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公开(公告)号：CN119428200A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411565271.1
申请日：2024-11-04
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
IPC: B60L3/00 , B60L15/20 , B60L3/12 , B60W50/02 , B60W50/029
Abstract: 本发明公开了一种车辆的容错控制方法、装置、存储介质和处理器。其中，该方法包括：获取车辆的逆变器发生故障的故障位置，以及逆变器发生故障前的位置，其中，故障位置至少包括第一故障位置、第二故障位置、第三故障位置和第四故障位置，第一故障位置、第二故障位置、第三故障位置和第四故障位置分别表示不同的故障位置；基于故障位置与开关位置，确定车辆的容错控制策略，其中，容错控制策略用于指示对车辆进行容错控制的规则；按照容错控制策略，对车辆进行容错控制。本发明解决了车辆的容错控制稳定性低的技术问题。
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公开(公告)号：CN119376369A
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202411392909.6
申请日：2024-10-08
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明涉及一种电机控制器及其故障检测方法及电子设备，属于电子技术领域。方法应用于电机控制器中的主控芯片，主控芯片与电机控制器中的待测芯片通过IO通路以及通信通路连接，通信通路为与IO通路不同的通路。方法包括：基于IO通路向待测芯片发送第一信号；接收待测芯片基于通信通路发送的第二信号，其中，第二信号表征第一信号的电平状态；根据第一信号、第二信号，检测主控芯片与待测芯片之间的IO通路是否存在故障。本申请根据主控芯片发送的第一信号以及待测芯片发送的第二信号，对主控芯片与待测芯片之间的IO通路的故障进行检测，确保电机控制器电路的完整性和可靠性，从而提高汽车的驾驶体验和安全性。
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公开(公告)号：CN118589951A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410780305.2
申请日：2024-06-17
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
IPC: H02P29/032 , H02H7/085 , B60L3/00 , B60L15/20
Abstract: 本申请涉及一种电机控制器主动短路控制方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：在电机主动短路控制系统存在外部故障的情况下，获取六路IGBT开关管的开关管温度；在开关管温度不大于温度阈值的情况下，检测电机主动短路控制系统的低压供电是否正常；在低压供电正常的情况下，通过微控制器向驱动单元发送主动短路指令，以指示驱动单元对六路IGBT开关管执行短路。采用本方法能够在主动短路控制过程中进行温度检测和掉电检测，避免了在主动短路过程中功率开关管温度过高引起的器件性能失效问题和低压电源掉电引起的无法判断进入主动短路的问题，提高了安全可靠性。
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公开(公告)号：CN117907826A
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202311778786.5
申请日：2023-12-21
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
IPC: G01R31/34
Abstract: 本申请涉及一种电机测试方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：获取需要向被测电机施加的目标阻尼；根据目标阻尼和被测电机连接的对拖电机的磁通量，确定施加在对拖电机的励磁轴上的目标电流值，以及确定对拖电机相对于被测电机的目标偏转角度；向对拖电机的励磁轴施加目标电流值，并控制被测电机带动对拖电机相对于被测电机转动目标偏转角度，以实现对被测电机进行测试。本申请中采用向对拖电机的励磁轴施加目标电流值的方式，避免了由于机械刹车装置存在磨损，使得提供的阻尼数据不够准确的问题，进而提高了电机测试结果的准确性。
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公开(公告)号：CN119298780A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411277920.8
申请日：2024-09-12
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
IPC: H02P27/08 , H02P25/16 , H02P29/024 , H02P29/032
Abstract: 本申请提供一种电机控制器及具有其的车辆，包括：功率模块，用于连接电机；驱动模块，与所述功率模块连接，用于通过控制所述功率模块来驱动所述电机工作，并在所述功率模块出现上桥臂故障和/或下桥臂故障时改变输出的第一故障信号的状态；控制模块，与所述驱动模块连接，用于通过输出的PWM信号控制所述驱动模块，以及，基于故障信号改变输出的使能信号的状态，其中，所述故障信号包括所述第一故障信号，所述使能信号用于在出现所述上桥臂故障和/或下桥臂故障时使所述驱动模块执行主动短路；硬件逻辑保护模块，与所述驱动模块以及所述控制模块连接，用于基于所述使能信号以及所述故障信号对所述电机控制器以及所述电机进行硬件逻辑的保护。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118432427A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410440086.3
