函数分布以及MTF值,由此完成电视成像系统MTF的测量。
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公开(公告)号:CN115164731A
公开(公告)日:2022-10-11
申请号:CN202210718570.9
申请日:2022-06-17
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种入射面自动准直定位系统,待测件即大口径反射镜安装在四轴载物台上,激光光源固定于待测件的前方,探测组件布置在待测件后方,超声波位移传感器与激光光源同侧布置,且和激光光源的距离固定不变,其高度和待测件中心相当,光电自准直仪和超声波位移传感器安装在同一个支架上;超声波位移传感器测量待测件入射面到超声波位移传感器的距离值,光电自准直仪测量待测件入射面和光源光轴的角度偏差值,根据所测得距离值和角度偏差值,调整四轴载物台,使得待测件的入射面与光电自准直仪的光轴垂直。本发明保证了入射角度和位置定位的精度,提高了测量的重复性和复现性,为高精度自动测量提供了技术保障。
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