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公开(公告)号：CN114720833A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210162470.2
申请日：2022-02-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种微流体散热模块测试装置，其特征在于，微流体散热模块测试装置包括：底座，底座用于放置待测样品，底座包括通液装置，通液装置用于向待测样品引导循环冷却液；盖板，盖板盖设在底座上，盖板设有测温区，测温区用于检测待测样品温度；加电装置，加电装置设置在盖板上，加电装置用于与待测样品电连接。通过通液装置向待测样品引导循环冷却液，加电装置设置在盖板上，通过加电装置向待测样品通电，使其达到工作状态，通过盖板的测温区测试样品的温度，该微流体散热模块测试装置结构简单、操作性强，提高了测试效率，同一个测试装置可重复使用，对多个待测样品进行散热能力测试，不损伤待测样品，降低了测试成本。
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公开(公告)号：CN114639647A
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN202210070196.6
申请日：2022-01-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H01L23/473
Abstract: 本发明涉及一种微流道散热结构和微电子芯片结构。本发明的微流道散热结构包括：衬底；多个相互独立的散热通道，各散热通道均位于衬底内。通过设置在衬底内的多个相互独立的散热通道，多个散热通道的设置可以将热源温度控制在较低的水平，能够有效提升器件的散热能力，减少热量的堆积，且本发明中的微流道散热结构在帮助器件提高散热能力的同时，还可以降低微流道散热结构自身的进出口之间的压降，使散热时压降较大的问题得到改善，从而避免温度过高而使器件损毁的问题发生。
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公开(公告)号：CN114034524A
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202111226491.8
申请日：2021-10-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开一种样气采样装置及气密封元器件内部气氛分析设备。样气采样装置包括上压块和下压块，上压块设有进气通道，下压块设有用于储存样气的样气腔，下压块与上压块连接，进气通道与样气腔连通，样气腔的体积大小可调；或上压块设有用于与下压块可拆卸连接的连接部，当上压块通过连接部与下压块连接时，进气通道与样气腔连通。气密封元器件内部气氛分析设备包括该样气采样装置。使用样气采样装置进行气体采样时，将下压块与上压块连接以使进气通道与样气腔连通，标准样气通过进气通道进入样气腔内部以使样气腔中储存一定体积的标准样气，气密封元器件内部气氛分析设备的取样装置伸入样气腔，即可获取一定体积的标准样气进行下一步的校准。
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公开(公告)号：CN113624565A
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN202110919009.2
申请日：2021-08-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及微量气氛取样检测装置及微量气氛取样检测方法，微量气氛取样检测装置，包括中空的检测腔体以及真空系统，检测腔体与真空系统连通，检测腔体内设置有测试装置、样品固定装置以及质谱仪，测试装置与样品固定装置对应设置，样品固定装置用于固定设置样品，测试装置能够破坏样品的气密封，质谱仪对样品逸出的气氛进行分析。通过将内部气氛取样和检测分析结构设置在同一个腔体中，相比现有技术不再需要设置具有空间死角的结构，避免了其对样品内部气氛扩散的不利影响，即使样品内的气氛气体很少，其也能够在检测腔体中充分扩散，使质谱仪能够获取并加以测试分析，本发明的微量气氛取样检测装置具有检测灵敏度高、分析检测限低的特点。
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公开(公告)号：CN113514492A
公开(公告)日：2021-10-19
申请号：CN202110616270.5
申请日：2021-06-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开涉及一种测量界面热阻的方法和装置。包括：获取第一材料和第二材料的本征热阻、测量端和所述第一材料的接触热阻、所述测量端和所述第二材料的接触热阻，所述测量端包括热端和冷端；获取第一热阻和第二热阻；根据所述本征热阻、所述接触热阻、所述第一热阻和所述第二热阻，确定第一材料和第二材料之间的界面热阻。本公开测量结果准确可靠，并且，可以不需要在材料的内部开孔，不影响材料本身的性能；热电偶和热流计的均可安装于统一位置，如测量端，不会因测量材料的不同而改变位置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110456264A
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201910758640.1