申请日：2024-04-12
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
Abstract: 本申请提供了一种启动电路，包括：输入模块、目标芯片、开关模块、比较模块及至少两个输出模块；输入模块的输入端连接外部输入电压，输入模块的输出端连接目标芯片的第一输入端和第一输出模块的输入端；目标芯片的第一输出端连接开关模块的输入端，目标芯片的第二输出端连接比较模块的同相输入端和开关模块的输出端；开关模块的输出端连接第一输出模块的输入端；比较模块的输出端连接第二输出模块的输入端；第一输出模块的输出端和第二输出模块的输出端均连接外部负载；比较模块配置为根据反馈电压和参考电压的比较结果切换工作状态。本申请通过控制比较模块工作，以使相应的负载接入启动电路，实现负载分阶段切换，提高电路启动稳定性。
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公开(公告)号：CN118282277A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410355789.6
申请日：2024-03-27
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
IPC: H02P23/00 , G05B19/042
Abstract: 本申请涉及一种车用电机控制方法、系统、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取第一时钟的第一校验数据、以及第二时钟的第二校验数据；将第一校验数据发送至第二功能模块，以指示第二功能模块对第一校验数据进行校验，得到第一校验结果；若第一校验结果表征第一时钟异常，则通过第二功能模块将MCU芯片复位；将第二校验数据发送至第一功能模块，以指示第一功能模块对第二校验数据进行校验，得到第二校验结果；若第二校验结果表征第二时钟异常，则通过第一功能模块切断脉宽信号的输出。采用本方法能够避免了由于单一处理器导致的时钟共因失效问题。
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公开(公告)号：CN117318585A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202311294835.8
申请日：2023-10-08
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种驱动电机的控制方法、装置、存储介质和处理器。该方法包括：获取驱动电机两端的电压信号和电流信号；基于电压信号、电流信号和驱动电机的位置信号，将第一脉宽调制信号发送至驱动板，其中，驱动板与驱动电机相连接；响应于驱动板接收到的第一脉宽调制信号为异常信号，基于电压信号、电流信号和驱动电机的位置信号，将第二脉宽调制信号发送至驱动板；响应于驱动板接收到的第二脉宽调制信号为正常信号，控制驱动电机运行。本发明解决了电机控制系统的可靠性较低的技术问题。
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公开(公告)号：CN116633224A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202310728687.X
申请日：2023-06-19
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种车辆中电机的位置信息的确定方法、装置和车辆。其中，车辆中部署有微处理器、励磁放大电路和正余弦信号调理电路，该方法包括：获取微处理器的两路励磁驱动信号，其中，励磁驱动信号为由微处理器中的励磁发生模块触发；基于两路励磁驱动信号，确定励磁放大电路输出的两路励磁差分放大信号；基于两路励磁差分放大信号，确定两路正余弦差分信号，其中，正余弦差分信号为由车辆的电机中双相励磁双相输出型旋转变压器产生；基于两路正余弦差分信号，确定正余弦信号调理电路输出的正余弦差分调理信号；对正余弦差分调理信号进行软解码，得到电机的位置信息。本发明解决了软解码方法的可靠性与安全性低的技术问题。
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公开(公告)号：CN116599866A
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310546064.0
申请日：2023-05-15
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
IPC: H04L43/08 , H04L67/12 , H04L43/50 , H04L43/087 , H04B10/079
Abstract: 本发明公开了一种车载以太网设备的测试方法、装置、车辆及电子装置，涉及车辆技术领域。其中，该方法包括：获取车辆中的待测设备，其中，待测设备包括至少一个以太网网口；确定至少一个以太网网口的网口类型；根据网口类型确定至少一个目标测试设备，其中，不同目标测试设备用于测试待测设备的不同功能；基于目标测试设备对至少一个以太网网口进行测试，得到测试结果，其中，测试结果包括测试参数，测试结果用于表征测试参数是否符合要求。本发明解决了相关技术通过手动切换完成一次性的以太网口物理层参数测试的装置或设备，导致效率较低，准确率较低，耗时较长，成本较高，不易实现的技术问题。
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