申请日：2019-08-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/327 , G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种大功率器件功率循环试验结温监测方法、装置和系统。所述方法包括：基于预设测试参数控制电源设备给待测器件上电时，采用瞬态结温监测模型处理壳温和功率损耗得到第一类结温；在监测到上电后的待测器件运行稳定时，采用大电流温敏参数模型处理导通电流值和导通电压值得到第二类结温；在监测到升温时长计时结束、且待测器件的结温的增加值达到预设值时，采用小电流温敏参数模型处理导通电压变化量得到第三类结温；在监测到降温时长计时结束、且待测器件的结温的降低值达到预设值时，对测试次数累加一次，直至测试次数达到预设次数或待测器件失效，从而实现从上电到下电降温对待测器件的结温进行全过程实时监测。
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公开(公告)号：CN117148027B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311424364.8
申请日：2023-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种电迁移测试装置，包括金属连接体、样品及电流表。样品的背面与金属连接体连接，正面与电源的负极电性连接，金属连接体与电源的正极电性连接。将电迁移测试装置放置于高温箱中，同时施加电压，使得金属连接体中的金属离子在电势以及温度的共同作用下发生迁移，即从样品的背面向样品的正面迁移。由于电流表串联于金属连接体、样品、正极以及负极连接形成的电路中，这样电流表能够检测漏电流，当漏电流达到预设值时，表示样品失效，此时失效时间为该条件下样品的电迁移寿命，以此来评估电迁移的情况。该电迁移测试装置更贴合于实际工况下的金属连接体中的金属离子电迁移
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公开(公告)号：CN117434212A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311218727.2
申请日：2023-09-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N33/00
Abstract: 本申请涉及一种圆片级真空封装器件内部材料的放气特性确定方法和装置。所述方法包括：获取目标气压；其中，目标气压为试验样品内部的气压，试验样品为圆片级真空封装的微机电系统MEMS器件；在试验样品放置于试验设备，且将试验设备中的气压为目标气压的情况下，通过对试验设备中的温度进行调节，获取试验样品在各试验温度下的目标特征参数；根据试验样品在各试验温度下的目标特征参数，确定试验样品的内部材料的放气特性。采用本方法能够精准确定圆片级真空封装器件内部材料的放气特性。
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公开(公告)号：CN117421864A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311244110.8
申请日：2023-09-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F30/17 , G06F119/14 , G06F119/06 , G06F119/08 , G06F111/04
Abstract: 本申请涉及一种工艺确定方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及人工智能技术领域。所述方法包括：确定待分析器件在初始状态下的初始谐振频率和初始品质因子；根据至少一种候选工艺对待分析器件进行封装处理，得到至少一个候选封装状态下的待分析器件，并确定待分析器件在各候选封装状态下的候选谐振频率和候选品质因子；根据待分析器件在初始状态下的初始谐振频率和初始品质因子，以及待分析器件在各候选封装状态下的候选谐振频率和候选品质因子，从各候选工艺中确定待分析器件对应的目标工艺。本申请能够准确的从候选工艺中确定目标工艺，保证了在根据目标工艺对待分析器件进行封装处理后，对待分析器件的品质因子影响最小。
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公开(公告)号：CN114324548B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202111657715.0
申请日：2021-12-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N27/62
Abstract: 本发明公开一种内部气氛含量测试装置及测试方法，内部气氛含量测试装置包括真空腔室、质谱仪以及电离源，真空腔室作为气体电离的腔体，气体进样装置向真空腔室的测试腔内输入待检测气体，设于测试腔内的电离源将待检测气体电离形成离子束，离子束在电离源的驱动下进入质谱仪以检测分析气体成分和含量。测试方法是用于该内部气氛含量测试装置的测试方法。使用该内部气氛含量测试装置对小腔体气密封器件的进行部气氛测试，可以在测试腔内营造高真空环境对微量气体进行气体成分及含量的测试，气体在测试腔内直接扩散而不存在流导差异，即不存在传统内部气氛检测仪的毛细管质量歧视效应，提高了对小腔体气密封器件进行内部气氛测试时的测试准确度。
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